Tytuł artykułu
Treść / Zawartość
Pełne teksty:
Identyfikatory
Warianty tytułu
Research of setup time fluctuation of the flip-flop
Języki publikacji
Abstrakty
Zjawisko metastabilności występujące w przerzutnikach podzielono na dwa różne efekty. Pierwszy dotyczy zwiększonego czasu propagacji, a drugi przypadkowości w ustalaniu stanu wyjściowego. Przedstawiono uogólniony model przerzutnika typu D wyzwalanego zboczem. Zaproponowano metodę pomiaru dodatkowego parametru zinterpretowanego jako poziom fluktuacji czasu ustalania, dla wprowadzonego modelu. Przeprowadzono pomiary przerzutników zaimplementowanych w strukturze FPGA wykonanej w technologii 180 nm. Wartość wprowadzonego parametru w modelu ma znaczenie w wysokorozdzielczej metrologii odcinków czasowych i może wpływać na sumaryczny błąd losowy mierzonego odcinka czasu.
The metastability effect is discussed in this paper as two separated effects. The first concerns the increase of the propagation time and the second concerns the random character of output states. The generalized model of the flip-flop was introduced. The measurements method of the setup time fluctuation is presented. The results of measurements for the flip-flops implemented in the FPGA structure are also discussed.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
695--697
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz., rys., wzory
Twórcy
autor
- Instytut Fizyki UMK, Zakład Fizyki Technicznej i Zastosowań Fizyki, ul. Grudziądzka 5/7, 87-100 Toruń
autor
- Instytut Fizyki UMK, Zakład Fizyki Technicznej i Zastosowań Fizyki, ul. Grudziądzka 5/7, 87-100 Toruń
autor
- Instytut Fizyki UMK, Zakład Fizyki Technicznej i Zastosowań Fizyki, ul. Grudziądzka 5/7, 87-100 Toruń
autor
- Instytut Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej UMK, , ul. Grudziądzka 5/7, 87-100 Toruń; doktorant
Bibliografia
- [1] M. Zieliński, D. Chaberski, S. Grzelak: Time-interval measuring modules with short deadtime. Metrology and Measurement Systems, Vol. X Number 3, 2003, pp. (241-251).
- [2] M. Zieliński, D. Chaberski, M. Kowalski, R. Frankowski and S. Grzelak: High - resolution time - interval measurning system implemented in single FPGA device. Measurement, Vol. 35, No. 3, 2004, pp. 311-317.
- [3] J. Kalisz, Z. Jachna: Metastability tests of flip flops in programmable digital circuits. Microelectronics Journal, Vol.37, ELSEVIER 2006, pp.174-180.
- [4] S. Grzelak: Wysokorozdzielcze układy pomiaru odcinka czasowego dla zastosowań w spektrometrii fotonów i jonów. Rozprawa Doktorska, Warszawa, 2006, pp. 81.
- [5] D. J. Kinniment, A. Bystrov, A. Yakovlev, Synchronization circuit performance, IEEE J. Solid-State Circ. 2002, pp 202-209.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-a88608af-e51d-4d7e-ae89-986da380e271