Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Optymalizacja wydajności przekształtnika PFC z półprzewodnikami z azotku galu
Języki publikacji
Abstrakty
Novel Gallium Nitride wide bandgap semiconductor devices are capable of improving efficiency of power converters. This article presents a practical optimisation of GaN converter application in the totem-pole power factor conversion converter. As the bottom side cooled devices are used, the article shows integration of switching device and gate driver on a single insulated metal substrate board, attractive for high power density power supply solutions. Measured efficiency data together with analysis of losses distribution and optimization at specific operating conditions are included. Design files of printed circuit board, created in free tool KiCad, used for evaluated prototype are part of this publication.
Nowatorskie urządzenia półprzewodnikowe z azotkiem galu o szerokiej przerwie energetycznej są w stanie poprawić wydajność przekształtników mocy. W artykule przedstawiono praktyczną optymalizację zastosowania konwertera GaN w przekształtniku konwersji współczynnika mocy. Ponieważ stosowane są urządzenia chłodzone od spodu, artykuł przedstawia integrację urządzenia przełączającego i sterownika bramki na pojedynczej izolowanej płycie z metalowym podłożem, co jest atrakcyjne dla rozwiązań zasilających o dużej gęstości mocy. Uwzględniono dane dotyczące zmierzonej sprawności wraz z analizą rozkładu strat i optymalizacją w określonych warunkach pracy.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
39--43
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- Brno University of Technology, Department of power electrical and electronic engineering, Kolejní 2, 8561 Brno
autor
- Bel power solutions and protection GmbH, Ackerstrasse 56, 8610 Uster
Bibliografia
- [1] D. S. Gautam, F. Musavi, D. Wager, and M. Edington, “A comparison of thermal vias patterns used for thermal management in power converter”, 2013 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, pp. 2214-2218, 2013.
- [2] C. Negrea, P. Svasta, G. Chindris, and D. Pitica, “Modeling of thermal via heat transfer performance for power electronics cooling”, 2011 IEEE 17th International Symposium for Design and Technology in Electronic Packaging (SIITME), pp. 107-110, 2011.
- [3] J. L. Lu, R. Hou, D. Chen, and D. Pitica, “Opportunities and design considerations of GaN HEMTs in ZVS applications”, 2018 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC), pp. 880-885, 2018.
- [4] P. Skarolek, J. Lettl, G. Chindris, and D. Pitica, “GaN Transistors Cooling Options Comparison”, 2011 IEEE 17th International Symposium for Design and Technology in Electronic Packaging (SIITME), pp. 323-326, 2019.
- [5] C. Sørensen et al., "Conduction, reverse conduction and switching characteristics of GaN E-HEMT," 2015 IEEE 6th International Symposium on Power Electronics for Distributed Generation Systems (PEDG), Aachen, 2015, pp. 1-7, doi: 10.1109/PEDG.2015.7223051.
- [6] F. Xue, R. Yu, S. Guo, W. Yu and A. Q. Huang, "Loss analysis of GaN devices in an isolated bidirectional DC-DC converter," 2015 IEEE 3rd Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), Blacksburg, VA, 2015, pp. 201-205, doi: 10.1109/WiPDA.2015.7369261.
- [7] R. Hou, Y. Shen, H. Zhao, H. Hu, J. Lu and T. Long, "Power Loss Characterization and Modeling for GaN-Based Hard-Switching Half-Bridges Considering Dynamic on-State Resistance," in IEEE Transactions on Transportation Electrification, vol. 6, no. 2, pp. 540-553, June 2020, doi: 10.1109/TTE.2020.2989036.
- [8] R. Hou, J. Xu and D. Chen, "A multivariable turn-on/turn-off switching loss scaling approach for high-voltage GaN HEMTs in a hard-switching half-bridge configuration," 2017 IEEE 5th Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), Albuquerque, NM, 2017, pp. 171-176, doi: 10.1109/WiPDA.2017.8170542.
- [9] M. Šír and I. Feňo, “Cooling of minimized surface-mount packages in power electronics applications”, PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY, vol. 2020, no. 11, pp. 155-160, 2020.
- [10] M. Sir and I. Feno, “Measurement Method for the Dynamic On State Resistance of GaN Semiconductors”, 2018 2nd European Conference on Electrical Engineering and Computer Science (EECS), pp. 543-546, 2018.
Uwagi
Opracowanie rekordu ze środków MNiSW, umowa Nr 461252 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2021).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-78920182-c8c6-433d-bc59-32e9b6070a66