Zaawansowana analiza powierzchni próbki w mikroskopii świetlnej

• Autorzy: Jedyński M.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Szybki postęp we współczesnej mikroskopii świetlnej wymusza stosowanie coraz bardziej wyrafinowanych technik służących nie tylko do samej wizualizacji dwuwymiarowej, ale również zaawansowanej analizy pozwalającej uzyskiwać więcej informacji o badanych obiektach. Najnowocześniejszym rozwiązaniem dedykowanym tym celom jest moduł mikroskopowy PhaseView, umożliwiający w prosty sposób rozbudowę dowolnego mikroskopu pracującego w technice jasnego pola o szereg nowych funkcjonalności.

EN

Fast advancement in the field of modern optical microscopy implicates application of more sophisticated techniques used not only for aquisition of two-dimensional images but also for advanced image and surface analysis leading to obtaining more information about object to be analyzed. The state-of-the-art solution dedicated to these purposes in PhaseView microscope module for any existing optical microscope working in the bright field that enables users to apply many new funcionalites.

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia; pomiar powierzchni; obrazowanie 3D; analiza mikroskopowa

EN

microscopy; surface measurement; 3D imaging; microscopic analysis

• Wydawca: ELAMED Media Group
• Czasopismo: Laboratorium - Przegląd Ogólnopolski
• Rocznik: 2013
• Tom: nr 3-4
• Strony: 62--63
• Opis fizyczny: rys., wykr.

Twórcy

autor

Jedyński M.

• Opta-Tech