Porównanie skuteczności algorytmów regresji nieliniowej w procesie identyfikacji centrów defektowych półizolujących materiałów półprzewodnikowych

• Autorzy: Kaczmarek Witold , Suproniuk Marek , Piwowarski Karol , Perka Bogdan , Paziewski Piotr

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2021.10.22

Warianty tytułu

EN

Comparison of the effectiveness of nonlinear regression algorithms in the process of identifying defect centers in semiinsulating semiconductor materials

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule zostały przedstawione testy algorytmów regresji nieliniowej w zastosowaniu do identyfikacji parametrów centrów defektowych, z zasymulowanych relaksacyjnych przebiegów fotoprądu. Wyniki otrzymane w trakcie eksperymentu są podstawą do wykorzystania algorytmów regresji nieliniowej w procesie identyfikacji centrów defektowych.

EN

The article presents tests of nonlinear regression algorithms used to identify the parameters of defect centers from simulated photocurrent relaxation signal. The results of the experiment are the basis for the use of non-linear regression algorithms in the process of identifying defect centers.

Słowa kluczowe

PL

centra defektowe; materiał półprzewodnikowy; HRPITS; metoda regresji nieliniowe

EN

defect centres; semiconductor materials; HRPITS; nonlinear regression method

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2021
• Tom: R. 97, nr 10
• Strony: 110--113
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Kaczmarek Witold

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Systemów Elektronicznych, 00-001 Warszawa, ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2

• https://orcid.org/0000-0003-2381-4528

autor

Suproniuk Marek

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Systemów Elektronicznych, 00-001 Warszawa, ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2

• https://orcid.org/0000-0003-3723-6116

autor

Piwowarski Karol

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Systemów Elektronicznych, 00-001 Warszawa, ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2

• https://orcid.org/0000-0001-5922-2706

autor

Perka Bogdan

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Systemów Elektronicznych, 00-001 Warszawa, ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2

• https://orcid.org/0000-0003-4762-4833

autor

Paziewski Piotr

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Systemów Elektronicznych, 00-001 Warszawa, ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2

• https://orcid.org/0000-0002-6566-4620

Bibliografia

• [1] Piwowarski, K., Suproniuk, M., Kamiński, P., Perka, B., Kozłowski, R., Teodorczyk, M., Influence of photon energy on conductivity of photoconductive semiconductor switches fabricated from semi-insulating GaP. Proceedings of SPIE, 11442(114420M), DOI: 10.1117/12.2565269, 2020
• [2] M. Pawłowski, Obrazowanie struktury defektowej materiałów półizolujących z wykorzystaniem niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej, Wojskowa Akademia Techniczna, Warszawa, 2007
• [3] Kozłowski R.: Wyznacznie czasu życia nośników ładunku i poziomów rekombinacyjnych w materiałach wysokorezystywnych poprzez pomiar temperaturowej zależności fotoprądu, Mater. Elektron., 1-2, 28, (2000), 5-17
• [4] M. Suproniuk, W. Kaczmarek, M. Pawłowski: A new approach to determinate the spectral images for defect centres in highresistive semiconductor materials, Proceedings of the 23rd International Conference ELECTRONICS 2019, 2019.
• [5] P. Kamiński, R. Kozłowski , J. Żelazko: Characterization of radiation defect centres in neutron irradiated Si using inverse Laplace transformation to analysis of photocurrent relaxation waveforms, Official Proceedings of Microtherm 2011, 64-69, Technical University of Lodz, Department of Semiconductor and Optoelectronics Devices.
• [6] M. Pawłowski, M. Suproniuk: Błąd adekwatności modelu obrazowania struktury defektowej półprzewodników wysokorezystywnych badanej metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej, Przegląd Elektrotechniczny, vol. 87, ss. 230 – 235, 2011.
• [7] M. Suproniuk P. Kaminski, R. Kozlowski, M. Teodorczyk, A. Mirowska, E. Majda-Zdancewicz, M. Wierzbowski, K. Piwowarski, P. Paziewski Semi-insulating GaP as a material for manufacturing photoconductive semiconductor switches. Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering, (2019).
• [8] Kelley, C.T.: Iterative Methods for Linear and Nonlinear Equations. Frontiers in Applied Mathematics, vol. 16. SIAM, Philadelphia (1995)
• [9] Moré, J.J.: The Levenberg-Marquardt algorithm: implementation and theory. In: Watson, G.A. (ed.) Numerical Analysis. Lecture Notes in Mathematics, vol. 630, pp. 105–116. Springer, Berlin (1978)
• [10] Bellavia, S., Macconi, M., Pieraccini, S.: On affine scaling inexact dogleg methods for bound-constrained nonlinear systems. Tech. Rep. 5/2009 (2009)
• [11] Conn, A., Gould, N., Toint, Ph.: Trust Region Method, SIAM, Philadelphia (2000)
• [12] R. Johansson, Matematyczny Python : obliczenia naukowe i analiza danych z użyciem NumPy, SciPy i Matplotlib, Helion, Gliwice 2021.
• [13] W. McKinney, Python w analizie danych : przetwarzanie danych za pomocą pakietów Pandas i NumPy oraz środowiska IPython, Helion, Gliwice 2018

Uwagi

Opracowanie rekordu ze środków MNiSW, umowa Nr 461252 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2021)