Materiały Elektroniczne - Tom T. 41, nr 1 (2013) - BazTech - Yadda

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

T. 41, nr 1

Czasopismo

Materiały Elektroniczne

Wydawca

Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Rocznik

2013

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

T. 41, nr 1
- artykuł: Identyfikacja centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych 4H-SiC (Kozubal Michał), s. 3--9
- artykuł: Badanie właściwości szkliw pod kątem zastosowań w grubowarstwowych mikrorezystorach fotoformowalnych (Kiełbasiński K., Zwierkowska E., Achmatowicz S., Młożniak A., Jakubowska M.), s. 10--16
- artykuł: Wpływ profilu interfejsów i zaburzeń grubości warstw w zwierciadłach Bragga na ich własności optyczne (Gaca J., Mazur K., Turos A., Wesołowski M., Wójcik M., Jasik A., Muszalski J., Pierściński K.), s. 17--32
- artykuł: Rozpuszczalność granatu itrowo – glinowego w topniku PbO/B2O3 (Sarnecki J.), s. 33--46
- artykuł: Spektroskopia ramanowska grafenu (Grodecki K.), s. 47--53

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.