Badanie transoptorów za pomocą wirtualnych przyrządów pomiarowych w systemie NI ELVIS II

• Autorzy: Kardyś P. , Dąbrowski A.

Warianty tytułu

EN

Examining photocouplers by means of virtual instruments in NI ELVIS II system

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przeanalizowano możliwości oraz przedstawiono zalety korzystania z wirtualnych przyrządów pomiarowych w systemie NI ELVIS II przy badaniu właściwości i wyznaczaniu wybranych parametrów transoptorów, m.in.: charakterystyki wejściowej, wyjściowej i przejściowej, przekładni prądowej (CTR) dla różnych punktów pracy, ponadto parametrów dynamicznych, a także charakterystyk częstotliwościowych, a tym samym pasma przenoszenia. Dzięki wirtualnym przyrządom pomiarowym wiele z tych pomiarów przeprowadza się automatycznie, co jest bardzo istotną zaletą. Przedstawiony w artykule sposób testowania transoptorów – w ogólności czwórników – może być pomocny w badaniach i testach również innych podzespołów elektronicznych za pomocą tego nowoczesnego narzędzia pomiarowego.

EN

This article analyzes possibilities and presents capabilities of the NI ELVIS II measurement system for examining and determining chosen photocoupler parameters such as: input, output and transient characteristics, the current transfer ratio (CTR) for various working conditions, moreover the dynamic parameters as well as the frequency response and thereby the passband. Thanks to virtual instruments in LabVIEW, a lot of these measurements are automatic, which is very convenient. The proposed photocoupler – generally a two-port network – testing method can be helpful in examining other electronic components by means of this modern measurement system.

Słowa kluczowe

PL

LabVIEW; przyrząd wirtualny; przyrząd pomiarowy; transoptor; czwórnik; system NI ELVIS II

EN

NI ELVIS II system; LabVIEW; virtual instrument; two-port network

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 89, nr 10
• Strony: 90--93
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Kardyś P.

• Politechnika Poznańska, Wydział Informatyki, Katedra Sterowania i Inżynierii Systemów, Pracownia Układów Elektronicznych i Przetwarzania Sygnałów

autor

Dąbrowski A.

• Politechnika Poznańska, Wydział Informatyki, Katedra Sterowania i Inżynierii Systemów, Pracownia Układów Elektronicznych i Przetwarzania Sygnałów

Bibliografia

• [1] Nawrocki W., Komputerowe systemy pomiarowe, Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa (2007)
• [2] National Instruments, Integrated suite of 12 instruments for hands-on, multidiscipline education (2009)
• [3] Świsulski D., Komputerowa technika pomiarowa; Oprogramowanie wirtualnych przyrządów pomiarowych w LabVIEW, Agenda Wydawnicza Pomiary-Automatyka-Kontrola, Warszawa (2005)
• [4] Dąbrowski A. i inni, Wykorzystanie NI LabVIEW, ELVIS II, CompactDAQ i SmartCamera z osprzętem w kształceniu studentów w Pracowni Układów Elektronicznych i Przetwarzania Sygnałów Politechniki Poznańskiej, NI Academic & Research Days, Warszawa-Wrocław (2010), 07.1-07.27
• [5] Dąbrowski A. i inni, Od metrologii do systemów wizyjnych: środowisko NI LabVIEW w laboratoriach naukowych, Wiadomości Elektrotechniczne (2011), nr 11, 42-44
• [6] Sharp, Karty katalogowe: PC817 series