Optimization of the test conditions for fault detection in nonlinear analog circuits using supply current

• Autorzy: Kuczyński A. , Ossowski M.

Warianty tytułu

PL

Optymalizacja warunków testowych do wykrywania i lokalizacji uszkodzeń katastroficznych w nieliniowych układach analogowych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

In this paper, selection of the optimum test conditions for catastrophic fault diagnosis of analog circuits containing MOS transistors is presented. The method of fault detection applies power supply current waveform IDD as an indicator of a device feature. The stimulate signal parameters and values of additional components are changed in optimization process to extend variation between the test signals for considered faults. An illustrative numerical example is presented.

PL

W pracy przedstawiono dobór warunków testu w metodzie wykrywania i lokalizacji uszkodzeń katastroficznych w układach analogowych zawierających tranzystory MOS. W zastosowanym algorytmie detekcji uszkodzeń informacje o właściwościach układu są zakodowane w przebiegu prądu źródła, zasilającego obwód w stanie nieustalonym. Parametry sygnału pobudzającego i wartości dodatkowych elementów są modyfikowane w procesie optymalizacyjnym tak, by powiększyc różnice między sygnałami testowymi odpowiadającymi rozważanym uszkodzeniom. Działanie algorytmu zilustrowano na praktycznym przykładzie.

Słowa kluczowe

EN

analog circuits; fault detection; discrete wavelet transform; feedforward neural network; optimization

PL

układy analogowe; wykrywanie uszkodzeń; transformacja falkowa dyskretna; sieci neuronowe jednokierunkowe; optymalizacja

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 89, nr 2a
• Strony: 267--269
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., schem., wykr.

Twórcy

autor

Kuczyński A.

• Institute of Electrical Engineering Systems, Faculty of Electrical, Electronic, Computer and Control Engineering, Lodz University of Technology, ul. Żeromskiego 116, 90-924 Łódz

autor

Ossowski M.

• Institute of Electrical Engineering Systems, Faculty of Electrical, Electronic, Computer and Control Engineering, Lodz University of Technology, ul. Żeromskiego 116, 90-924 Łódz

Bibliografia

• [1] Stopjakova V., Manhaeve H., Sidiropulos M.: On-chip Transient Current Monitor for Testing of Low-Voltage CMOS IC, Proc. Design. Autom. and Test in Europe, pp. 538- 542, 1999.
• [2] Kuczynski A.: Parametric fault detection in analog circuits containing MOS transistors, Electrical Review, R. 87, NR 5, pp. 84-87, 2011.
• [3] Chruszczyk L., Grzechca D., Rutkowski J.: Finding of optimal excitation signal for testing of analog electronic circuits, Bulletin of the Polish Academy of Sciences, Technical Sciences, Vol. 55, nr 3, pp. 273–280, 2007.
• [4] Jantos P., Gzechca D., Golonek T., Rutkowski J.: Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuit diagnosis, Bulletin of the Polish Academy of Sciences – Technical Sciences, Vol. 56, pp. 29-38, 2008.
• [5] Chruszczyk L., Rutkowski J.: Excitation optimization in fault diagnosis of analog electronic circuits, Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp. 1-4, 2008.
• [6] Piotr Bilski P.: An unsupervised learning method for comparing the quality of the soft computing algorithms in analog systems diagnostics, Electrical Review, NR 11a, 2010.
• [7] Bilski P., Wojciechowski J.M.: Automated Diagnostics of Analog Systems Using Fuzzy Logic Approach IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, NR 01, 2008.
• [8] Tadeusiewicz M., Hałgas S., Multiple soft fault diagnosis of nonlinear DC circuits considering component tolerances, Metrology and Measurement Systems, vol. 18, NR 3, 349-360, 2011.
• [9] D. Mismar, E. Soukosov and B. Algadi, Transmission Zeros Based Fault Testing of Analog Circuits, Jordan Journal of Applied Science, vol. 2, pp. 62-70, 2003.
• [10] M. Aminian and F. Aminian, Neural-Network Based Analog-Circuit Fault Diagnosis Using Wavelet Transform as Preprocessor, IEEE Trans. Circuits and Systems, CAS-II, Vol. 47. No. 2, 2000, pp. 151 - 156.