Identyfikatory
Warianty tytułu
A study of the effect of wavelet transform on surface stereometry parameters
Języki publikacji
Abstrakty
Autorzy podjęli próbę oceny maksymalnego poziomu dekompozycji zmierzonego zarysu, na którym nie następuje istotna utrata charakteru powierzchni zmierzonej oraz próbę określenia, która falka bazowa w największym stopniu nadaje się do analizy danej powierzchni. Opracowano procedury komputerowe wykorzystane do badania wybranych parametrów chropowatości powierzchni 3D pod kątem względnej zmiany ich wartości, na kolejnych poziomach dekompozycji, za pomocą różnych falek bazowych. W artykule pokazano wyniki tych obliczeń.
A wavelet transform uses a wide range of mother wavelets. Each group has different properties of wavelets so the appropriate wavelet choice is important for further signal analysis. Various mother wavelets can be successfully used for the surface analysis. However, the results obtained for particular mother wavelets at subsequent levels of decomposition are significantly different from each other. The literature related to the wavelet analysis does not explicitly determine until which level of decomposition the analyzed signal does not differ significantly from the original image. The authors have attempted to assess the maximum level of decomposition of the original image for which the signal does not lose its characteristics and to determine which mother wavelet is most suitable for analysis of this surface. To do it, the authors have written computer procedures coded in MATLAB. These procedures analyze the selected roughness parameters of a 3D surface by considering the relative change of their values at subsequent levels of decomposition for different mother wavelets. Section 1 contains the introduction related to the surface roughness parameters [1, 2, 3, 6]. Section 2 provides the information about a discrete wavelet transform [4, 5]. In Section 3 there are presented the results for relative changes of selected surface roughness parameters in an analytical (Tab. 1-4) and graphical way (Fig. 2-5), at subsequent levels of decomposition using different mother wavelets. Section 4 provides the summary and conclusions.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
709--712
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., tab., rys., wykr.
Twórcy
autor
- Politechnika Świętokrzyska w Kielcach, Wydział Mechatroniki i Budowy Maszyn
autor
- Politechnika Świętokrzyska w Kielcach, Wydział Mechatroniki i Budowy Maszyn
Bibliografia
- [1] Adamczak S.: Pomiary geometryczne powierzchni, Warszawa, 2008, WNT.
- [2] Humienny Z. i inni: Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS), Warszawa, 2004, WNT.
- [3] Janecki D.: Problemy pomiaru i oceny geometrii powierzchni obrotowych części maszyn, Kielce, 2012, Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej.
- [4] Makieła W., Stępień K.: Ocena wpływu metodyki doboru falki bazowej na analizę falkową zarysów nierówności powierzchni, Pomiary Automatyka Kontrola, 2010/1, s. 32-34.
- [5] Wieczorowski M.: Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni, Poznań, 2009, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej.
- [6] Norma PN-EN ISO 25178-2:2012: Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) - Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna - Część 2: Terminy, definicje i parametry struk-tury geometrycznej powierzchni.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-9c35e01f-a8f8-4667-933f-e73286de928f