PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Wykorzystanie generatorów pseudolosowych w samotestowaniu urządzeń sterowania ruchem drogowym

Autorzy
Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
The use of pseudo-random number generators in self-testing of road traffic control devices
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Realizacja sterowników ruchu drogowego w formie urządzeń specjalizowanych z wykorzystaniem układów programowalnych wymaga stosowania nowoczesnych metod testowania tych urządzeń. W artykule do testowania sterowników zaproponowano wbudowane samotestowanie oraz odpowiednią architekturę BIST. Po przedstawieniu metod generacji sekwencji testowych i analizy odpowiedzi testowanego układu, przeanalizowano metody generowania pseudolosowych sekwencji testujących. Przedstawiono zastosowanie rejestrów LFSR oraz automatów komórkowych CA do generacji sekwencji pseudolosowych. W pracy przeanalizowano zastosowanie rejestrów LFSR zarówno w budowie generatorów testów TPG jak i analizatorów odpowiedzi testowanego układu ORA, do generacji sygnatury testowanego układu. Proponowana architektura BIST została zaimplementowana w specjalizowanym sterowniku ruchu drogowego. Przeanalizowano wpływ struktury BIST na parametry sterownika.
EN
Realization of road traffic controllers in the form of specialized devices with the use of programmable circuits requires application of modern testing methods of these devices. The author of the present paper proposes a built-in self-test (BIST) and a proper BIST architecture for controller testing. After presenting the methods of test sequence generation and the analysis of the tested circuit responses, the methods of pseudo-random test sequences have been analyzed. The application of linear-feedback shift registers (LFSR) and cellular automata (CA) for pseudo-random sequence generation has been presented. The paper analyzes the application of LFSR registers both in the construction of test pattern generators (TPG) as well as in output response analyzers (ORA) of the tested circuit for generation of the tested circuit signature. The proposed BIST architecture has been implemented in a specialized road traffic controller. The influence has been analyzed of the BIST structure on the parameters of controller operation.
Rocznik
Strony
520--525, CD
Opis fizyczny
Bibliogr. 11 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
  • Wydział Transportu Politechniki Warszawskiej, Zakład Sterowania Ruchem
Bibliografia
  • 1. Bushnell M. L., Agrawal V. D., Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, New York, 2002.
  • 2. Cattell K., Zhang S., Minimal Cost One-Dimensional Linear Hybrid Cellular Automata of Degree Through 500, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 6, 255-258, Klu-wer Academic Publishers, Boston, 1995.
  • 3. Firląg K., Metody samotestowania specjalizowanych urządzeń sterowania ruchem drogowym. Logistyka nr 4/2014, str. 1825-1834, Instytut Logistyki i Magazynowania, Poznań, 2014.
  • 4. Firląg K., Projektowanie i realizacja specjalizowanych sterowników ruchu drogowego w reprogramowalnych strukturach logicznych, Politechnika Warszawska, Prace Naukowe - Trans-port, z.77, str. 27-44, OWPW, Warszawa, 2011.
  • 5. Firląg K., Testowanie specjalizowanych urządzeń sterowania ruchem drogowym w strukturach FPGA, Politechnika Warszawska, Prace Naukowe - Transport, z.95, str. 115-124, OWPW, Warszawa, 2013.
  • 6. Hławiczka A., Rejestry liniowe – analiza, synteza I zastosowanie w testowaniu układów cyfrowych. Zeszyty Naukowe Politechniki Śląskiej, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice, 1997.
  • 7. Jha N. K., Gupta S., Testing of digital systems, Cambridge University Press, 2003.
  • 8. Kawalec P., Firląg K., Reliability analysis of specialized traffic control devices. Archives of transport, volume 19, issue 1-2, str. 75-82, Warszawska Drukarnia Naukowa PAN, Warszawa, 2007.
  • 9. Kawalec P., Firląg K., Synteza specjalizowanych układów sterowania ruchem drogowym w strukturach FPGA. Pomiary Automatyka Kontrola nr 7 bis’2006, str. 8 – 10, Agenda Wydawnicza Stowarzyszenia SIMP, Warszawa, 2006.
  • 10. Stroud C. E., A Designer's Guide to Built-In Self-Test. Kluwer Academic Publishers, 2002.
  • 11. Ward R., Molteno T., Table of Linear Feedback Shift Registers. Electronics technical report No. 2012-1, Electronics Group, University of Otago, 2012.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-8c71b397-5f38-4059-8b17-998287b0e0df
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.