PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Investigation of the impact of simulated solar radiation on the micro- and nanoscale morphology and mechanical properties of a sheet moulded composite surface

Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
In this paper we present the results of investigation of micro- and nanoscale degradation of a sheet moulded composite exposed to simulated solar radiation. Utilization of high resolution methods such as atomic force microscopy, optical profilometry and microcomputer tomography allowed us to provide the evidence of significant deterioration of the surface as well as the material few microns in depth. Additionally, the typically used macroscopic investigations, such as wettability and flexural strength, were performed to observe the impact of weathering process. It was also shown that high resolution techniques provide superior sensitivity of the material degradation detection. The particular effectiveness of the applied approach was related to the structure of investigated material, as due to its degradation, a number of voids appeared, causing a significant roughness increase. In addition, the impact of light radiation could be compared to other environmental conditions maintained in the climatic chamber. It should be underlined, that according to our knowledge, such a study has not been performed so far.
Wydawca
Rocznik
Strony
641--649
Opis fizyczny
Bibliogr. 29 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
  • ElectrotechnicalInstitute,DivisionofElectrotechnologyandMaterialsScience, M.Skłodowskiej-Curie55/61,50-369Wrocław
autor
  • ElectrotechnicalInstitute,DivisionofElectrotechnologyandMaterialsScience, M.Skłodowskiej-Curie55/61,50-369Wrocław
autor
  • WrocławUniversityofTechnology,FacultyofMicrosystemElectronicsandPhotonics, Janiszewskiego11/17,50-372Wrocław
autor
  • ElectrotechnicalInstitute,DivisionofElectrotechnologyandMaterialsScience, M.Skłodowskiej-Curie55/61,50-369Wrocław
autor
  • ElectrotechnicalInstitute,DivisionofElectrotechnologyandMaterialsScience, M.Skłodowskiej-Curie55/61,50-369Wrocław
Bibliografia
  • 1. Loos J., Adv. Mat., 17 (15) (2005), 1821.
  • 2. Malinauskas M., Zukauskas A., Belazaras K., Tikuisis K., Purlys V., Gadonas R., Piskarskas A., Eur. Phys. J.-Appl. Phys., 58 (2012), 20501.
  • 3. Salas O., Kearns K., Carrera S., Moore J.J., Surf. Coat. Tech., 172 (2-3) (2003), 117.
  • 4. Soltani P., Johari M.S., Zarrebini M., Powder Technol., 254 (2014), 44.
  • 5. Falat T., Matkowski P., Platek B., Zandén C., Felba J., Ye L.-L., Liu J., EMPC 2013, 2013 (2013), 1.
  • 6. Suresh B., Maruthamuthu S., Khare A., Palanisamy N., Muralidharan V.S., Ragu-nathan R., Kannan M., Pandiyaraj K.N., J. Polym. Res., 18 (6) (2011), 2175.
  • 7. Nowicki M., Richter A., Wolf B., Kaczmarek H., Polymer, 44 (21) (2003), 6599.
  • 8. Robertson C., Wertheimer M., Fournier D., Lamarre L., IEEE T. Dielec. El. In., 3 (2) (1996), 283.
  • 9. Minoshima K., Oie Y., Komai K., ISIJ Int., 43 (4) (2003), 579.
  • 10. Wu J., Zhao M., Nguyen T., Gu X., Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 1056 (2008), 227.
  • 11. Proff C., Abolhassan S., Dadras M.M., Lemaignan C., J. Nucl. Mater., 404 (2010), 97.
  • 12. Sikora A., Meas. Sci. Technol., 25 (2014), 055401.
  • 13. Sikora A., Optica Appl., 43 (1) (2013), 163.
  • 14. Garcia R., Perez R., Surf. Sci. Rep., 47 (2002), 197.
  • 15. Sikora A., Bednarz L., Przeglad Elektrotechniczny, 11a/2010 (2010), 207.
  • 16. Sikora A., Bednarz L., Cent. Eur. J. Phys., 9 (2) (2011), 372.
  • 17. Butt H.-J., Cappella B., Kappl M., Surf. Sci. Rep., 59 (1-6) (2005), 1.
  • 18. Sikora A., Iwan A., High Perform. Polym., 24 (3) (2012), 218.
  • 19. Standard ISO/DIS 25178-2 ASME B46.1.
  • 20. http://www.imagemet.com, accessed 25.11.2015.
  • 21. Vincent O.R.F.O, InSITE 2009, 2009 (2009), 97
  • 22. Iwan A., Boharewicz B., Tazbir I., Sikora A., Schab-Balcerzak E., Grucela-Zajac M., Sko-Rka L., Synthetic Met., 189 (2014), 183.
  • 23. Iwan A., Boharewicz B., Parafiniuk K., Tazbir I., Gorecki L., Sikora A., Filapek M., Schab-Balcerzak E., Synthetic Met., 195 (2014), 341.
  • 24. Chuchmała A., Palewicz M., Sikora A., Iwan A., Synthetic Met., 169 (2013), 33.
  • 25. http://www.imagemet.com/WebHelp6/Default.htm#RoughnessParameters/Roughness_Parameters.htm, accessed 25.11.2015.
  • 26. Derjaguin B. V., Muller V. M., Toporov Y.U.P., J. Colloid Interf. Sci., 53 (1975), 314.
  • 27. Ekwińska M., Rymuza Z., Microelectron. Eng., 87 (2010), 1404.
  • 28. http://www.brukerafmprobes.com/p-3249-ddesp-10.aspx, accessed 25.11.2015.
  • 29. Ozimek M., Sikora A., Wilczyński W., Przeglqd Elektrotechniczny, 89 (8) (2013), 208.
Uwagi
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-816fcb1a-0007-4dea-8cb4-f646a1b50565
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.