PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Zastosowanie metod odkrywania wiedzy do lokalizacji uszkodzeń katastroficznych w analogowych układach elektronicznych

Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Application of data mining method for localisation of catastrophic faults in analogue electronics circuits
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Opracowano metodę odkrywania wiedzy do diagnostyki analogowych układów elektronicznych. W opisanej metodzie wykorzystano równoważność funkcjonalną pomiędzy siecią neuronową o radialnych funkcjach bazowych, a układem rozmytym typu Takagi-Sugeno. Zaproponowana procedura diagnostyczna umożliwia automatyczne konstruowanie słownika wiążącego zależności pomiędzy symptomami a uszkodzeniami układu elektronicznego. Metodę przetestowano dla danych zebranych z analizy stałoprądowej układów elektronicznych oraz dla dziedziny czasu (stany nieustalone). Otrzymane słowniki umożliwiły skuteczną lokalizację uszkodzeń katastroficznych w układzie filtru aktywnego oraz tranzystorowego wzmacniacza wideo.
EN
A data mining procedure is proposed for diagnosis of analogue electronic circuits. Radial Basis Functions Neural Network was used for knowledge acquisition, then the trained network was converted to Takagi-Sugeno fuzzy system so obtaining rule-base representation of the problem. The proposed procedure enables automatic construction of a dictionary that links faults and its symptoms in tested circuits. The method was validated on DC and time domain analyses. The generated fault dictionaries proved efficient in localizing catastrophic faults in the two tested electronic circuits: an active filter and two-stage transistor video amplifier.
Wydawca
Rocznik
Strony
154--156
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz., rys., tab., schem., wzory
Twórcy
autor
  • Politechnika Łódzka, Instytut Elektroniki
  • Politechnika Łódzka, Instytut Elektroniki
Bibliografia
  • [1] Catelani M., Fort A, Alippi C., A fuzzy approach for soft fault detection in analog circuits. Measurement 32 (2002), pp. 73-83.
  • [2] Grzechca D., Rutkowski J., Koncepcja konstrukcji rozmyto-neuronowego słownika do lokalizacji uszkodzeń testowanie w dziedzinie czasu. II Krajowa Konferencja Elektroniki, s. 253-258, Kołobrzeg 2003.
  • [3] Korbicz J., Diagnostyka procesów, WNT Warszawa 2002.
  • [4] Koszlaga J., Strumiłło P., Discovery of Linguistic Rules by Means of RBF Network for Fault Detection in Electronic Circuits, Artificial Intelligence and Soft Computing - ICAISC 2004 (Eds. L. Rutkowski, J. Siekman, R. Tadeusiewicz, L. A. Zadeh), pp. 223-228, Spring-Verlag, Berlin 2004.
  • [5] Rutkowski R., Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-89a7b43b-c5ef-4778-9b1d-c94932c73181
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.