Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
WLCSP Packages Test Technology
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule przedstawiono rozwiązania kart do testowania pakietów WLCSP. Przeanalizowano wymagania testowe pakietów WLCSP i omówiono testy weryfikujące karty testowe wykorzystujące w głowicach mikrokontaktory sprężynkowe. Przedstawiono wybrane testy niezawodności kart testowych.
The article presents probe card solutions for testing of the WLCSP packages. The test requirements were presented and the spring pin probe cards were discussed. Selected reliability tests of the probe cards were described.
Wydawca
Rocznik
Tom
Strony
25--29
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz., il., rys., wykr.
Twórcy
autor
- Tubingen, Niemcy
Bibliografia
- [1] Beica R. “The Growth of Advanced Packaging” Semicon, Taiwan, 2015.
- [2] Kumar S. “Advanced Packaging Current Trends & Challenges”, Yole Developpment Report, 2020.
- [3] Shoo F. “Fan-Out Packaging 2020” Yole Developpment Report, 2020.
- [4] Kumar S. “Status of the Advanced Packaging Industry 2020”, Yole Developpment Report, 2020.
- [5] Shoo F. “High-End Performance Packaging: 3D/2.5D Integration 2020” Yole Developpment Report, 2020.
- [6] Dabrowiecki K. “FeinProbe® Solution for WLCSP Applications”, SWTW, San Diego, 2017.
- [7] Dabrowiecki K., Gneiting T., Moreira J. “Evaluating a spring probe card solution for 5G WLCSP” Chip Scale Review, Nov/Dec 2019.
- [8] Materiały i raporty firm Amkor, Apple, TSMC.
Uwagi
Opracowanie rekordu ze środków MNiSW, umowa Nr 461252 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2021).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-8165a81c-90ab-40fd-b6c4-4b7dfb0a61fc