PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

SAXS from Particle and Disordered Systems

Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
SAXS od cząstkowych i nieuporządkowanych układów
Konferencja
International Conference on X-ray Investigations of Polymer Structures (6 ; 2004 ; Bielsko-Biała, Poland)
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
SAXS studies were performed on different porous, disordered materials such as silica and zirconia aerogels, silica xerogels and carbonaceous materials (anthracite and shungite coals, coke, electrode material and activated carbon). These materials feature a variety of nanostructures. The relation between the profiles of the SAXS curves and the nanostructure of the materials was analysed. Fractal geometry proved to be very useful in this analysis. All types of fractality (mass, pore and surface fractality) were found in the materials studied. Porod plots appeared to be very sensitive to the structural details of the scattering objects.
PL
Badano efekt małokątowego rozpraszania promieni rentgenowskich (SAXS) od materiałów porowatych o złożonej, nieuporządkowanej strukturze. Badania wykonano dla krzemionkowych i cyrkonowych aerożeli, krzemionkowych kserożeli oraz różnych materiałów węglowych (węgle antracytowe i szungajskie, koksy, materiały elektrodowe, węgle aktywne). Analizowano zależność między profilem krzywych małokątowego rozpraszania a nanostrukturą badanych materiałów. Geometria fraktalna okazała się bardzo użyteczna w tej analizie. Stwierdzono dużą różnorodność nanostruktur badanych materiałów, którą można było opisać przy pomocy fraktali masowych, porowych i powierzchniowych. Stwierdzono również dużą czułość wykresów Poroda na zmiany w nanostrukturze materiałów rozpraszających.
Rocznik
Strony
69--74
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
  • Institute of Materials Science, University of Silesia, Bankowa 12, 40-007 Katowice, Poland
  • Institute of Materials Science, University of Silesia, Bankowa 12, 40-007 Katowice, Poland
  • Institute of Chemical Engineering Polish Academy of Sciences, ul. Bałtycka 5,41-100 Gliwice, Poland
  • Institute of Chemical Engineering Polish Academy of Sciences, ul. Bałtycka 5,41-100 Gliwice, Poland
autor
  • Industrial Institute of Electronics, Dluga 44/50, 00-241 Warszawa, Poland
Bibliografia
  • 1. J.E. Martin, A.J. Hurd; J.Appl.Cryst., 20, 61 (1987)
  • 2. P.W. Schmidt; J. Appl. Cryst., 24, 414 (1991)
  • 3. J. Teixeira; J. Appl. Cryst., 21, 781 (1988)
  • 4. B. Bierska, R. Diduszko, L. Pająk; Proc. of the XlXth Conference on Applied Crystallography ed. H. Morawiec & D. Stróż, World Scientific, Singapore, pp. 51-54 (2004)
  • 5. O. Glatter; J. Appl. Cryst., 13, 7 (1980)
  • 6. J. Mrowiec-Biaioń, L. Pająk, A.B. Jarzębski, A.I. Lachowski, J.J. Malinowski; J. Non-Cryst. Sol., 225, 115 (1998)
  • 7. J. Mrowiec-Biaioń, A.B. Jarzębski, L. Pająk, Z. Olejniczak, M. Gibas; Langmuir, 20,10389 (2004)
  • 8. J. Mrowiec-Biaioń, A.B. Jarzębski, O.A. Kholdeeva, N.N. Trukhan, V.l. Zaikovski, V.V. Knventsov, Z. Olejniczak; Appl. Catal. A, 273, 47 (2004)
  • 9. V.V. Kovalevski, N.N. Rozkhova, A.Z. Zidenberg, A.N. Yermolin; Mol. Mat. 4, 77 (1994)
  • 10. C.G. Vonk; J. Appl. Cryst., 9, 433 (1976)
  • 11. A. Hasmy R. Vacher, R. Julien; Phys. Rev. B, 50, 1305 (1994)
  • 12. A. Guinier, G. Fournet; Small-Angle Scattering of X-Rays, John Wiley and Sons, New York, 1955
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-a7ba1cb5-6840-4335-8972-33bae4d7098e
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.