Evaluation of functional device suitability considering both random technological deviations of its parameters from their nominal values and the process of components’ aging

• Autorzy: Bobalo Y. , Dyvak M. , Krepych S. , Stakhiv P.

Identyfikatory

DOI

10.12915/pe.2014.04.54

Warianty tytułu

PL

Ocena zmiany funkcjonalności urządzenia z uwzględnieniem odchylenia parametrów od wielkości nominalnych i procesów starzenia

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

One of main parameters of a device is its functional suitability. In the course of the device operation, the device components change their parameters under influence of environment; this process is called aging. Under such conditions, the problem of evaluating functional suitability of the device emerges that needs to be solved taking into account real processes of its aging.

PL

W pracy omówiono problem zmian funkcjonalności urządzenia ze względu na technologiczne odchylenia parametrów od wartości nominalnych i procesów starzenia.

Słowa kluczowe

EN

functional suitability; aging process; confidence ellipsoid

PL

funkcjonalnosć urządzenia; starzenia; elipsoida zaufania

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 90, nr 4
• Strony: 224--228
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., wykr.

Twórcy

autor

Bobalo Y.

• Lviv Polytechnic National University, 12 Stepana Bandery Street, Lviv, Ukraine

autor

Dyvak M.

• Ternopil National Economic University, 9 Yunosti Street, Ternopil, Ukraine

autor

Krepych S.

• Ternopil National Economic University, 9 Yunosti Street, Ternopil, Ukraine

autor

Stakhiv P.

• Lviv Polytechnic National University, 12 Stepana Bandery Street, Lviv, Ukraine

Bibliografia

• [1] Yuriy Bobalo, Petro Stakhiv, Svitlana Krepych. Estimation of Functional Usability of Radio Electronic Circuits by Applying the Method of Confidence Ellipsoids, Computational problems of electrical engineering. – Lviv, Ukraine. №2. – 2012. – Р.1-6.
• [2] Yuriy Bobalo. Analysis of Quality of Radio Electronic Devices in Multistage Production Systems, Przegląd Elektrotechniczny. – Warsaw, Poland. - №1. – 2010. – P. 124-127.
• [3] Lev Dubrovin. Fundamentals of reliability theory: reliability REC// Lectures. - Yoshkar-Ola, Russia, 2004. – 87 p.
• [4] Mykola Dyvak, Oleksandra Kozak. Ellipsoidal tolerance evaluation parameters of electronic circuits, Registration, storage and processing data. – 2009. – Part 11, №1. – P.93-104.
• [5] Mykola Dyvak. Problems of mathematical modeling of static systems with interval data. – Ternopil: Publisher TNEU "Economic Thought", 2011. – 216 p.
• [6] Olga Pavlovskaya, Evgeniy Alyoshin. Fundamentals of reliability theory, Tutorial. – Chelyabinsk, Russia: Publisher SUSU, 2007. -56 p.