Model spektroradiometru, o stałej w funkcji długości fali, wartości czułości widmowej

• Autorzy: Czech E. , Fryc I.

Warianty tytułu

EN

Spectroradiometer which has constant spectral sensitivity, over range of its spectral measurements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Budowane obecnie spektroradiometry, nie charakteryzują się stałą wartością czułości widmowej, w całym zakresie długości fal, w jakim pracują. Ten stan rzeczy, prowadzi do powstawania uchybów pomiarowych, o wartości zależnej od mierzonego przedziału widmowego. Niniejszy artykuł przedstawia model spektroradiometru, charakteryzującego się, niezależną od długości fali, wartością czułości widmowej. Zaproponowana metoda projektowani części optycznej spektroradiometru, umożliwia obliczenie takiej fazowej, odbiciowej siatki dyfrakcyjnej tego przyrządu, która uniezależnia czułość spektroradiometru od mierzonej długości fali promieniowania, a tym samym eliminuje uchyb pomiarowy związany ze zmianą czułości widmowej przyrządu w funkcji długości fali mierzonego promieniowania.

EN

The paper presents a model of the spectroradiometer which has constant spectral sensitivity over range of its measurement wavelength. Spektroradiometers which are right now, on the market, are not having constant spectral sensitivity, over a range of wavelengths, in which they are working. This is a source of their measurement errors. This article presents the possibility of constructing the spectroradiometer with constant spectral sensitivity.

Słowa kluczowe

PL

spektroradiometr; siatka dyfrakcyjna; optymalizacja

EN

spectroradiometer; diffractive grating; optimalization

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 89, nr 11
• Strony: 294--297
• Opis fizyczny: Bibliogr. 17 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Czech E.

• Politechnika Białostocka Studium Fizyki, Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny

autor

Fryc I.

• Politechnika Białostocka Studium Fizyki, Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny

Bibliografia

• [1] Fryc I. : Istotne parametry spektroradiometru wielokanałowego, Przegląd Elektrotechniczny, (2012), nr 4a, s. 230-231
• [2] Fryc I., Czyżewski D. : Dokładność pomiarowa spektroradiometrów typu CCD, Przegląd Elektrotechniczny, (2009), nr 11, s. 253-256
• [3] Domke K. , Pelko M. : Pomiar i kalibracja stanowiska do sprawdzenia zawartości promieniowania UV w widmie lamp, Przegląd Elektrotechniczny, (2011), nr 4, s. 78-79
• [4] katalog Hamamatsu http://sales.hamamatsu.com/en/products/solid-statedivision/image-sensors/tdi-ccd/part-s10200-02.php
• [5] Damman H. : Blazed Synthetic Phase-Only Holograms”, Optik 31, (1970), s. 95–104,
• [6] Ammer T., Ross i M., Diffractive optical elements with modulated zone sizes, J. Mod. Opt. 47, (2000), s. 2281-2293,
• [7] Minguez-Vega G., Thaning A., Climent V., Friberg A., Jaroszewicz Z.: Diffraction efficiency achromatization by random change of the blaze angle, Proceedings of SPIE4829, (2003), s. 1070-1072,
• [8] Testorf M. : On the zero-thickness model of diffractive optical elements, J. Opt. Soc. Am. A 17, (2000), s.1132-1133.
• [9] Golub M.A. : Generalized conversion from the phase function to the blazed surface-relief profile of diffractive optical elements, J. Opt. Soc. Am. A 16, (1999), s.1194-1201.
• [10] Golub M.A.: Analogy between generalized Coddington equations and thin optical element approximation, J. Opt. Soc. Am. A 26, (2009), s. 1235-1239.
• [11] Testorf M., Fiddy M., “Kirchhoff's approximation in diffractive optics”, in Diffractive Optics and Micro-Optics , T. Li, ed., (2000), Vol. 41, paper DTuD14.
• [12] Testorf M. : Approximate diffraction theories: Efficient modeling of diffractive optical elements, Diffractive Optics and Micro-Optics, R. Magnusson, ed., Vol. 75 of OSA Trends in Optics and Photonics Series (2002), paper DMC4.
• [13] Pommet D. A., Moharam M. G., Grann E. B.: Limits of scalar diffraction theory for diffractive phase elements, J. Opt. Soc. Am. A 11, (1994), s. 1827-1834
• [14] Czech E., Fryc I.: Optymalizacja charakterytyki czułości widmowej układu elektro-optycznego spektroradiometru”, Przegląd Elektrotechniczny (2012), nr 7a, s. 183-186
• [15] Jaroszewicz Z. , Kołodziejczyk A., Kowalik A., Restrepo R.: Determination of phase step errors of kinoform gratings from their diffraction efficiencies, Opt. Eng. 40, (2001), s. 692-697
• [16] Czech E.: Optymalizacja funkcji transmitancji wybranych dyfrakcyjnych elementów optycznych, rozprawa doktorska, Politechnika Warszawska, Wydział Fizyki, Warszawa 2010
• [17] Czech E., Jaroszewicz Z., Mínguez-Vega G., Lajunen H. : Diffraction efficiency achromatization of blazed gratings, Proceedings of the EOS Topical Meeting on Diffractive Optics, (2010), paper 2491.