The computer analysis shape of reflexes XRD on the basis of X2CrNiMoN25-7-4 steel

• Autorzy: Szabracki P. , Bramowicz M. , Lipiński T.

Warianty tytułu

PL

Komputerowa analiza kształtu refleksów XRD na przykładzie stali X2CrNiMoN25-7-4

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

This paper was introduced the author's program to the analysis of the shape of XRD reflexes. The analysis was subjected results fittings of numerical models to data got during measurements. The method of the smallest squares of mistakes was used in the analysis of the fitting. The written application lets describe peak using one from popular functions. Parameters of the diffractive reflex appointed with the program let determine lattice parameters, volumetric phase participation and determine the quantity of crystallites and network distortions.

PL

W artykule przedstawiono autorski program do analizy kształtu refleksów XRD. Przeanalizowano wyniki dopasowania modeli numerycznych do wyników uzyskanych podczas pomiarów rzeczywistych. W analizie dopasowania wykorzystano metodę najmniejszych kwadratów błędów. Aplikacja pozwoliła opisać pik za pomocą jednej z dostępnych funkcji. Wyznaczone za pomocą programu parametry refleksu dyfrakcyjnego pozwalają na określenie parametrów sieciowych, objętościowych udziałów fazowych oraz wyznaczenie wielkości krystalitów i zniekształceń sieciowych.

Słowa kluczowe

EN

XRD diffractometry; XRD; Pearson VII; Gauss; Cauchy

PL

dyfrakcja rentgenowska; XRD; Pearson VII; Gauss; Cauchy Augustyn Luis

• Wydawca: Wydawnictwo Uniwersytetu Warmińsko-Mazurskiego w Olsztynie
• Czasopismo: Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn
• Rocznik: 2010
• Tom: nr 13
• Strony: 266--281
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Szabracki P.

autor

Bramowicz M.

autor

Lipiński T.

• Department of Materials and Machines Technology, University of Warmia and Mazury in Olsztyn,

Bibliografia

• Bojarski Z., Łągiewka E. 1988. Rentgenowska analiza strukturalna. Państwowe Wydawnictwa Naukowe, Warszawa.
• Bojarski Z., Bołd T. 1970. Rentgenograficzne metody wyznaczania wielkości zniekształceń sieciowych i wielkości bloków materiałów polikrystalicznych. Prace Instytutów Hutniczych, 3: 115.
• BORLAND SOFTWARE CORPORATION. Licencja produktu Borland Delphi 7 Personal.Cullity B.D. 1964. Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich. Państwowe Wydawnictwa Naukowe, Warszawa.
• http://www.borland.pl/licencje_produktowe/Delphi_7_Personal_licencj_pl.pdf
• Ignatczyk W., Chromińska M. 1999. Statystyka teoria i zastosowanie. Wydawnictwo Wyższej Szkoły Bankowej, Poznań.
• Oleszak D., Olszyna A. 2004. Określanie wielkości krystalitów i odkształceń sieciowych w nanokompozycie NiAl-Al2O3 na podstawie poszerzenia rentgenowskich linii dyfrakcyjnych. KOMPOZYTY (COMPOSITES), 4: 11.
• Senczyk D. 1995. Dyfraktometria rentgenowska w badaniach stanów naprężenia i własności sprężystych materiałów polikrystalicznych. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej. Poznań.
• Taylor J.R. 1999. Wstęp do analizy błędu pomiarowego. Państwowe Wydawnictwa Naukowe, Warszawa.