Grain size and grain size distribution of ZrO2:Pr ceramic nanopowders determined by different methods

• Autorzy: Opalińska A. , Pielaszek R. , Łojkowski W. , Leonelli C. , Matysiak H. , Wejrzanowski T. , Kurzydłowski K. J.

Warianty tytułu

PL

Wielkość ziarna i rozkład wielkości ziaren ceramicznych nanoproszków ZrO2:Pr oznaczone za pomocą różnych metod

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The aim was to compare size readings for the same ceramic nanopowders as reported by different characterization methods. Capabilities of TEM, XRD and BET characterization techniques, such as size vs. size distribution output, crystalline phase resolution, ability of error estimation of the size as well as dispersion of size readings are briefly described.

PL

Celem prezentowanej pracy było porównanie odczytów wielkości cząstek dla takich samych nanoproszków ceramicznych otrzymanych za pomocą różnych metod charakteryzujących tę cechę. Zwięźle opisano możliwości technik charakteryzujących takich jak TEM, XRD i BET w odniesieniu do pomiaru wielkości i uzyskiwanego rozkładu wielkości ziaren, rozdzielania faz krystalicznych, zdolności oceny błędu oznaczenia wielkości ziarna i rozrzutu jej odczytów.

Słowa kluczowe

EN

hydrothermal synthesis; ZrO2; nanopowders; grain size distribution; TEM; XRD

PL

synteza hydrotermalna; ZrO2; nanoproszki; rozkład wielkości ziaren; TEM; XRD

• Wydawca: Polskie Towarzystwo Ceramiczne
• Czasopismo: Materiały Ceramiczne
• Rocznik: 2010
• Tom: T. 62, nr 4
• Strony: 550--555
• Opis fizyczny: Bibliogr. 19 poz., rys., wykr., tab.

Twórcy

autor

Opalińska A.

autor

Pielaszek R.

autor

Łojkowski W.

autor

Leonelli C.

autor

Matysiak H.

autor

Wejrzanowski T.

autor

Kurzydłowski K. J.

• Polish Academy of Science, Institute of High Pressure Physics, Sokołowska 29, 01-142 Warszawa, Poland,

Bibliografia

• 1. Bucko M., Haberko K.: J. Am. Ceram. Soc., 78, (1995), 3397-400.
• 2. Pyda W., Haberko K., Bucko M.: J. Am. Ceram. Soc., 74, (1991), 2622-2629.
• 3. Simeone D., Baldinozzi G., Gosset D., Dutheil M., Bulou A., Hansen T.: Phys. Rev. B., 67, (2003), 064111.
• 4. Lanteri V., Mitchell T.E., Heuer A.H.: J. Am. Ceram. Soc., 69, (1986), 564-569.
• 5. Lojkowski W., Daniszewska A., Chmielecka M., Pielaszek R., Fedyk R., Opalińska A.: Nanometrology Report, http//www.nanoforum.org/
• 6. Hegarty M.E.S., O’Connor A.M., Ross J.R.H.: Catal. Today, 42, (1998), 225-232.
• 7. Badwall S.P.S., Foger K.: Ceram. Int., 22, (1996), 257-265.
• 8. Xin G., Run-Zhang Y.: Solid State Ionic, 80, (1995), 159-166.
• 9. Tavakkoli M.H., Wilke M.: J. Cryst. Growth, 275, (2005), 85-89.
• 10. Masahiro Y., Shiegeyuki S.: Mater. Chem. Phys., 61, (1999) 1.
• 11. Karch J., Birringer R., Gleiter H.: Nature, 330, (1987), 556.
• 12. Opalinska A, Hreniak D., Strek W., Presz A.,. Grzanka E, Palosz B., Lojkowski W.: Solid State Phen., 94, (2003), 141-144.
• 13. Millers D., Grigorjeva L., Opalinska A., Lojkowski W.: Solid State Phen., 94, (2003), 135-140.
• 14. Pielaszek R.: Applied Crystallography – Proceedings of the XIX Conference, World Scientific Publishing, London-Singapore.
• 15. Pielaszek R.: „Dyfrakcyjne Badania Mikrostruktury Polikrysztalow Nanometrowych Poddawanych Dzialaniu Wysokiego Cisnienia”, PhD Thesis, Warsaw University, Department of Physics, 2003.
• 16. Pielaszek R., Lojkowski W., Gierlotka S., Doyle S.: Solid State Phen., 114, (2006), 313-320.
• 17. Wejrzanowski T.: „Computer Assisted Analysis of Gradient Materials Microstructure”, Master Thesis, Warsaw University of Technology, 2000.
• 18. Zachariasen W.H.: Theory of X-Ray Diffraction in Crystals, John Wiley & Sons, New York, 1945.
• 19. Strachowski T., Grzanka E., Palosz B., Presz A., Slusarski L., Lojkowski W.: Solid State Phen., 94 (2003), 189-192.