Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
18--22
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., il. kolor., wykr.
Twórcy
autor
- Zakład Inżynierii Materiałów Biomedycznych, Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych, Wydział Mechaniczny Technologiczny, Politechnika Śląska w Gliwicach
autor
- Zakład Technologii Procesów Materiałowych, Zarządzania i Technik Komputerowych w Materiałoznawstwie, Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych, Wydział Mechaniczny Technologiczny, Politechnika Śląska w Gliwicach
autor
- Zakład Technologii Procesów Materiałowych, Zarządzania i Technik Komputerowych w Materiałoznawstwie, Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych, Wydział Mechaniczny Technologiczny, Politechnika Śląska w Gliwicach
Bibliografia
- [1] T.P. Gotszalk, Systemy mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach mikro- i nanostruktur, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław 2004.
- [2] G. Haustad, Atomic force microscopy. Understanding basic modes and advanced applications, Wiley 2012.
- [3] Prater C. B. i in., Tapping Mode Imaging: Applications and Technology. Santa Barbara, Digital Instruments 1997.
- [4] Klaus D Jand, Atomic force microscopy of biomaterials surfaces and interfaces, Surface Science, 3/491 (2001) 303-332.
- [5] T. R. Albrecht, P. Grütter, D. Horne, D. Rugar, Frequency modulation detection using high-Q cantilevers for enhanced force microscope sensitivity, Journal of Applied Physics 69 (1991) 668.
- [6] Bray, M.T., Cohen, Samuel H., Lightbody, Marcia L. (eds.), Atomic Force Microscopy/scanning Tunneling Microscopy, Springer, 2004.
- [7] T. Kruk, Mikroskopia Sił Atomowych (AFM), Lab, 18/1, 47.
Uwagi
Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2018).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-a9fa7d48-9c10-45c8-a122-639f6e777afb