Simulation of the influence of multiple reflections of background radiation on the thermography results

• Autorzy: Hots Natalia , Przystupa Krzysztof , Mikhalieva Maryna , Ruslan Berestov

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2022.03.27

Warianty tytułu

PL

Symulacja wpływu wielokrotnych odbić promieniowania tła na wyniki pomiarów termowizyjnych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper investigates the effect of background radiation on the accuracy of temperature measurement by infrared radiation and defines the requirements to neglect multiple reflections of radiation. The theoretical analysis is confirmed by the results of modeling the temperature measurement radiation errors.

PL

W artykule przeprowadzono analizę wpływu promieniowania tła na dokładność pomiaru temperatury promieniowaniem podczerwonym. Zdefiniowano wymagania dotyczące możliwości pominięcia wielokrotnych odbić promieniowania. Analizę teoretyczną potwierdzono wynikami modelowania błędów radiacyjnych pomiaru temperatury.

Słowa kluczowe

EN

intensity of radiation; background radiation; multiple reflections of radiation; radiation temperature measurement

PL

intensywność promieniowania; promieniowanie tła; wielokrotne odbicie promieniowania; pomiar temperatury promieniowania

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2022
• Tom: R. 98, nr 3
• Strony: 117--120
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys.

Twórcy

autor

Hots Natalia

• Lviv Polytechnic National University, Institute of Computer Technology, Automation and Metrology, Department of Information and Measurement Technology, Lviv, Ukraine

• https://orcid.org/0000-0003-2666-2187

autor

Przystupa Krzysztof

• Lublin University of Technology

• https://orcid.org/0000-0002-9961-1244

autor

Mikhalieva Maryna

• Hetman Petro Sahaidachnyi National Army Academy: Lviv, UA

• https://orcid.org/0000-0001-5612-+3737

autor

Ruslan Berestov

• Lviv Polytechnic National University, Institute of Computer Technology, Automation and Metrology, Department of Information and Measurement Technology, Lviv, Ukraine

Bibliografia

• [1] Gaussoggues G. La Thermographie Infrarouge: Principes- Technologie-Applications. 4 Ed.Paris, Lavoisier, 1990, 586p.
• [2] Lineveg F. Izmerenietemperaturvtehnike.Spravochnik. Per. s nem. – M: «Metallurgiya». – 1980, - 544 р.
• [3] Kruczek, T. Use of infrared camera in energy diagnostics of the objects placed in open air space in particular at non- isothermal sky. Energy, 2015, 91, pp. 35–47.
• [4] Kruczek, T.Conditions for the use of infrared camera diagnostics in energy auditing of the objects exposed to open air space at isothermal sky. Archives of Thermodynamics, 2015, 36(1), pp. 67–82.
• [5] Strąkowska, M., Strąkowski, R., Strzelecki, M., De Mey, G., Więcek, B. Thermal modelling and screening method for skin pathologies using active thermography. Biocybernetics and Biomedical Engineering, 2018, 38(3), pp. 602–610.
• [6] Torzyk, B., Wiecek, B. Second-Harmonic Contactless Method for Measurement of RMS Current Using a Standard Infrared Camera. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 70, 9423985
• [7] H. D. Tholl; F. Münzhuber; J. Kunz; M. Raab; M. Rattunde; S. Hugger; F. Gutty; A. Grisard; C. Larat; D. Papillon; M. Schwarz; E. Lallier; M. Kastek; T. Piatkowski; F. Brygo; C. Awanzino; F. Wilsenack; A. Lorenzen Active multispectral reflection fingerprinting of persistent chemical agents. Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2017, 10434, 104340C.
• [8] Dulski, R., Pia̧ tkowski, T., Polakowski, H. Sectoral thermal emitter for testing of modern IR systems. Infrared Physics and Technology, 2014, 67, pp. 14–20.
• [9] Ранцевич В.Б. Расчет влияния излучения посторонних источников на результаты измерений температуры пирометрами различных типов // Физические свойства металлов и проблемы неразрушающего контроля. - Мн.: Наука и техника. - 1978. – С. 131-145.
• [10] Hots N.Y., Hrynevych B.Y., Zasymenko V.M. Umova nekhtuvannia vplyvom bahatokratnykh vidbyvan za naiavnosti fonovoho vuprominiuvannia // Vymiriuvalna tekhnika ta metrologia. – Lviv: Vydavnyctvo Natsionalnoho Universytetu “Lvivska Politekhnika”. - 2002. - No60. – s. 131-132.