Kalibracja systemu wizyjnego z kamerą CCD na potrzeby wysokotemperaturowych pomiarów właściwości powierzchniowych

• Autorzy: Fabijańska A. , Sankowski D.

Warianty tytułu

EN

Calibration of CCD camera vision system for high temperature measurements of surface properties

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono proces kalibracji kamery CCD na potrzeby systemów analizy ilościowej obrazów. W szczególności skupiono się na wysokotemperaturowych pomiarach właściwości powierzchniowych. Przedstawiony proces kalibracji koncentruje się głównie na korekcji tych defektów w obrazie, które wynikają z niedoskonałości matrycy CCD i mogą wpływać na dokładność odwzorowania kształtów obiektów widocznych na analizowanej scenie.

EN

This paper presents a technique for calibration of CCD camera system for digital image quantitative analysis applications. Especially high temperature measurements of surface properties are considered. The calibration process is focused on correction of these defects that arise from CCD chip imperfections and can influence on accuracy of object shape projection.

Słowa kluczowe

PL

kalibracja kamery CCD; poprawa jakości obrazu; tło instrumentalne; martwe i gorące piksele

EN

CCD camera calibration; image enhancement; instrumental background; hot & dead pixels

• Wydawca: Wydawnictwa AGH
• Czasopismo: Automatyka / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie
• Rocznik: 2007
• Tom: T. 11, z. 3
• Strony: 49--57
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys.

Twórcy

autor

Fabijańska A.

• Katedra Informatyki Stosowanej, Politechnika Łódzka w Łodzi

autor

Sankowski D.

• Katedra Informatyki Stosowanej, Politechnika Łódzka w Łodzi

Bibliografia

• [1] Adamson A. W., Gast A. P.: Physical Chemistry of Surfaces. Wiley-Interscience, Los Atlas, California, 1997
• [2] Beletic J. W., Amico P. (eds.): Optical Detectors for Astronomy. Proceedings of the Third ESO CCD Workshop, Garching bei Miinchen 1996
• [3] Beletic J.W, Amico P.: Scientific Detectors for Astronomy: The Beginning of a New Era. Springer, Berlin, 2004
• [4] Fabijańska A.: Algorytmy segmentacji w systemach analizy ilościowej obrazów. Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki, Politechnika Łódzka, Łódź 2006 (Praca magisterska)
• [5] Sankowski D., Fabijańska A.: CCD Camera Instrumental Background Estimation Algorithm. Proceedings of IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference IMTC, Warszawa, paper #7407, 2007
• [6] Howell B.: Handbook of CCD astronomy. Cambridge University Press, Cambridge 2006
• [7] Jeżewski S.: Konstrukcja oprogramowania dla przemysłowych systemów analizy i przetwarzania obrazów. Rozprawa doktorska, Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki, Politechnika Łódzka, Łódź 2005
• [8] Martinez P., Klotz A.: A practical guide to CCD astronomy. Cambridge University Press, Cambirdge 1998
• [9] Missol W.: Energia powierzchni rozdziału faz w metalach. Wydawnictwo Śląsk, Katowice 1974
• [10] Sankowski D., Strzecha K., Jeżewski S.: Image processing in physicalparameters measurement. 16th IMEKO World Congress, Vienna, Austria, 2000, 277-283
• [11] Sankowski D., Senkara J., Strzecha K., Jeżewski S.: Automatic investigation of surface phenomena in high temperature solid and liąuid contacts. Proceedings of IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference IMTC, Budapest, Hungary, 2001, 1397-1400
• [12] Sankowski D., Senkara J., Strzecha K.: Computerized system for assessment ofąuality ofsolders. IEEE The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics, Proceedings of the VIIth International Conference CADSM, Lviv-Slavske, Ukrainę, 2003, 56-58
• [13] Sankowski D., Strzecha K., Jeżewski S.: Algorytmy przetwarzania i analizy obrazów w wysokotemperaturowych pomiarach własności fizykochemicznych wybranych materiałów. Zeszyt jubileuszowy X lat KIS, Łódź 2005, 51-70
• [14] Strzecha K.: Zastosowanie przetwarzania i analizy obrazów w wysokotemperaturowych pomiarach własności fizykochemicznych wybranych materiałów. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki, Politechnika Łódzka, Łódź 2002 (Rozprawa doktorska)