PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Metody transimpedancyjne w analizie symbolicznej i optymalizacji układów elektronicznych

Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Transimpedance methods in symbolic analysis and optimization of electronics circuits
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W opracowaniu przedstawiono metody transimpedancyjne w analizie symbolicznej i optymalizacji układów elektronicznych. Podano definicję transimpedancji dwuportowej pierwszego i n-tego rzędu. Następnie omówiono podstawowe zależności dotyczące obliczania wrażliwości różniczkowych i wielkoprzyrostowych transimpedancji dwuportowych oraz podano związki transimpedancji z podstawowymi funkcjami układowymi. Pokazano możliwość analitycznego przedstawienia funkcji układowych oraz transimpedancji dwuportowych jako funkcji elementów układu elektronicznego. Znajomość zależności między funkcjami układowymi a transimpedancjami pozwoliła na wykonanie pełnej analizy symbolicznej, jak również symbolicznej analizy wrażliwościowej układów elektronicznych. Opracowano algorytmy analitycznego wyznaczania zarówno funkcji układowych, jak i funkcji wrażliwościowych w postaci ciągu wyrażeń symbolicznych. Zaprezentowano nowe algorytmy symbolicznej analizy wrażliwościowej wielkoprzyrostowej jedno- i wieloparametrycznej. Załączono odpowiednie przykłady. Następnie zaprezentowano semisymboliczną metodę analizy i optymalizacji układów elektronicznych na płaszczyźnie zespolonej, opartą na metodzie rozwarciowych stałych czasowych. Macierz transimpedancyjną wykorzystano w tworzeniu macierzy stałych czasowych, która stanowi podstawę do realizacji algorytmów analizy i optymalizacji. Sformułowano algorytm optymalizacji układów elektronicznych, zawierających zarówno kondensatory, jak i cewki, wykorzystujący metodę rozwarciowych stałych czasowych. Działanie algorytmów zilustrowano przykładami komputerowej symulacji. Wykorzystano właściwości transimpedancji dwuportowej i metodę rozwarciowych stałych czasowych, wyprowadzając podstawowe zależności, umożliwiające wyznaczanie wrażliwości bezwzględnych i względnych pierwszego rzędu biegunów dominujących w postaci symbolicznej. Podano algorytm generujący odpowiedni ciąg wyrażeń symbolicznych, służący do wyznaczania biegunów dominujących oraz ich wrażliwości. Zaprezentowano nową metodę analizy częstotliwościowej układów elektronicznych, opartą na definicji częstotliwościowej, wieloparametrycznej wrażliwości wielkoprzyrostowej (LCS AC). Określono warunki, dla których metoda ta jest efektywniejsza od tradycyjnych metod analizy. Opracowano algorytmy przyspieszania obliczeń, co jest ważne w analizie układów mikroelektronicznych. Opracowano semisymboliczną metodę optymalizacji układów elektronicznych w dziedzinie częstotliwości, wykorzystującą analizę LCS AC. Sformułowano algorytmy poprawy efektywności obliczeniowej tej metody. Wykazano, iż algorytmy te umożliwiają skrócenie całkowitego czasu optymalizacji od kilkunastu do nawet kilkuset razy. Zilustrowano praktyczne zastosowanie podanej metody do projektowania mikrosystemów zawierających oprócz układów scalonych również moduły bierne, gdzie bloki zintegrowane są wprowadzane do systemu optymalizacyjnego w postaci numerycznej, moduły bierne zaś zawierające oprócz opisu modelu elektrycznego również dane technologiczne wprowadzane są w postaci symbolicznej. Podano nową metodę upraszczania wyrażeń analitycznych, opisujących układ elektroniczny wykorzystującą wrażliwości wielkoprzyrostowe zarówno jedno-, jak i wieloparametryczne. Omówiono nową metodę przekształcania symbolicznego zapisu funkcji układowej w postaci sekwencji wyrażeń do postaci rozwiniętej o zmniejszonej liczbie operacji.
