Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Electrostatic discharge (ESD)
Języki publikacji
Abstrakty
W pracy przedstawiono podstawowe informacje na temat zagrożeń dla elementów i układów elektronicznych ze strony wyładowań elektrostatycznych. Wskazano mechanizm powstawania takich wyładowań oraz sposób pomiaru odporności elementów elektronicznych na te wyładowania. Opisano również sposoby zabezpieczania tych elementów przed uszkodzeniem na skutek wyładowań elektrostatycznych na etapie wytwarzania oraz ich eksploatacji.
In the paper the basic information on failures caused by electrostatic discharge (ESD) in semiconductor devices and electronic circuits is given. Mechanism of discharging, ways of measuring the resistance of devices and circuits to the ESD are described. The methods how to protect devices and circuits against ESD during their production and operation are discussed as well.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
140--147
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz., rys.
Twórcy
Bibliografia
- 1. Ayers J.E., Digital Integrated Circuits. Analysis and Design, CRC Press, Boca Raton 2010.
- 2. Hasse L., Karkowski Z., Spiralski L., Kołodziejski J., Konczakowska A., Zakłócenia w aparaturze elektronicznej, Radioelektronik Sp. z o.o., Warszawa 1995.
- 3. Stepowicz W.J., Kołodziejski J., Zarębski J., Półprzewodnikowe diody zabezpieczające ze złączem p-n, Zeszyty Naukowe Wyższej Szkoły Morskiej w Gdyni, 1998, nr 34.
Uwagi
PL
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017)
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-71be32fc-4aa2-4364-8ca8-ef1560946214