Przegląd metodologii związanej z wielokątowym charakteryzowaniem wzorców widmowego współczynnika odbicia

• Autorzy: Skrzetuszewski Maciej , Górnik Sylwia , Zajkowski Maciej

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2024.03.45

Warianty tytułu

EN

Overview of methodology related to multi-angled characterization of the spectral reflectance standards

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł opisuje ogólne metody wzorcowania spektrofotometrów odbiciowych i kolorymetrów trójchromatycznych wzorcowanych w Głównym Urzędzie Miar w Zakładzie Elektryczności i Promieniowania. Zaprezentowano podstawowe wzory obliczeniowe mające zastosowanie w kolorymetrii odbiciowej. Przedstawiono stanowiska pomiarowe umożliwiające wyznaczenie dwukierunkowej funkcji rozkładu odbicia (BRDF) oraz stanowisko pomiarowe związane z wielokątowym charakteryzowaniem wzorców widmowego współczynnika odbicia.

EN

his paper describes the general rules of calibration procedure for reflectance spectrophotomers and trichromatic colorimeters used at the Central Office of Measures in the Electricity and Radiation Department. Basic calculation formulas applicable in reflectance colorimetry are presented. The paper presents a measuring stands which has been used to determine BRDF and the measurement stand related to multi-angled characterization of the spectral reflectance standards.

Słowa kluczowe

PL

światło odbite; wzorce widmowego współczynnika odbicia; spektrofotometr z przystawką wielokątową

EN

reflected light; spectral reflectance standard; reflectance colorimetry

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2024
• Tom: R. 100, nr 3
• Strony: 257--261
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Skrzetuszewski Maciej

• Główny Urząd Miar, Zakład Elektryczności i Promieniowania

autor

Górnik Sylwia

• Główny Urząd Miar, Zakład Elektryczności i Promieniowania

autor

Zajkowski Maciej

• Politechnika Białostocka, Wydział Elektryczny

Bibliografia

• [1] Jaglarz J., Duraj R.,Goniometryczny pomiar funkcji BRDF dla powierzchni stałych, Czasopismo Techniczne. Nauki Podstawowe, (2011), R. 108, Z. 22, 1-NP, 85-94
• [2] Zydorowicz A., Książek K., Górnik S., Wzorcowanie spektrofotometrów odbiciowych i kolorymetrów trójchromatycznych, Metrologia. Biuletyn Głównego Urzędu Miar (2010), nr 4(19), 8-17
• [3] Commission Internationale de I'Eclairage, Technical report. Colorimetry, Publ. CIE 130 (CIE, 2004).
• [4] Mielicki J. „Zarys wiadomości o barwie”, FRPK, Łódź ,1997
• [5] PN-989/E-04042/2, Pomiary promieniowania optycznego. Pomiary kolorymetryczne. Iluminanty i źródła normalne
• [6] Felhorski W., Stanioch W., Kolorymetria trójchromatyczna, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa,1973
• [7] Nicodemus F.E., Richmond J.C., and Hsia J.J., Geometrical Considerations and Nomenclature for reflectance, National Bureau of Standards Monograph (National Bureau of Standards), Washington, (1977), Vol. 160.
• [8] Falski M., Przegląd modeli oświetlenia w grafice komputerowej, praca magisterska, Uniwersytet Wrocławski, Wydział Matematyki i Informatyki, 2004
• [9] Nevas S., Manoocheri F., Ikonen E., Gonioreflectometer for measuriung spectral diffuse reflectance, Applied Optics, 43(35), (2004), 6391–6399
• [10] instrukcja użytkowania spektrofotometru Perkin Elmer Lambda 950/1050, High Perforomance Lambda Spectrometers, Perkin Elmer (2014)
• [11] van Nijnatten P.A.,Timmermans S.J.M., instrukcja użytkowania przystawki wielokątowej TAMS do spektrofotometru PE Lambda 1050, TAMS. Total Absolute Measurement System. User Manual, OMT Solutions BV, (2020)

Uwagi

Opracowanie rekordu ze środków MNiSW, umowa nr POPUL/SP/0154/2024/02 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki II" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2025).