Makroskopowy model mikroskopu sił atomowych w zaawansowanej pracowni fizycznej

• Autorzy: Greczyło T. , Dębowska E.

Warianty tytułu

EN

The macroscopic model of atomic force microscope at students' laboratory

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł opisuje makroskopowy model mikroskopu sił atomowych do zastosowań dydaktycznych oraz zaawansowane doświadczenie studenckie realizowane w II pracowni fizycznej Instytutu Fizyki Doświadczalnej Uniwersytetu Wrocławskiego. Autorzy prezentują stanowisko doświadczalne oraz ilustrują przykładowymi wynikami eksperymentalnymi jego działanie. Dyskutowane są także wady i zalety urządzenia.

EN

This paper presents a macroscopic model of an atomic force microscope. The tool is designed for an advanced physics experiment to be carried out in Physics Laboratory II at the Institute of Experimental Physics, Wrocław University. The authors discuss the process of setting up the experiment and the results of measurements of the model's characteristics. The image of model surface topography realized with the apparatus is also presented. Advantages and disadvantages of the apparatus are discussed along with descriptions of possible future uses.

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia sił atomowych; pracownia fizyczna

EN

atomic force microscopy (AFM); physics laboratory

• Wydawca: Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Aparatury Badawczej i Dydaktycznej, COBRABiD sp. z.o.o
• Czasopismo: Aparatura Badawcza i Dydaktyczna
• Rocznik: 2007
• Tom: T. 12, nr 2-3
• Strony: 73--84
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Greczyło T.

autor

Dębowska E.

• Instytut Fizyki Doświadczalnej, Uniwersytet Wrocławski

Bibliografia

• [1] G. Binning, C. F. Quate, Ch. Geber: Atomic Force Microscope, Phys. Rev. Let., vol. 56, no. 9, 930-933 (1986).
• [2] G. Binnig, H. Rohrer. Scanning Tunneling Microscopy - From Birth to Adolescence, Rev. Mod. Phys. vol. 59, no. 3, part I, (1987).
• [3] P.E. Marszałek: Chemiczna identyfikacja pojedynczych makromolekuł za pomocą mikroskopii sił atomowych, Postępy fizyki, tom 53D, 176-179 (2002).
• [4] F.R. Zypman, C. Guerra-Vela: The microscopic scanning force microscope, Eur. J. Phys. 22, 17-30, (2001).
• [5] M. Kwiek, A. Śliwiński, E. Hojan: Akustyka laboratoryjna, część II, Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa-Poznań (1971).
• [6] Z. Kleszczewski: Podstawy akustyki, Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, Bielsko-Biała (1995).
• [7] D. Sarid: Scanning Force Microscopy, Oxford University Press, New York (1994)
• [8] C. Guerra-Vela, F.R. Zypman: The poor man's scanning force microscope, Eur. J. Phys. 23, 145-153, (2002).
• [9] F.J. Giessibl: A direct method to calculate tip-sample forces from frequency shift in frequency-modulation atomic force microscopy, App. Phys. Lett. vol. 78, no. 1, 123-125, (2001).
• [10] Wyrażanie niepewności pomiarowych: Przewodnik, Główny Urząd Miar, Warszawa 1999.