Wykorzystanie pomiarów mikroskopowych 3D do rekonstrukcji pęknięć powstających w procesach kształtowania blach

• Autorzy: Morawski Ł. , Jasiński C. , Kocańda A.

Warianty tytułu

PL

Microscopic measurements of cracks formed in the sheet metal forming processes and 3D reconstruction of cracks geometry

• Konferencja: Fizyczne i matematyczne modelowanie procesów obróbki plastycznej FIMM 2013
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W referacie przedstawiono metodę rekonstrukcji defektów 3D, wykorzystującą zjawisko głębi ostrości w układach optycznych mikroskopów. Przedstawiono stanowisko oparte na działaniu mikroskopu cyfrowego, a także algorytm uzyskiwania trójwymiarowych obrazów. Wykorzystując opisane stanowisko wykonano pomiary geometrii 3D wad powstałych w procesach gięcia i wytłaczania.

EN

The paper presents a method of 3D reconstruction of defects, using the phenomenon of low depth of field in the microscope system. The components of the measurement system based on a digital microscope, and the algoritm for obtaining three-dimensional images were discussed. Next, the examples of 3D defect reconstruction were presented for bending and stretching processes.

Słowa kluczowe

PL

pęknięcie; rekonstrukcja pęknięć; pomiary mikroskopowe; pomiary mikroskopowe 3D; kształtowanie blach

EN

crack; reconstruction of cracks; microscopic measurements; 3D reconstruction; sheet metal forming

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
• Czasopismo: Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Mechanika
• Rocznik: 2013
• Tom: z. 253
• Strony: 39--44
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., rys.

Twórcy

autor

Morawski Ł.

• Politechnika Warszawska

autor

Jasiński C.

• Politechnika Warszawska

autor

Kocańda A.

• Politechnika Warszawska

Bibliografia

• [1] Shree K. Nayar, „Shape from Focus”, Department of Electrical and Computer Engineering, The Robotics Institute, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania 15213, November 1989
• [2] Min-yang Yang, Oh-dal Kwon, „Crater wear measurement using computer vision and automatic focusing”, Journal of Materials Processing Technology 58 (1996), 362-367
• [3] Katalog Keyence, „Mikroskop cyfrowy VHX-2000”, Japan 2012