Recent advances on 1D-2D magnetic sensors: contribution of nanocrystalline materials in MI sensors

• Autorzy: Alves F.

Warianty tytułu

PL

Zastosowanie materiałów nanokrystalicznych w budowie czujników magnetoimpedancyjnych

• Konferencja: 8th International Workshop on 1&2-Dimensional Magnetic Measurement and Testing, Ghent, Belgium, 27-28 September 2004
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

This paper deals with an overview of recent developments in magnetic sensors. In particular, the use of nanocrystalline materials in sandwiched Ml structures is addressed. Performances in terms of sensitivity, measurable field range, hysteresis are described.

PL

Artykuł przedstawia przegląd nowych czujników pola magnetycznego. Szczególne miejsce poświęcono materiałom Ml nanokrystalicznym o strukturze warstwowej. Analizowano czułość, zakres mierzonych pól magnetycznych, histerezę. Ostatnie osiągnięcia w dziedzinie czujników pola magnetycznego 1D i2D.

Słowa kluczowe

EN

magnetoimpedance; magnetic field; sensor; nanocrystalline materials

PL

magnetoimpedancja; czujnik; pole magnetyczne; materiał nanokrystaliczny

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2005
• Tom: R. 81, nr 5
• Strony: 35--39
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys.

Twórcy

autor

Alves F.

• SATIE (ENS-Cachan / CNRS UMR 8029) 61, Av. Pdt Wilson 94235 Cachan cedex, France

Bibliografia

• [1] S. Tumanski, Magnetovision McGraw Hill 2000 Yearbook of science and Technology, 242-244, 1999.
• [2] System called Magscan developed by Redcliffe Magtronics Company.
• [3] French workshop, unpublished data.
• [4] B. Hernando, P. Gorría, V.M. Prida, M.L. Sánchez, G.V. Kurlyandskaya, Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology, “Magnetoimpedance in Nanocrystalline Alloys” in print (2003).
• [5] T. Lucinski, et al. J. Magn. Magn. Mater. 239 (2002) 138
• [6] M. Urbaniak, et al. J. Magn. Magn. Mater. 239 (2002) 288
• [7] B. Szymański, et al. Czech J. Phys. 52 (2002) 235
• [8] M. Urbaniak, et al. Phys. Stat. Sol. A 186 (2001) 423
• [9] J.-B. Yoon et al., Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 37, 1998 p 7081-7085
• [10] M. Saidani et al., J. Micromech. Microeng. 12 (2002) 470-474