Diffuse phase transition of polycrystalline (Ba0.9Sr0.1)TiO3

• Autorzy: Kajtoch C. , Gabryś M. , Bąk W. , Starzyk F.

Warianty tytułu

EN

Rozmyta przemiana fazowa polikryształu (Ba0.9Sr0.1)TiO3

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono wyniki pomiarów rentgenowskich (XRD) i dielektrycznych dla polikrystalicznego (Ba0,9Sr0,1)TiO3 (BS10T). Wyniki pomiarów pokazują obecność, w temperaturze 373 K, rozmytej przemiany fazowej (DPT) pomiędzy strukturą regularną i tetragonalną. Temperatura maksimum rzeczywistej składowej przenikalności elektrycznej (ε') nie zależy od częstotliwości elektrycznego pola pomiarowego. Kąt fazowy, Φ ≈-90°, między prądem a przyłożonym napięciem elektrycznym sugeruje występowanie obszarów polarnych (klasterów) poniżej 400 K, tj. w obszarze temperaturowym DPT i w fazie paraelektrycznej.

EN

The results of X-ray diffraction (XRD) and dielectric measurements performed for polycrystalline (Ba0.9Sr0.1)TiO3 (BS10T) are presented. Data from these measurements show a presence of diffuse phase transition (DPT) between cubic and tetragonal structure at a temperature of 373 K. The temperature Tm of the maximum of real part permittivity (ε') does not depend on the frequency of the applied electric field. A phase angle, Φ ≈ -90° between current and applied voltage, suggests an occurrence of polar regions (clusters) below 400 K i.e. in the DPT temperature range of and in the paraelectric phase.

Słowa kluczowe

PL

właściwości dielektryczne; ferroelektryki; przemiana fazowa; roztwór stały

EN

dielectric properties; ferroelectrics; phase transitions; solid solutions

• Wydawca: Polskie Towarzystwo Ceramiczne
• Czasopismo: Materiały Ceramiczne
• Rocznik: 2010
• Tom: T. 62, nr 3
• Strony: 400--402
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Kajtoch C.

autor

Gabryś M.

autor

Bąk W.

autor

Starzyk F.

• Institute of Physics, Pedagogical University, ul. Podchorążych 2, 30-084 Kraków, Poland,

Bibliografia

• [1] Moulson A.J., Herbert J.M.: Materials properties and Applications, Chapman and Hall, London, (1990).
• [2] Heywang W.: Solid-State Electronics 3, (1961), 51.
• [3] Jonker G.H.: Solid-State Electronics, 7, (1964), 895.
• [4] Ravez J., Simon A.: Physica Status Solidi (a), 178, (2000), 793.
• [5] Landolt-Boernstein, New Series 3, Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-New York, (1969).
• [6] Kajtoch C., Doctor’s thesis, Martin-Luther-University, Halle-Wittenberg, (1990).
• [7] Kajtoch C., Gabryś M., Tejchman W., Handke B.: Archives of Material Science and Engineering, 33, (2008), 89.
• [8] Comes R., Lambert M., Guinier A .: Solid State Communication, 6, (1968), 715.
• [9] Burns G., Dacol F.H.: Ferroelectrics, 104, (1990), 25.
• [10] Burns G., Dacol F.H.: Solid State Communication, 42, (1982), 9.
• [11] Ichinose N., Yokomizo Y., Takahashi T.: Acta Crystallographica A 28, 4, (1972), 187.
• [12] Kajtoch C.: Ferroelectrics Letters, 25, (1999), 81.
• [13] Schmidt G.: Ferroelectrics, 78, (1988), 199.
• [14] Kajtoch C.: Ceram. Int., 35, (2009), 2993.