PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
Tytuł artykułu

Osadzanie cienkich warstw z hydroksyapatytu metodą laserowej ablacji

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Deposition of hydroxyapatite thin films using laser ablation method
Języki publikacji
PL EN
Abstrakty
PL
Nowoczesne technologie laserowe, w tym metoda osadzania warstw metodą laserowej ablacji (pulsed laser deposition - PLD), są coraz szerzej wykorzystywane we współczesnej technice [1]. Pełne opanowanie technologii osadzania warstw wymaga lepszego zrozumienia zjawisk fizycznych zachodzących podczas procesów absorpcji promieniowania laserowego i ablacji osadzanych materiałów. W prezentowanej pracy przedstawiony zostanie wpływ warunków procesu, takich jak: długość fali i fluencja promieniowania laserowego, częstotliwość pracy lasera, temperatura podkładu, typ materiałów podłoża, skład atmosfery reaktywnej i grubość nanoszonych warstw na ich właściwości fizyczne. Prezentowane wyniki bazują na badaniach osadzania warstw hydroksyapatytu (HA) Ca10(PO4)6(OH)2 z wykorzystaniem lasera ekscymerowego LPX305 firmy Lambda Physics. Diagnostyka warstw została wykonana za pomocą mikroskopu sił atomowych (AFM).
EN
Modern laser technologies, including layers deposition method by pulsed laser beam (pulsed laser deposition) (PLD) are widely applied [1]. For full control of deposition technology, better knowledge of physical conditions during absorption of laser radiation and ablation of analysed materials is needed. This paper presents influence of process conditions like wavelength and fluence of laser beam radiation, laser repetition rate, substrate temperature, target material type, reactive atmosphere composition and thickness of deposited layers, on their physical properties. The presented results are obtained during examination of hydroxyapatite (HA) Ca10(PO4)6(0H)2 layers, deposited by LPX305 excimer laser of Lambda Physics. A surface topography was measured by atomic force microscope (AFM).
Rocznik
Strony
117--119
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz.
Twórcy
autor
  • Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, 01-489 Warszawa, ul. Kaliskiego 2
autor
  • Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej, PAN, 30-059 Kraków, ul. Reymonta 25
autor
  • Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej, PAN, 30-059 Kraków, ul. Reymonta 25
autor
  • Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, 01-489 Warszawa, ul. Kaliskiego 2
  • Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, 02-507 Warszawa, ul. Wołoska 141
Bibliografia
  • [1] Applied Physics A: Material Sciences & Processing, vol. 70 No. 4-6 (2004), (Proceedings of 7th COLA, Greece, 2003).
  • [2] W. Mróz, "Physics of growth of thin films deposited by laser ablation", Solid State Phenomena vol. 101-102 (2005), pp. 187- 196.
  • [3] R. Major, W. Mróz, T. Wierzchoń, J.M. Lackner, W. Waldhauser, J. Bonarski, K. Haberko, A. Pawłowski, "Texture and microstructure of HAp thin layers on Ti6Al4V", Proceedings of Symposium on Texture and Microstructure Analysis of Functionally Graded Materials, Kraków, Poland, 2004.
  • [4] M. Jedyński, Z. Szymański, W. Mróz, A. Prokopiuk, M. Jelinek, T. Kocourek, "Spectroscopic measurements of plasma plume induced during the laser deposition of the hydroxyapatite", Czechoslovak Journal of Physics, Vol. 54 (2004), Suppl. C, C397-402.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-AGH3-0003-0052
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.