Analiza sygnałów pseudolosowych w pakietach testów statystycznych

• Autorzy: Stępień R.

Warianty tytułu

EN

Analysis of the pseudo random signals in the statistical test suites

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W tej pracy opisano wykorzystanie niektórych pakietów testów statystycznych przeznaczonych do testowania sekwencji pseudolosowych. Dokonano opisu trzech popularnych pakietów testów statystycznych. Przedstawiono ich podstawowe cechy oraz wady i zalety oraz omówiono sposób interpretacji wyników.

EN

This paper describes application of some of the statistical test suites that are designed to analyze and test of the pseudo random sequences. Three of the most popular statistical test suites are described. Basic features, advantages and disadvantages as well as the results’ interpretation method was discussed.

Słowa kluczowe

PL

testy statystyczne; DIEHARD; NIST STS-211; ENT; sekwencje pseudolosowe

EN

statistical tests; DIEHARD; NIST STS-211; ENT; pseudorandom sequences

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
• Czasopismo: Prace Naukowe Politechniki Śląskiej. Elektryka
• Rocznik: 2013
• Tom: z. 2-3
• Strony: 89--96
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz.

Twórcy

autor

Stępień R.

Bibliografia

• 1.Strona internetowa pakietu testów statystycznych DIEHARD: http://www.stat.fsu.edu/pub/diehard/
• 2.Strona Autora testów statystycznych ENT [online]. Dostępny w WWW: http://www.fourmilab.ch/random/
• 3.Horan D., Guinee R.: Correlation Analysis of Random Number Sequences based on Pseudo Random Binary Sequence Generation. Proc. of IEEE ISOC ITW2005 on Coding and Complexity, 2005, p.82-85.
• 4.Kotulski Z.: Generatory liczb losowych: algorytmy, testowanie, zastosowania. „Matematyka Stosowana” 2001, nr 2, s. 1-9.
• 5.Leśniewicz M.: Sprzętowa generacja losowych ciągów binarnych.Wydawnictwo Wojskowa Akademia Techniczna, Zegrze 2009.
• 6.Strona internetowa pakietu STS 2.1.1 http://csrc.nist.gov/groups/ST/toolkit/rng/documentation_software.html
• 7.Mutagi R.N.: Pseudo noise sequences for engineers. „Electronics & Communication Engineering Journal” 1996,Vol.8,Issue 2, p. 79-87.
• 8.Patidar V., Sud K. K.: A Novel Pseudo Random Bit Generator Based on Chaotic Standard Map and its Testing. „Electronic Journal of Theoretical Physics” 2009, No.20, p.327-344.
• 9.Rukhin A. and all: A Statistical Test Suite for Random and Pseudorandom Number Generators for Cryptographic Applications, National Institute of Standards and Technology, rev 1a, April 2010.
• 10.Rashidah K., Maarof M.A.: Randomness Analysis of Pseudorandom Bit Sequences. International Conference on Computer Engineering and Applications, IPCSIT vol.2 IACSIT Press, Singapore 2011, p. 390-394.
• 11.Soto J.: Statistical Testing of Random Number Generators, National Institute of Standards & Technology. Proceedings of the 22nd National Information Systems Security Conference, 10/99, p. 1-12.
• 12.Stępień R., Walczak J.: Comparative Analysis of Pseudo Random Signals of the LFSR and DLFSR Generators, proceedings of 20thInternational Conference „MIXED Design of Integrated Circuits and Systems”, MIXDES-2013, Gdynia, czerwiec 2013, p. 598-602.
• 13.Walczak J.,Stępień R.: Estimation of the pseudo random signal length with use of the FFT algorithm, rozdział w monografii „Computer Applications in Electrical Engineering”, Poznań University of Technology, Poznań 2012, p. 41-49.
• 14.Wang Y.: Nonparametric Tests for Randomness,ECE 461 PROJECT REPORT, maj 2003, p.1-11
• 15.Zwierko A.: Testowanie generatorów pseudolosowych - wybrane programowe pakiety testów statystycznych. VII Krajowa Konferencja Zastosowań Kryptografii, Warszawa, maj 2003, s.1-20.