PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Badanie dokładności rekonstrukcji powierzchni z interferogramu światła białego z wykorzystaniem metod bazujących na transformacie Hilberta

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Investigation of surface reconstruction precision from white light interferograms based on Hilbert transform
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W pracy opisano metody rekonstrukcji profilu powierzchni z interferogramu światła białego. Po krótkim wprowadzeniu do teorii sygnałów analitycznych, zaproponowano cztery metody rekonstrukcji profilu powierzchni wykorzystujące dyskretną transformatę Hilberta. Przedstawiono wyniki badań dokładności tych metod na przykładzie rekonstrukcji powierzchni płaskiej pochyłej oraz kulistej.
EN
The paper describes methods of surface profile reconstruction from the white light interferogram. The theoretical basis for a theory of analytical signals are given. Four methods for the reconstruction of the surface profile using a discrete Hilbert transform are offered. The accuracy analyses of these methods are presented on an example of the slant planar surface and spherical surface reconstruction.
Rocznik
Strony
210--215
Opis fizyczny
Bibliogr. 17 poz., rys.
Twórcy
  • Politechnika Opolska, Instytut Automatyki i Informatyki
autor
  • Doktorantka, Narodowy Uniwersytet „Politechnika Lwowska”
Bibliografia
  • [1] Goodwin E.P., Wyan J.C. (2006). Field Guide to Interferometric Optical Testing, Washington: SPIE Press. (2006)
  • [2] Whitehouse D.J., Surface metrology, Meas. Sci. Technol., (1997), No.8, 955–972
  • [3] Kapłonek W., Łukianowicz C., Zastosowanie koherencyjnej interferometrii korelacyjnej do pomiarów topografii powierzchni, Przegląd Elektrotechniczny, 78 (2010), nr.10, 43-46
  • [4] Wyant J.C., White light interferometry, In Proc. SPIE 2002, Vol. 4737, (2002), 98-107
  • [5] Legande-Saenz R., Rodriguez-Vera R., Espinosa-Romero A. Dynamic 3-D shape measurement method based on quadrature transform, Optics Express (2010),vol.18, No. 3, 2639-2645
  • [6] Chen F., Brown G.M., Song M. Owerwiev of three-dimensional shape measurement using optical methods, Opt. Eng. 39, (2000), 10-22
  • [7] Muhamedsalih Н.М., Investigation of wavelength scanning interferometry for embedded metrology”, Ph.D. thesis, Univ. of Huddersfield, (2013)
  • [8] Magalhaes P., Neto, P., Magalhães, C., New carré equation. Metrol. Meas. Syst. 17(2), (2010), 173–194
  • [9] Adamczak S., Makieła, W., Stępień, K., Investigating advantages and disadvantages of the analysis of a geometrical surface structure with the use of Fourier and wavelet transform. Metrol. Meas. Syst. 17(2), (2010), 233–244
  • [10] Stadnyk B., Manske E., Khoma A., State and prospects of computerized systems monitoring the topology of surfaces, based on white light interferomertry. Computational Problems of Electrical Engineering. 4(1), (2014), 75-80
  • [11] Abdul-Rahman, H., Three-dimensional Fourier Fringe analysis and phase unwrapping. Ph.D. thesis. Liverpool John Moores University, (2007)
  • [12] Novak J. Computer analysis of interference fields using Matlab, MATLAB conference, (2002)
  • [13] Cincio, R., Kacalak, W., Łukianowicz, C. System Talysurf CCI 6000 – metodyka analizy cech powierzchni z wykorzystaniem TalyMap Platinium. PAK. 54(4), (2008), str. 187-191.
  • [14] Khoma, A. (2014). Method of surface reconstruction from white light interferogram based on Hilbert transrorm. Computer Science and Information Technology, Lviv Polytechnic National University. No 800. 168-175. (in Ukrainian)
  • [15] Smith J.O., Mathematics of the Discrete Fourier Transform (DFT) CCRMA, Stanford, (2002)
  • [16] Zieliński T.P., Od teorii do cyfrowego przetwarzania sygnałów, ANTYKWA, Kraków, (2002)
  • [17] Smith S.W., Digital signal processing. A practical guide for engeneers and scientists, Elsevier Science, (2003)
Uwagi
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-8400439a-ee14-40b2-b3b2-f62efd8205da
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.