Comparison of calibration standards for stylus profilometers

• Autorzy: Wiśniewska M. , Żebrowska-Łucyk S.

Warianty tytułu

PL

Porównanie wzorców używanych do kalibracji profilometrów stykowych

• Konferencja: XLVI Międzyuczelniana Konferencja Metrologów MKM’2014 i XIX Międzynarodowe Seminarium Metrologów MSM’2014 (XLVI i XIX; 13-16.09.2014; Gdańsk-Sztokholm, Polska-Szwecja)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The surface texture measurement results obtained with use of stylus profilometers have to be both reliable and reproducible. One of the most important factors affecting the dependability and repeatability is the instrument gauge calibration. However, as there is a wide variety of the applicable calibration artefacts, both standardised and non-standardised, a choice of a proper one becomes difficult. As a contribution to the systematisation of the specified calibration standard applications, this paper describes the most popular calibration artefacts and outlines their advantages and drawbacks.

PL

Profile zaobserwowane i wartości parametrów, służące do oceny chropowatości powierzchni, uzyskane przy użyciu profilometrów stykowych muszą być wiarygodne i odtwarzalne. Jednym z najważniejszych czynników, decydujących czy te warunki są spełnione, jest przeprowadzenie wzorcowania głowicy pomiarowej przyrządu ze szczególnym uwzględnieniem doboru odpowiedniego wzorca. Jednak, ze względu na mnogość dostępnych wzorców kalibracyjnych, zarówno znormalizowanych, jak i nieopisanych w dokumentach normalizacyjnych, wybór właściwego stanowi trudne wyzwanie nawet dla doświadczonego metrologa. Wzorce te różnią się nie tylko strukturą geometryczną powierzchni, ale też kształtem, wymiarami, materiałem, z którego są wykonane czy ceną. W związku z tym, usystematyzowanie wiedzy dotyczącej wzorców kalibracyjnych, ich właściwości oraz potencjalnych zastosowań wydaje się niezbędne. W artykule porównano najbardziej rozpowszechnione spośród wzorców służących do wzorcowania głowic pomiarowych profilometrów stykowych. Poza przedstawieniem najważniejszych zalet i wad tych wzorców, dokonano też oceny powtarzalności wyznaczanych przy ich użyciu wartości współczynników wzmocnienia.

Słowa kluczowe

EN

stylus profilometer; calibration standard; gauge characteristics

PL

profilometr stykowy; wzorzec kalibracyjny; charakterystyka głowicy pomiarowej

• Wydawca: Wydział Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Rocznik: 2014
• Tom: Nr 38
• Strony: 85--88
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Wiśniewska M.

• Warsaw University of Technology, Faculty of Mechatronics, Institute of Metrology and Biomedical Engineering, 8 Św. A. Boboli Str., 02-525 Warsaw, Poland

autor

Żebrowska-Łucyk S.

• Warsaw University of Technology, Faculty of Mechatronics, Institute of Metrology and Biomedical Engineering, 8 Św. A. Boboli Str., 02-525 Warsaw, Poland

Bibliografia

• 1. ISO 5436-1:2000. Geometrical Product Specifications (GPS) -- Surface texture: Profile method; Measurement standards – Part 1: Material measures.
• 2. Kim J. et al.: A new method for the calibration of the vertical scale of a stylus profilometer using multiple delta-layer films, Meas. Sci. Technol., Nr 18, Bristol 2007, s. 2750–2754.
• 3. Giusca C.L. et al.: Calibration of the scales of areal surface topography measuring instruments: part 2. Amplification, linearity and squareness, Meas. Sci. Technol., Nr 23, Bristol 2012.
• 4. Form Talysurf PGI 830. Bearing measurement systems, Taylor Hobson Precision, Leicester 2006.
• 5. Mills M.: Tutorial – Step height measurement, Taylor Hobson Centre of Excellence, Leicester 2013.
• 6. Handa K. et al.: Profilometer and method for measuring surface profile and calibration method. UK. Patent. GB 2 378 254 A. Publ. 05.02.2003.
• 7. Scott P.J.: A metrological apparatus and method of calibration using a surface of known form. UK. Patent. GB 2 429 291 A. Publ. 21.02.2007.
• 8. Wiśniewska M., Żebrowska-Łucyk S.: Stylus profilometer calibration results obtained with a use of the precision hemisphere standard, Coordinate Measuring Technique, Bielsko-Biała, 2014.