PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Podejście Bayesa w przemysłowych systemach kontroli i sterowania przy wykorzystaniu tomografii procesowej

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Bayesian approach to monitoring and control of industrial process tomography systems
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Technika pomiarowa, jaką jest tomografia procesowa, stanowi unikalne narzędzie do monitorowania stanu i informowania o szeregu procesów przemysłowych, zważywszy na fakt, że jest ona nieinwazyjna, a więc jej użycie nie zaburza samego procesu. Jednakże przykłady prób opracowania przy jej użyciu systemów kontroli i sterowania nadal obarczone są szeregiem niedoskonałości. Większość dotychczas proponowanych rozwiązań skupia się na rekonstrukcji obrazów pochodzących z tomograficznych danych pomiarowych, a następnie na ich postprocesingu. Niestety klasyczne metody rekonstrukcji obrazów są obciążone trudnymi do oszacowania błędami, które prowadzą do bezpowrotnej utraty części informacji. Natomiast zastosowanie teorii Bayesa daje większą elastyczność analizy danych pomiarowych, możliwość zawarcia dodatkowej wiedzy a priori w fazie obróbki danych oraz, co najważniejsze, umożliwia bezpośrednie szacowanie dowolnie wybranych parametrów procesu z pominięciem etapu rekonstrukcji.
EN
Process tomography as a measurement and exploration tool gives a unique chance of investigation/monitoring/control the industrial processes without interrupting the process since it is nonintrusive by definition. Unfortunately the so far proposed methods of ECT based industrial process control systems failed to be efficient and automatic. These systems were associated with image reconstruction techniques which introduce unquantified errors and lead to loss of information. Bayesian approach presented here is more flexible in output modelling, allows incorporating prior knowledge into data processing and gives the opportunity for direct desired parameters estimation.
Wydawca
Rocznik
Strony
217--222
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz., rys., wykr.
Twórcy
  • Katedra Informatyki Stosowanej, Politechnika Łódzka
autor
  • Katedra Informatyki Stosowanej, Politechnika Łódzka
  • University of Leeds, United Kingdom
autor
  • University of Leeds, United Kingdom
autor
  • University of Leeds, United Kingdom
autor
  • University of Leeds, United Kingdom
Bibliografia
  • [1] Geman S., Geman D.: Stochastic Relaxation, Gibbs Distributions and the Bayesian Restoration of Image. IEEE Trans. Pattem Analysis and Machine Intelligence, 6, 1984, 721-741
  • [2] Gilks W.R., Richardson S., Spiegelhalter D.J.: Markov Chain Monte Carlo in Practice. London, Chapman&Hall 1996
  • [3] Kaipio J.P., Kolehmainen V., Somersalo E., and Vauhkonen M.: Statistical Inversion and Monte Carlo Sampling Methods in Electrical Impedance Tomography. Inverse Problems, 16, 2000, 1487-1522
  • [4] West R.M., Aykroyd R.G., Meng S., and Williams R.A.: Markov chain Monte Carlo techniques and spatial-temporal modelling for medical EIT. Physiological Measurements, 25, 2004a, 181-194
  • [5] West R.M., Aykroyd R.G., Meng S., and Williams R.A.: Spatial-Temporal Modelling for Electrical Impedance Imaging ofa Mixing Process. Submitted to Measurement Science and Technology 2004b
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-AGH1-0004-0018
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.