Identyfikatory
Warianty tytułu
The application of the LabVIEW environment for testing characteristics of a low–pass filter
Konferencja
Computer Applications in Electrical Engineering (18-19.04.2016 ; Poznań, Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
W pracy zaprezentowano możliwości zastosowania zintegrowanego środowiska programowania LabVIEW do wyznaczania charakterystyki amplitudowej filtru dolnoprzepustowego. Przedstawiono podstawy teoretyczne działania tego typu filtrów oraz określono wybrane parametry tych podzespołów. Zaprezentowano proces tworzenia przykładowego filtru z wykorzystaniem oprogramowania FilterPro. Zaproponowano algorytm przetwarzania, który umożliwia wyznaczanie żądanej charakterystyki. Zaprojektowano i skonstruowano przykładowy filtr dolnoprzepustowy. Opracowano oprogramowanie, napisane w środowisku LabVIEW, umożliwiające akwizycję sygnałów pomiarowych. Przedstawiono przykładowe wyniki badań z wykorzystaniem zaprojektowanego filtru. Omówiono możliwości prezentacji i wizualizacji wyników pomiarów w postaci wygodnej i przyjaznej dla użytkownika.
Possible application of the integrated LabVIEW environment to evaluation of the attenuation diagram of low–pass filter is presented in the paper. The paper shows the measurement results, which were obtained on a designed measuring position, presented in Fig. 1, consisting of the source of a signal of voltage, the voltmeters indicating the true values of input and output voltages and a computer with control software. The process of formation of selected low–pass filter by using application software FilterPro was presented in the paper. By using the LabVIEW environment – as it is illustrated with an example of the developed application – we can support or add variety to the teaching of students in the field of metrology and measurement theory. The authors consider how the measurement results could be presented and visualised in a convenient and user–friendly form. The topics discussed in the paper were analysed with the use of selected LabVIEW applications.
Słowa kluczowe
Rocznik
Tom
Strony
411--420
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz., rys.
Twórcy
Bibliografia
- [1] Zieliński T.P., Od teorii do cyfrowego przetwarzania sygnałów, Wydawnictwo AGH, 2002.
- [2] National Instruments Corporation: LabVIEW User Manual, 1999.
- [3] Travis J., Kring J., LabVIEW for everyone, New York Prentice Hall, 2006.
- [4] LabVIEW – Measurement Manual National Instrument Corporation, 2000.
- [5] Nawrocki W., Komputerowe systemy pomiarowe, WKŁ, Warszawa 2007.
- [6] Rak R., Wirtualny przyrząd pomiarowy, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2003.
- [7] Otomański P., Szlachta A., The evaluation of expanded uncertainty of measurement results in direct measurements using the LabVIEW environment, Measurement Science Review, 8, 2008, pp. 147–150.
- [8] Krawiecki Z., Odon A., Zastosowanie środowiska LabVIEW do realizacji wybranych zagadnień dydaktycznych z metrologii, Proceedings of XIII Conference Computer Applications In Electrical Engineering, Poznań 2008, pp. 369–370.
- [9] Sokoloff L., Applications in LabVIEW, New Jersey Prentice Hall, 2004.
- [10] Agilent 33120A, User’s Guide, 2002.
- [11] Agilent 34401A, 6½ Digit Multimeter, User’s Guide, 2012.
- [12] FilterPro User’s Guide, Texas Instruments, 2011.
Uwagi
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-7a4da373-ec1a-4627-9ddc-8ed882932f9f