PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Effect of Cu-Doping on Urbach Energy and Dispersion Parameters of Cu:NiO Film Deposited by CSP

Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
This work presents the effect of Cu-doping on Urbach energy and dispersion parameters of Cu:NiO thin film prepared by spray pyrolysis technique. UV-Visible spectrophotometer in the range 380-900 nm used to determine the absorbance spectra for various Cu-doping of Cu:NiO thin film. The absorbance and optical conductivity increased with increasing Cu-doping in the prepared films. Dispersion parameters that studied are decreased with increasing Cu-doping while Urbach energy increased.
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
138--145
Opis fizyczny
Bibliogr. 23 poz., rys., wykr., wz.
Twórcy
autor
  • Al_Mustansiriyah University, College of Science, Physics Department, Baghdad, Iraq
Bibliografia
  • [1] H. Sato, T. Minami, S. Takata, T. Yamada, “Transparent conducting p-type NiO thinfilms prepared by magnetron sputtering”, Thin Solid Films236 (1993) 27–31.
  • [2] A. M. El-Naggar, Opt. Laser Technol. 33 (2001) 237.
  • [3] X.S. Miao, T.C. Chong, Y.M. Huang, et al., Jpn. J. Appl. Phys. 38 (1999) 1638.
  • [4] U.S. Joshia, R. Takahashia, Y. Matsumotoa, H. Koinuma, Thin Solid Films 486(2005) 214-217.
  • [5] H. Sato, T. Minami, S. Tanaka, T. Yamada, Thin Solid Films 236 (1993) 27.
  • [6] S.H. Lin, F.R. Chen, J.J. Kai, Appl. Surf. Sci. 254 (2008) 3357.
  • [7] Z. Zhu, N. Wei, H. Liu, Z. He, Adv. Powder Technol., doi:10.1016/j.apt. (2010).06.008.
  • [8] X. Chen, Z. Zhang, C. Shi, X. Li, Mater. Lett. 62 (2008) 346–351.
  • [9] X. Ni, Q. Zhao, F. Zhou, H. Zheng, J. Cheng, B. Li, J. Cryst. Growth 289 (2006) 299– 302.
  • [10] K.T. Kim, G.-H. Kim, J.-C. Woo, C. Kim, Surf. Coat. Technol. 202 (2008)5650–5653.
  • [11] D. Mutschall, S.A. Berger, and E. Obermeier, Proc. of 6thinternational meeting on chemical sensors, Gaithersburg, 28(1996).
  • [12] J.S. Svensson and C.G.Granqvist, Solar Energy Materials 16(1987)19.
  • [13] A. E Jiménez-González, J.G. Cambray, and A.A.Gutiérrez., Surface Engineering. 16(2000)77.
  • [14] A. E. Jiménez-González and J.G. Cambray, SurfaceEngineering. 16(2000)73.
  • [15] W. Brückner, R. Kaltofen, J. Thomas, M. Hecker, M.Uhlemann, S. Oswald, D. Elefant, and C. M. Schneider, Journal of Applied Physics. 94(2003)4853.
  • [16] L. Berkat, L. Cattin, A. Reguig, M. Regragui and J.C.BernedeMater. Chem. and Phys. 89(2005)11.
  • [17] J. I. Pankove, Optical processes in semiconductors, Prentice-Hall, New York (1971).
  • [18] S. A. Mahmoud, ShereenAlshomer, Mou’ad A. Tarawnh, “Structural and Optical Dispersion Characterisation of Sprayed Nickel Oxide Thin Films”, Journal of Modern Physics2 (2011) 1178-1186.
  • [19] J. Tauc, Amorphous and Liquid Semiconductors, London (1974).
  • [20] F. Moser, F. Urbach, Phys. Rev. 102 (1956) 1519.
  • [21] W. Martienssen, J. Phys. Chem. Solids 2 (1957) 257.
  • [22] A. K. Wolaton, T.S. Moss, Proc. Roy. Soc. 81 (1963) 5091.
  • [23] S. H. Wemple, M. DiDomenico, Phys. Rev. Lett. 23 (1969) 1156.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-8f9cda7c-d9b3-40d8-a211-d4fe1121a3f5
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.