Trawienie plazmowe i ultradźwiękowe warstw tlenku indowo - cynowego (ITO) - Cz. II. Właściwości elektryczne diod OLED

• Autorzy: Janeczek K. , Araźna A. , Futera K.

Warianty tytułu

EN

Plasma and ultrasonic treatment of indium-tin oxide (ITO) films Part. II Electrical properties of OLEDs

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy badano wpływ właściwości powierzchni warstw ITO trawionych w ultradźwiękach lub z wykorzystaniem tlenowego wyładowania jarzeniowego na właściwości elektryczne diod OLED. Analizując wyniki badań stwierdzono, że chropowatość powierzchni warstw ITO ma istotny wpływ na wartości gęstości prądu próbek diod OLED, a poza tym, że czyszczenie powierzchni z zastosowaniem tlenowego wyładowania jarzeniowego może być uznane za skuteczną metodę trawienia warstw ITO, wykorzystywanych jako anoda diod OLED.

EN

In this study, the influence of surface properties of ITO layers treated in ultrasonic or with using oxygen glow discharge on electrical properties of OLED samples was investigated. Experimental results showed that the electrical properties of OLED samples are closely related to the surface roughness of ITO layers and furthermore that the oxygen glow discharge surface treatment can be considered as an effective method for treated of ITO layers used as an anode of OLEDs.

Słowa kluczowe

PL

ITO; elektronika drukowana; OLED; właściwości elektryczne

EN

ITO; printed electronics; OLED; electrical properties

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2015
• Tom: R. 91, nr 9
• Strony: 224--225
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys.

Twórcy

autor

Janeczek K.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, ul. Ratuszowa 11, 03-450 Warszawa

autor

Araźna A.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, ul. Ratuszowa 11, 03-450 Warszawa

autor

Futera K.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, ul. Ratuszowa 11, 03-450 Warszawa

Bibliografia

• [1] Li C.N., Kwong C.Y., Djurisic A.B., Lai P.T., Chui P.C., Chan W.K., Liu S.Y., Improved performance of OLEDs with ITO surface treatments; Thin Solid Films, 477 (2005), 57-62
• [2] Kim S. H., Baek S. J., Chang Y. Ch., Chang H. J., Dependence of plasma treatment of ITO electrode films on electrical and optical properties of polymer light-emitting diodes, Phys. Status Solidi A, 209 (2012), 2317-2323
• [3] Zhong Z.Y., Jiang Y.D., Surface modification and characterization of indium–tin oxide for organic light-emitting devices, J. Coll. Inter. Sci., 302 (2006), 613-619
• [4] Besbes S., Ouada H. B., Davenas J., Ponsonnet L., Jaffrezic N., Alcouffe P., Effect of surface treatment and functionalization on the ITO properties for OLEDs, Mater. Sci. Eng. C, 26 (2006), 505-510
• [5] You Z.Z., Dong J. Ya, Effect of oxygen plasma treatment on the surface properties of tin-doped indium oxide substrates for polymer LEDs, J. Coll. Inter. Sci., 300 (2006), 697-703
• [6] You Z.Z., Combined AFM, XPS, and contact angle studies on treated indium–tin-oxide films for organic light-emitting devices, Mater Lett, 61 (2007), 3809-3814
• [7] Petrosino M., Vacca P., Miscioscia R., Nenna G., Minarini C., Rubino A., Effect of electrodes properties on OLED performances, Photonic Mater., Devices, and Appl. II, Proc. of SPIE, vol. 6593, no. 659311 (2007)
• [8] Lin Y.-J., Baikie I.D., Chou W.-Y., Lin S.-T., Chang H.-C., Chen Y.-M., Liu W.-F., Changes in surface roughness and work function of indium-tin-oxide due to KrF excimer laser irradiation, J. Vac. Sci. Technol. A, 23, 1305 (2005)
• [9] Kavei G., Zare Y., Mohammadi Gheidari A., Evaluation of Surface Roughness and Nanostructure of Indium Tin Oxide (ITO) Films by Atomic Force Microscopy, Scanning, 30 (2008), 232-239
• [10] Jonda Ch., Mayer A.B.R., Stolz U., Elschner A., Karbach A., Surface roughness effects and their influence on the degradation of organic light emitting devices, J Mater Sci, 35 (2000), 5645-5651
• [11] Futera K., Jakubowska M., Kozioł G., Araźna A., Janeczek K., “Low cost Inkjet printing system for organic electronic applications”, 9th International Conference Mechatronics, 21-24.09.2011, Warszawa
• [12] Futera K., Printed electronic on flexible and glass substrates, XII Int. PhD Workshop OWD 2010, 23-26.X.2010, Wisła
• [13] Kim K.-B., Tak Y.-H., Han Y.-S., Baik K.-H., Yoon M.-H., Lee M.-H., Relationship between Surface Roughness of Indium Tin Oxide and Leakage Current of Organic Light-Emitting Diode, Jpn. J. Appl. Phys., 42, L 438 (2003)
• [14] Tak Y.H., Kim K.B., Park H.G., Lee K.H., Lee J.R., Criteria for ITO (indium–tin-oxide) thin film as the bottom electrode of an organic light emitting diode, Thin Solid Films, 411 (2002), 12-16