System do pomiaru szumów elementów optoelektroniczncych w szerokim zakresie prądów

• Autorzy: Sprawka D. , Stawarz-Graczyk B.

Warianty tytułu

EN

Optoelectronic devices noise measurement set-up in wide diode current range

• Konferencja: XXVII cykl seminarów zorganizowanych przez PTETiS Oddział w Gdańsku ZASTOSOWANIE KOMPUTERÓW W NAUCE I TECHNICE 2017 (XXVII; 2017; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych na działanie układu.

EN

In the paper authors present a special measurement set-up which allows for optoelectronic devices noise measurements. Authors will test the system using LEDs for ID = 2 mA and in frequency range of 1 kHz. The measurement set-up was built in a way to avoid external noise. For research authors chose a group colour LEDs. In the following paper authors present the measurement results of power spectrum density function and time function for the optoelectronic devices.

Słowa kluczowe

PL

szum typu 1/f; szumy wybuchowe; dioda LED; transoptor

EN

1/f noise; RTS noise; LED; optocoupler

• Wydawca: Wydział Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Rocznik: 2017
• Tom: Nr 57
• Strony: 131--134
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., wykr., tab.

Twórcy

autor

Sprawka D.

• ADVA Optical Networking Sp. z o.o., ul. Łużycka 8C, 81-537 Gdynia tel. [phone]

autor

Stawarz-Graczyk B.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk tel.: [phone]

Bibliografia

• 1. Belyakov A. V., Perov M. Yu., Yakimov A. V., Vandamme L. K. J.: Burst and 1/f noise in lightemitting diodes with quantum dots. Radiophysics and Quantum Electronics, vol. 49, No. 5, 2006, s. 397-405.
• 2. Celik-Butler Z.: Measurement and analysis methods for Random Telegraph Signals in Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices. Ed. by J. Sikula and M. Levinshtein, NATO Science Series, vol. 151, 2003, s. 219-226.
• 3. Claeys C., Simoen E.: Noise as a diagnostic tool for semiconductor material and device characterization. J. Electrochem. Soc., vol. 145, No. 6, 1998, s. 2058-2067.
• 4. Hooge F. N.: 1/f noise is no surface effect. Physics Letters, vol. 29A, No. 3, 1969, s. 139-140.
• 5. Jevtic M.: Low frequency noise as a tool to study optocouplers with phototransistors. Microelectronic Reliability, vol. 44, 2004, s. 1123-1129.
• 6. Jones B. K.: Electrical noise as a reliability indicator in electronic devices and components. IEEE Proc.-Circuits Devices Syst. vol. 149, No. 1, 2002, s. 13-22.
• 7. Konczakowska A.: Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych. Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa, 2006.
• 8. Analog.com, OP27GPZ datasheet, http://www.analog.com/media/en/technical-documentation/datasheets/OP27.pdf, (data dostępu 21.09.2016 r.).
• 9. Analog.com, OP37GPZ datasheet, http://www.analog.com/media/en/technical-documentation/datasheets/OP37.pdf, (data dostępu 21.09.2016 r.).
• 10. http://www.thinksrs.com/downloads/PDFs/Catalog/SR560c.pdf (data dostępu 19.05.2017 r.).
• 11. National Instruments, PCI-4451/4452/4453/4454 User Manual, 2000.

Uwagi

PL

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2018).