Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Komputerowa analiza kształtu refleksów XRD na przykładzie stali X2CrNiMoN25-7-4
Języki publikacji
Abstrakty
This paper was introduced the author's program to the analysis of the shape of XRD reflexes. The analysis was subjected results fittings of numerical models to data got during measurements. The method of the smallest squares of mistakes was used in the analysis of the fitting. The written application lets describe peak using one from popular functions. Parameters of the diffractive reflex appointed with the program let determine lattice parameters, volumetric phase participation and determine the quantity of crystallites and network distortions.
W artykule przedstawiono autorski program do analizy kształtu refleksów XRD. Przeanalizowano wyniki dopasowania modeli numerycznych do wyników uzyskanych podczas pomiarów rzeczywistych. W analizie dopasowania wykorzystano metodę najmniejszych kwadratów błędów. Aplikacja pozwoliła opisać pik za pomocą jednej z dostępnych funkcji. Wyznaczone za pomocą programu parametry refleksu dyfrakcyjnego pozwalają na określenie parametrów sieciowych, objętościowych udziałów fazowych oraz wyznaczenie wielkości krystalitów i zniekształceń sieciowych.
Rocznik
Tom
Strony
266--281
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz., rys., tab., wykr.
Twórcy
autor
autor
autor
- Department of Materials and Machines Technology, University of Warmia and Mazury in Olsztyn, pawel.szabracki@uwm.edu.pl
Bibliografia
- Bojarski Z., Łągiewka E. 1988. Rentgenowska analiza strukturalna. Państwowe Wydawnictwa Naukowe, Warszawa.
- Bojarski Z., Bołd T. 1970. Rentgenograficzne metody wyznaczania wielkości zniekształceń sieciowych i wielkości bloków materiałów polikrystalicznych. Prace Instytutów Hutniczych, 3: 115.
- BORLAND SOFTWARE CORPORATION. Licencja produktu Borland Delphi 7 Personal.Cullity B.D. 1964. Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich. Państwowe Wydawnictwa Naukowe, Warszawa.
- http://www.borland.pl/licencje_produktowe/Delphi_7_Personal_licencj_pl.pdf
- Ignatczyk W., Chromińska M. 1999. Statystyka teoria i zastosowanie. Wydawnictwo Wyższej Szkoły Bankowej, Poznań.
- Oleszak D., Olszyna A. 2004. Określanie wielkości krystalitów i odkształceń sieciowych w nanokompozycie NiAl-Al2O3 na podstawie poszerzenia rentgenowskich linii dyfrakcyjnych. KOMPOZYTY (COMPOSITES), 4: 11.
- Senczyk D. 1995. Dyfraktometria rentgenowska w badaniach stanów naprężenia i własności sprężystych materiałów polikrystalicznych. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej. Poznań.
- Taylor J.R. 1999. Wstęp do analizy błędu pomiarowego. Państwowe Wydawnictwa Naukowe, Warszawa.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BAR0-0056-0040