Szacowanie wartości temperatury złącza półprzewodnikowego na podstawie wartości temperatury wyprowadzenia diody

• Autorzy: Dziarski K.

Identyfikatory

DOI

10.21008/j.1897-0737.2018.95.0023

Warianty tytułu

EN

Estimate of semiconductor diode junction temperature based on diode PIN

• Konferencja: Computer Applications in Electrical Engineering (23-24.04.2018 ; Poznań, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W niniejszym artykule przedstawiono związek pomiędzy wartością temperatury wyprowadzenia i wartością temperatury złącza diody półprzewodnikowej w obudowie do montażu powierzchniowego. Przedstawiono parametry wybranych diod półprzewodnikowych. Omówiono metodykę przeprowadzonych badań i skonstruowany układ pomiarowy. Zaprezentowano sposób szacowania temperatury złącza diody półprzewodnikowej na podstawie charakterystyki wiążącej wartość spadku napięcia UF i wartość temperatury. Przedstawiono dobór wartości współczynnika emisyjności wyprowadzenia ε pozwalający uzyskać wystarczająco dokładną wartość temperatury wyprowadzenia, na podstawie której możliwe jest oszacowanie wartości temperatury złącza. Dodatkowo przedstawiono zastosowaną kamerę termowizyjną.

EN

Junction temperature is one of the most important parameters of semiconductor diode. Diode operation depends on junction temperature. Correct measurement is difficult because of a small size of the object. The measurements are especially complex for SMD (Surface Mount Device) diodes, which have a size of a few millimeters. Contact measurement method with temperature sensor is unreliable. Alternative way is the noncontact thermovision measurement, which can give an information about the temperature of the diode pins. In practice the information about diode junction is more significant. This article describe relation between a result of diode pins thermovision measurement and temperature of junction. The diodes with two semiconductors junctions in the same case was used. Junctions of the diodes was connected in various kind (common anode and common cathode). It was found relation, which allow estimate of junction temperature value based on pin temperature.

Słowa kluczowe

PL

dioda półprzewodnikowa; wartość temperatury złącza; wyprowadzenie; termowizja

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
• Rocznik: 2018
• Tom: No. 95
• Strony: 243--254
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Dziarski K.

• Politechnika Poznańska

Bibliografia

• [1] Karta katalogowa BAS40DIO https://www.tme.eu/pl/Document/c8b66a44b24a6d3276e8814b54124b5f/bas40.pdf, dostęp 25.1.2018.
• [2] Hauser J., Elektrotechnika podstawy elektrotermii i techniki świetlnej, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2006.
• [3] Cysewska-Sobusiak A., Podstawy metrologii i inżynierii pomiarowej, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2010.
• [4] Dziarski K., Wiczyński G., Termowizyjny pomiar temperatury złącza diody półprzewodnikowej, Poznań University of Technology Academic Journals, Issue 92, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2017
• [5] Rudkowski G., Termowizja i jej zastosowanie, Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 1978.
• [6] Minkina W., Pomiary termowizyjne – przyrządy i metody, Wydawnictwa Politechniki Częstochowskiej, Częstochowa 2004.
• [7] Instrukcja kamery E50 prod. Flir. http://www.kameryir.com.pl/pdf/E/FLIR_E50WF_PL., dostęp 25.01.2018.
• [8] Zarębski J., Modelowanie, symulacja i pomiary przebiegów elektrotermicznych w elementach półprzewodnikowych i układach elektronicznych, wydawnictwo uczelniane WSM Gdynia, 1996.

Uwagi

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2018).