Investigation of semiconductor diode heating based on temperature measurements using a thermovision camera

• Autorzy: Litwa M. , Wiczyński G.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

In the paper, investigations of semiconductor diodę heating to be observed by a rrmovision camera are presented. The presented results are given as time varying waveforms of temperature recorded for the diode case during its heating .

Słowa kluczowe

EN

diode heating; thermovision camera; heat abilities; infrared measurement

PL

ogrzewanie diody; kanera termowizyjna; zdolności cieplne; pomiary podczerwieni

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
• Rocznik: 2011
• Tom: No. 65
• Strony: 135--141
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys.

Twórcy

autor

Litwa M.

• Poznan University of Technology

autor

Wiczyński G.

• Poznan University of Technology

Bibliografia

• [1] Minkina W., Rutkowski P., Wild W.: „Podstawy pomiarów termowizyjnych, część I - Istota termowizji i historia jej rozwoju, część II - Współczesne rozwiązania systemów termowizyjnych, błędy metody", Pomiary Automatyka Kontrola, vol. 46, nr 1, pp. 7-14.
• [2] Madura H. (red.): „Pomiary termowizyjne w praktyce", PAK, Warszawa, 2004.
• [3] Minkina W.: "Pomiary termowizyjne - przyrządy i metody", Wydawnictwa Politechniki Częstochowskiej, Częstochowa, 2004.
• [4] Więcek B.: „Wybrane zagadnienia współczesnej termowizji w podczerwieni", Politechnika Łódzka. Instytut Elektroniki, Łódź, 2010.
• [5] Litwa M.: „Influence of Angle of View on Temperature Measurements Using Thermovision Camera", IEEE SENSORS JOURNAL, vol. 10, No. 10, October 2010, pp. 1552-1554.
• [6] Specification of BAT54S diode, http://www.fairchildsemi.com/ds/BA/BAT54.pdf, 28.02.2011