PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Warstwy dwutlenku tytanu nakładane metodą CVD wspomaganą plazmowo do zastosowań fotokatalitycznych

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Plasma enhanced CVD deposition of titanium dioxide films for photocatalytic applications
Języki publikacji
PL EN
Abstrakty
PL
Chemiczne osadzanie z fazy gazowej w wysokiej częstotliwości zostało wykorzystane do syntezy cienkich warstw dwutlenku tytanu. Warstwami tymi powlekano podłoża szklane i krzemowe. Jako związek wyjściowy użyto chlorek tytanu IV, a proces nakładanie przebiegał w obecności tlenu. Aktywność fotokatalityczną warstw zbadano pod kątem ich właściwości bakteriobójczych. Do badań bakteriobójczych został użyty szczep bakterii Escherichia Coli K12 i promieniowanie UV. Właściwości optyczne wyznaczono spektrofotometrycznie, natomiast strukturę chemiczną przy użyciu spektroskopii FTIR. W niniejszej pracy przedstawiono wpływ zastosowanej mocy wysokiej częstotliwości na właściwości optyczne, strukturalne i bakteriobójcze.
EN
TiO2 thin films were synthesized using Radio Freqency Chemical Vapour Deposition process (RF PECVD). The films were deposited on glass and silicon substrate. Titanium tertrachloride derivatives have been used as precursor compounds, and the processes have been carried out in the presence of oxygen. The photocatalytics activity of the formed layers was studied by means of their antibacterial property. Bactericidal properties of the coatings were studied using cultures of K12 strain of Esterichia coli and the UV irradiation. Optical properties of the films have been examined by means of UV-VIS investigations. Chemical structure was investigated using FTIR spectroscopy. An effect of an RF power of the discharge on the optical, structural and the bactericidal properties of the films was investigated in this work.
Rocznik
Strony
32--36
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz.
Twórcy
  • Instytut Inżynierii Materiałowej, Politechnika Łódzka, ul. Stefanowskiego 1, 90-924, Lodz, Polska
autor
  • Instytut Inżynierii Materiałowej, Politechnika Łódzka, ul. Stefanowskiego 1, 90-924, Lodz, Polska
  • Instytut Inżynierii Materiałowej, Politechnika Łódzka, ul. Stefanowskiego 1, 90-924, Lodz, Polska
  • Instytut Inżynierii Materiałowej, Politechnika Łódzka, ul. Stefanowskiego 1, 90-924, Lodz, Polska
Bibliografia
  • [1] O.J. Jung, S.H. Kim, K.H. Cheong, W. Li, S.J. Saha: Bull. Korean Chem. Soc., 24, (2003), 49.
  • [2] P. Amézaga-Madrid, G.U. Nevárez-Moorillon, E. Orrantia-Borunda, M. Miki - Yoshida: FEMS Microbiol. Lett., 211, (2002), 183.
  • [3] J.A. Ibáòez, M.J. Litter, R.A. Pizarro: J. Photochem. Photobiol. A: Chem., 15, (2003), 81.
  • [4] M.M. Kosaniæ: J. J. Photochem. Photobiol. A: Chem., 119, (1998), 119.
  • [5] A. Fujishima, T.N Rao, D.A. Tryk: Electrochim. Acta, 45, (2000), 4683.
  • [6] C.C. Trapalis, P. Keivanidis, G. Kordas, M. Zaharescu, M. Crisan, A. Szatvanyi, M. Gartner: Thin Solid Films, 433, (2003), 186.
  • [7] M. Xu, N. Huang, Z. Xiao, Z. Lu: Supramol. Sci., 5,(1998), 449.
  • [8] M. Xu, J. Ma, J. Gu, Z. Lu: Supramol. Sci, 5,(1998), 511.
  • [9] H. Selhofor: Vacuum and thin films, August (1999) 15.
  • [10] L. Martinu, M. Latréche, W. Hajek, J. E. Sapieha, A. Argoitia, W.T.Beauchamp: SVC 43 rd Annual Technical Conference Proceedings, Denver, April 15-20, (2000), 177.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-AGH3-0001-0008
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.