EN
In the present study the transimpedance methods were introduced for use in electronic circuit symbolic analysis and optimization. The first – and the n-th order twoport transimpedances as well as their differential properties were defined. Next, basic relationships concerning the calculation of differential and large-change sensitivities of the two-port transimpedances were provided and the relations between the transimpedances and fundamental circuit functions were given. Based on these relationships, it was possible to performed a complete symbolic analysis and symbolic sensitivity analysis. Algorithms for symbolic determination of both the network functions and sensitivity functions in the form of a sequence of symbolic expressions were described. In particular, unique algorithms of both mono- and multiparameter largechange sensitivity symbolic analysis were presented. Some adequate examples were enclosed. Next, a semisymbolic electronic circuit analysis and optimization methods on complex plane were presented. Properties of the transimpedance matrix were used in while creating a time-constant matrix. An algorithm for optimization of electronic circuits based on the method of open-circuit time-constants was formulated for circuits including both capacitances and inductances. The principles of operation of this algorithm were illustrated by appropriate computational examples. Using the properties of the two-port transimpedance and the open-circuit constant methods, basic relationships enabling us to calculate differential and relative sensitivities of dominant poles in symbolic form were derived. Algorithms for generating suitable sequence of symbolic expressions determining dominant poles as well as their sensitivities were formulated. A new method of frequency analysis of electronic circuits based on the definition of large-change multiparameter frequency sensitivity was described (the LCS AC method). Conditions were determined for this method to be more effective than conventional methods of analysis,. Methods for accelerating this analysis were elaborated, which are particularly useful in the analysis of integrated circuits. Next, a new circuit optimization method based on the LCS AC analysis was presented. Algorithms for improving computational efficiency were elaborated. These algorithms were shown to shorten the total time of optimization from dozen to even a few hundred times. In chapter 9, is illustrated practical application the to projecting microsystems apart from the monolithic blocks containing also passive modules embedded insight. The monolithic block data are introduced numerically, while the passive module data in symbolic form include beside the description of electric model also the technological data. Moreover, a new method for simplification of symbolic expressions describing electronic circuits by using the large-change sensitivities both mono- and multiparameter ones, was provided. Chapter 11 is dedicated to the a method of transformation of a sequence of expressions in symbolic form to the transmittance in the developed form of representation.
Twórcy
autor
  • Politechnika Wrocławska, Instytut Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki, Katedra Teorii Pola, Układów Elektronicznych i Optoelektroniki, Wybrzeże Wyspiańskiego 27, 50-370 Wrocław.
Bibliografia
  • [1] AAEN P.H., PLA J.A., WOOD J., Passive Components, Simulation and Modeling, [in,] AAEN P.H., PLA J.A., WOOD J. (Ed.), Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs, Cambridge University Press, Cambridge, 2007, 118–147.
  • [2] AL-TAEI, S., HAIGH, D., PASSIOPOULOS, G., Multilayer ceramic integrated circuits (MCIC) technology and passive circuit design, Proc. 6th London Communication Symposium, Imperial College, London 2001.
  • [3] ASENOVA I., GEORGIEV D., MIHOVA M., Multiparameter Symbolic Sensitivity Analysis by Using Nullor Model and Coates Flow Graphs, 2010 XIth International Workshop on Symbolic and Numerical Methods, Modeling and Applications to Circuit Design (SM2ACD), Gammmarth, Tunisia, 2010.
  • [4] ASENOVA I., Calculation of First-, Second-Order and Multiparameter Symbolic Sensitivity of Active Circuits by Using Nullor Model and Modified Coates Flow Graph, Int. Journal of Microelectronics and Computer Science, Technical University of Łódź, Vol. 2, No. 4, 2011. 129–135.
  • [5] ASENOVA I., BALIK F., Multiparameter Symbolic Sensitivity Analysis of Active Circuits by Using Nullor Model and Modified Coates Flow Graph, ELECTRA 2012 (in press).
  • [6] BALIK F., Komputerowa metoda optymalizacji liniowych układów elektronicznych przystosowana do projektowania i identyfikacji. Komunikaty Inst. Telekom. PWr. 1977, Rozprawa doktorska (30.06.1978), Politechnika Wrocławska, Instytut Telekomunikacji i Akustyki, Wrocław 1978.
  • [7] BALIK F., Pewne uogólnienie funkcji kary i jej zastosowanie do optymalizacji charakterystyk układów elektronicznych, Rozprawy Elektrotechniczne, 1979, t. 25, z. 4, 945–956.
  • [8] BALIK F., Jednoczesna optymalizacja kilku charakterystyk częstotliwościowych układu elektronicznego, Archiwum Elektrotechniki, 1981, t. 30, z. 1, 11–27.
  • [9] BALIK F., Sensitivity analysis and temperature coefficients calculation for models of electronic devices, Proc. Intl. AMSE Conf. Modeling and Simulation, Nice, Sept. 1983, 85–99.
  • [10] BALIK F., Higher order sensitivities from topological rules for temperature coefficients calculation, Modelling and simulation, International 84 Summer Conference, Athens, June 27–29, 1984, Proceedings. Vol. 2.2, Electrical and electronic engineering, 81–92.
  • [11] BALIK F., Algorithms of extraction equivalent circuit topology, Modelling Simulation and Control, AMSE Press, 1987, Vol. 13, No. 2, 35–48.
  • [12] BALIK F., Impedancja sumaryczna, jej własności i zastosowanie w analizie wrażliwościowej, Teoria obwodów i układy elektroniczne. XI Krajowa konferencja, