Skaningowa mikroskopia elektronowa

• Autorzy: Faryna M.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

skaningowa mikroskopia elektronowa; Pracownia Skaningowej Mikroskopii Elektronowej; Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN

EN

scanning electron microscopy; Laboratory of Scanning Electron Microscopy; Institute of Metallurgy and Materials Science PAS

• Wydawca: Roble Sp. z o.o.
• Czasopismo: LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 19, nr 1
• Strony: 11--14
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., il. kolor.

Twórcy

autor

Faryna M.

• Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN w Krakowie

Bibliografia

• [1] M. Faryna, W. Pyda: Structural ceramic composites: processing, properties and orientation relationships, AMAS-ISN Workshop on Fundamentals of Intermetallics, Metal-Ceramic Composites and Functionally Graded Materials, Lecture Notes, 2004, 53
• [2] M. Faryna, H. Paul, K. Sztwiertnia: Orientation mapping techniques and their role in characterization of microstructures, Foundation of Materials Design, eds: Krzysztof J. Kurzydłowski, Bogusław Major, Paweł Zięba), Research Signpost, 661 (2006), 113
• [3] M. Faryna: Dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych. Elementy teorii i praktyki, Wydawnictwa AGH, 2012
• [4] K. Berent, M. Faryna: High resolution EBSD/SEM analysis of PLZT ferroelectric crystals in Low Vacuum conditions, Solid State Phenomena, 186 (2012), 62
• [5] A. Janus, M. Faryna: The Application of VP-SEM in microstructure of ceramic macroporous scaffolds for bone tissue engineering, IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, conferenceseries.iop.org/mse, 32 (2012)