Pomiary charakterystyk szumowych jako narzędzie diagnostyczne detektorów UV

• Autorzy: Ćwirko J. , Ćwirko R.

Warianty tytułu

EN

Noise characteristic measurement as a tool for UV detectors diagnostic

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono zastosowanie analizy niskoczęstotliwościowych charakterystyk szumowych do diagnostyki detektorów UV. Ze względu na zakres widmowy detektory UV są wykonywane z materiałów o szerokiej przerwie zabronionej, głównie z GaN, AlN, SiC. Detektory UV są głównie stosowane w automatyce przemysłowej, robotyce, medycynie, systemach ochrony środowiska i technologiach militarnych. Charakterystyki szumowe detektorów były mierzone w szerokim zakresie temperatury (80 K - 350 K) oraz w funkcji napięcia polaryzacji. Analiza charakterystyk szumowych umożliwia wybranie optymalnego punktu pracy detektora ze względu na stosunek sygnału użytecznego do szumu oraz pozwala prognozować jego niezawodność.

EN

The work is aimed on analyze the low frequency noise characteristics of UV detectors. UV detectors are manufactured from wide band gap materials as GaN, AlGaN, SiC. The most important fields of UV detectors applications are industrial automation, robotics, space technology, medicine, military technology and solar ultraviolet measurements. The noise characteristics of UV detectors were measurement in wide temperature range (from 80 K to 350 K) and as function of polarization. The investigation results should be allowed to optimize the UV detection system providing maximal value of signal-to-noise ratio, selection of the optimal working point and estimate reliability of detectors UV.

Słowa kluczowe

PL

detektor UV; GaN; AlGaN; szumy niskoczęstotliwościowe

EN

UV detectors; GaN; AlGaN; low-frequency noise

• Wydawca: Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej
• Czasopismo: Diagnostyka
• Rocznik: 2006
• Tom: nr 4(40)
• Strony: 199--202
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys.

Twórcy

autor

Ćwirko J.

autor

Ćwirko R.

• Instytut Systemów Elektronicznych, Wydział Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej, 00-908 Warszawa, ul. Kaliskiego 2,

Bibliografia

• [1] Rieke G. H.: Detection of Light: From Ultraviolet to the Submillimeter, (Cambridge: Cambridge University Press), 1994.
• [2] Bielecki Z., Rogalski A.. Detekcja sygnałów optycznych. WNT, Warszawa 2001.
• [3] Pikhtin A.N., Tarasov S.A., Orlova T.A., Kloth B.: Selective and broadband GaP UV photodetectors. IWRFRI’2000, St. Petersburg, May 29-31, 2000.
• [4] Dobrzański L.: Detektor promieniowania ultrafioletowego z azotku galu. II konferencja Optoelektronika 2003 Komunikaty s. 45-48.
• [5] Ćwirko J.: “The Low Frequency Noise Spectroscopy Method for Extracting the Parameters of Deep Level Centers in Semiconductor Materials”. Proceeding of SPIE, 2002, Volume 5136, pp 133 – 138.
• [6] Zaklikiewicz A. M.: Źródła szumów w przyrządach półprzewodnikowych i ich wykorzystanie. Prace Instytutu Technologii Elektronowe, Warszawa, Zeszyt 2, 1995.