Kierunki rozwoju metrologii nierówności powierzchni

• Autorzy: Wieczorowski M.

Warianty tytułu

EN

Development trends in metrology of surface asperities

• Konferencja: XV Krajowa i VI Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, Łódź-Uniejów 17-19.09.2014r.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule omówiono najnowsze trendy w pracach związanych z konstrukcją przyrządów do pomiaru nierówności powierzchni. Zaprezentowano rozwiązania stosowane w urządzeniach stykowych i bezstykowych. Pokazano zastosowanie skaningu pionowego w pomiarach nierówności, a także konstrukcje multisensorowe. Metrologia nierówności powierzchni coraz częściej odchodzi od klasycznych zastosowań z dziedziny budowy maszyn, co powoduje konieczność tworzenia nowych przyrządów, pracujących w różnych zakresach pomiarowych i w oparciu o różne zasady fizyczne.

EN

In the paper the most recent trends in works connected with construction of devices for measurements of surface asperities were presented. Solutions used in both: tactile as well as contact less instruments were shown. Application of vertical scanning in measurements of surface asperities was discussed. Multisensor approach in this field was also briefly described. Surface asperities metrology goes still more and more to different areas than classical mechanical engineering, what makes it necessary to develop new devices working in different measurement ranges and on various physical principles.

Słowa kluczowe

PL

metrologia; nierówności powierzchni; przyrządy pomiarowe

EN

metrology; surface asperities; measurement devices

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 87, nr 8-9CD1
• Strony: 467--474
• Opis fizyczny: Bibliogr. 17 poz., rys.

Twórcy

autor

Wieczorowski M.

• Politechnika Poznańska

Bibliografia

• [1] WIECZOROWSKI M., Metrologia nierówności powierzchni – metody i systemy, ZAPOL, Szczecin, 2013.
• [2] ADAMCZAK S., Struktura geometryczna powierzchni. Cz. 1. Przyrządy pomiarowe, Mechanik, 10, 2006, 736-740.
• [3] NOWICKI B., Struktura geometryczna. Chropowatość i falistość powierzchni. WNT, Warszawa 1991.
• [4] WIECZOROWSKI M., CELLARY A., ChAJDA J., Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni czyli o chropowatości i nie tylko, Poznań 2003.
• [5] PAWLUS P., Topografia powierzchni, pomiar, analiza, oddziaływanie. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów, 2005.
• [6] ŁUKIANOWICZ C., Podstawy pomiarów nierówności powierzchni metodami rozpraszania światła. Monografia 85, Wydział Mechaniczny, Politechniki Koszalińskiej, 2001.
• [7] WIECZOROWSKI M., CARRAS S., ŚMIERZCHALSKI D., MATHIA T., KUCHARSKI D., Multisensor Solution in Platform Device for Surface Roughness Measurements. W: Development of Surface Metrology, ed. P. Pawlus, University of Bielsko Biała, 2012, 35-44.
• [8] Altisurf 520, Altimet, Francja, 2013.
• [9] http://www.stilsa.com
• [10] PETZING J., COUPLAND J., LEACH R., The Measurement of Rough Surface Topography using Coherence Scanning Interferometry. Good Practice Guide No. 116, NPL, 2010.
• [11] COHEN-SABBAN J., GAILLARD-GROLEAS J., CREPIN P.-J., Quasi-confocal extended field surface sensing. Proceedings of the SPIE, 4449, 2001, 178-183.
• [12] www.breitmeier.de
• [13] SUBBARAO M., CHOI T., Accurate Recovery of Three-Dimensional Shape from Image Focus. IEEE Trans. on Pattern Analysis and Machine Intelligence, 17, 1995, 266-274.
• [14] Focus-Variation. The Technology, Alicona, 2014.
• [15] Infinite Focus G5, Alicona, 2014.
• [16] Roughness Measurement with Focus-Variaton, Alicona, 2012.
• [17] ARMSTRONG J., Talysurf CCI - How it works. Taylor Hobson, Leicester, Anglia, 2005.