Rola strategii pomiarów topografii powierzchni w ocenie wybranych parametrów chropowatości

• Autorzy: Kamieńska-Krzowska B. , Kłonica M.

Warianty tytułu

EN

The role of surface topography measurement strategy on the evaluation of selected roughness parameters

• Konferencja: XV Krajowa i VI Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, Łódź-Uniejów 17-19.09.2014r.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Intensywny rozwój różnych technik pomiaru topografii powierzchni pozwala na przewidywanie właściwości funkcjonalnych powierzchni oraz ocenę jej jakości. Na wyniki oceny parametrów chropowatości duży wpływ ma strategia ich pomiaru. W pracy przedstawiono wyniki badań dotyczących pomiarów wybranych parametrów chropowatości 2D i 3D. Badano wpływ trzech różnych filtrów oraz dwu wartości odcinka elementarnego (cut-off) na cztery parametry chropowatości Rt, Ra, Rmr, Rsm oraz ich odpowiedniki 3D. Pomiary wykonano na wzorcach chropowatości po obróbce toczeniem i szlifowaniem.

EN

An intensive development of various surface topography measuring surface techniques allows the prediction of the functional attributes of the surface and also evaluation of its quality. The results of the evaluation of surface roughness is highly influenced by their measurement strategy. The article presents some results of studies the selected roughness parameters measurement 2D and 3D. The was examined the effect of three different filters and two values cut-off to four roughness parameters Rt, Ra, Rmr , Rsm and their 3D counterparts. Measurements were conducted on roughness patterns after turning and grinding processes.

Słowa kluczowe

PL

strategia pomiaru; chropowatość powierzchni

EN

measurement strategy; roughness parameters

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 87, nr 8-9CD1
• Strony: 138--145
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Kamieńska-Krzowska B.

• Politechnika Lubelska

autor

Kłonica M.

• Politechnika Lubelska

Bibliografia

• [1] ADAMCZAK S., Pomiary geometryczne powierzchni. Zarysy kształtu, falistość i chropowatość. Warszawa, WNT, 2008.
• [2] ADAMCZAK S., Normalizacja pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Ocena chropowatości i falistości powierzchni. Zasady i warunki prowadzenia pomiarów. Cz. 9 W: Mechanik 79,2006, 180-183.
• [3] BORYCZKO A., Uwarunkowania i ograniczenia cyfrowego pomiaru nierówności profili powierzchni. W: Mechanik nr 12, 2010, 957-962.
• [4] CINCIO R., KACALAK W., System do analizy i oceny topografii powierzchni technicznych. W: Pomiary Automatyka Kontrola vol. 53, nr 9 bis/2007, 515-518.
• [5] HUMIENNY Z. i inni., Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) WNT Warszawa 2004.
• [6] SWORNOWSKI P., Wpływ mechanicznego filtrowania końcówki pomiarowe na falistość i chropowatość powierzchni. W: Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji , vol. 26 nr 2, 2006, 129-136.
• [7] TOMKOWSKI R., KAPŁONEK W., KACALAK W., ŁUKIANOWICZ CZ., LIPIŃSKI D., CINCIO R., Metody filtracji cyfrowej w ocenie topografii powierzchni. W: Pomiary Automatyka Kontrola vol. 59, nr 6, 2013, 507-510.
• [8] OCZOŚ K., LIUBIMOV V., Struktura geometryczna powierzchni - podstawy klasyfikacji z atlasem charakterystycznych powierzchni kształtowych. Rzeszów, Wyd. Politechniki Rzeszowskiej 2003.
• [9] WIECZOROWSKI M., CELLERY A., CHAJDA J., Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni czyli o chropowatości i nie tylko. Politechnika Poznańska, Poznań 2006.
• [10]WIECZOROWSKI M., Podstawy teoretyczne filtracji morfologicznej w pomiarach chropowatości powierzchni. W: Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji, Vol.29 nr 4, 2009, 41-49.
• [11] ZABORSKI A., Komputeryzacja pomiarów błędów kształtu i stereometrii przedmiotów walcowych. W: Mechanik nr 11, 2010, 828-832.
• [12] PN-EN ISO 4288:1997 Wymagania geometryczne wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni. Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni metodą profilową.
• [13] PN-EN ISO 11562:1998 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni. Metoda profilowa. Charakterystyki metrologiczne filtrów z korekcją fazy.
• [14] PN-EN ISO 13565-1:1999 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni. Metoda profilowa. Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych. Filtrowanie i ogólne warunki pomiaru.