Precyzja stykowych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni w warunkach powtarzalności

• Autorzy: Makieła W. , Świderski J.

Warianty tytułu

EN

Stylus profiler precision for measuring surface texture in repeatability conditions

• Konferencja: VI KONGRES METROLOGII Kielce – Sandomierz, 19-22 czerwca 2013 r.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono wyniki badań precyzji pomiarów struktury geometrycznej powierzchni wykonanych profilometrem stykowym z ostrzem odwzorowującym w warunkach powtarzalności. Badania poprzedzono pomiarami profilu szczątkowego w celu wyznaczenia czynników oddziałujących na proces pomiaru. Badania precyzji pomiarów w warunkach powtarzalności przeprowadzono dla powierzchni wzorca typu C oraz powierzchni po szlifowaniu i frezowaniu czołowym. Aby obliczyć parametry statystyczne, dokonano pięćdziesięciokrotnego pomiaru każdej powierzchni.

EN

The paper presents analysis results for measuring precision of surface texture with stylus profilers in repeatability conditions. The analysis was preceeded with measuring partial profiles in order to establish factors that influence measurement process. Analysis of measurement precision in repeatability conditions has been conducted for a type C calibration standard and a surface, which was polished and ground. In order to compute statistical parameters the surface has been measured fifty times.

Słowa kluczowe

PL

pomiary struktury geometrycznej powierzchni; profilometr stykowy; powtarzalność pomiarów

EN

surface texture measurement; stylus profilers; measurement precision; repeatability conditions of measurements

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 86, nr 7
• Strony: 530--534
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tabl.

Twórcy

autor

Makieła W.

• Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach

autor

Świderski J.

• Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach

Bibliografia

• 1. PN-EN ISO 25178-6:2011 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna – Część 6: Klasyfikacja metod pomiaru struktury geometrycznej powierzchni
• 2. PN-EN-ISO 3274: 2011 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS). Struktura geometryczna powierzchni: Metoda profilowa. Charakterystyki nominalne przyrządów stykowych (z ostrzem odwzorowującym).
• 3. Adamczak S. „Pomiary geometryczne powierzchni”. Warszawa: WNT 2008.
• 4. Wieczorowski M. „Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni”. Rozprawy. Nr 429. Poznań: Wyd. Politechniki Poznańskiej 2009.
• 5. Pawlus P. „Topografia powierzchni pomiar, analiza, oddziaływanie”. Rzeszów: Wyd. Politechniki Rzeszowskiej 2005.
• 6. Measurement Good Practice Guide No. 37. The Measurement of Surface Texture using Stylus Instruments National Physical Laboratory 2001.
• 7. International vocabulary of metrology – Basic and general concepts and associated terms (VIM) 3rd edition JCGM 200:2012 (Joint Committee for Guides in Metrology).
• 8. Oczoś K., Liubimov V. „Struktura geometryczna powierzchni. Podstawy klasyfikacji z atlasem charakterystycznych powierzchni kształtowych”. Rzeszów: OWPP 2003.