Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych

• Autorzy: Załęski D. , Bartosiński B. , Zielonko R.

Warianty tytułu

EN

The new application of shape-designed complementary signals for diagnostic of electronic embedded systems

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono koncepcję zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, za pomocą BISTów wykorzystujących ograniczone środki mikrokontrolera sterującego. Istotą metody jest pobudzanie układu testowanego sygnałem komplementarnym o specjalnie zaprojektowanym kształcie, którego parametry są dopasowane do nominalnych położeń biegunów transmitancji układu. Wyzerowanie sygnału odpowiedzi w określonym przedziale czasu po zakończeniu pobudzenia świadczy o sprawności układu. Zaprezentowano wyniki badań symulacyjnych oraz weryfikacji praktycznej metody na przykładzie dolnoprzepustowego filtru 2 i 4 rzędu.

EN

The article presents the idea of using the shape-designed complementary signals for testing analog parts of electronic mixed-signal embedded systems employing limited resources of microcontroller that controls the system. The essence of the proposed method is stimulation of Circuit Under Test (CUT) with particular shape-designed complementary signal which parameters are matched to the nominal position of circuit transmittance poles. Vanishing the CUT response in time and after the moment of finishing the stimulation indicates absence of faults. The paper presents results of simulation researches and practical verification of the method on examples of 2nd and 4th order low-pass filters.

Słowa kluczowe

PL

testowanie; elektroniczne systemy wbudowane; sygnały komplementarne; projektowanie kształtu sygnału; mikrokontrolery

EN

testing; electronic embedded systems; complementary signals; shape design of signals; microcontrollers

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2007
• Tom: R. 53, nr 9 bis
• Strony: 739--742
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys., tab., wzory

Twórcy

autor

Załęski D.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych

autor

Bartosiński B.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych

autor

Zielonko R.

• Politechnika Gdańska, Katedra Miernictwa Elektronicznego

Bibliografia

• [1] Bartosiński B., Zielonko R.: New classes of complementary signals. Electronic Letters, 1987, Vol. 23, No. 9, s. 433-434.
• [2] B. Bartosiński, Metoda testowania liniowych układów elektronicznych przy pomocy Ti-parametrowych sygnałów komplementarnych, Metrologia i Systemy Pomiarowe 16, 1993, s. 389-396
• [3] Schreiner H.: Fault dictionary based upon stimulus design. IEEE Transaction on Circuits and Systems, Vol. Cas-26, No. 7, July 1979, pp. 529-537.
• [4] Atmel: ATmeg16 Data Sheet, plik PDF, www.atmel.com.
• [5] Burr-Brown: The UAF42 universal active filter - Application Bulletin, plik PDF, www.burr-brown.com.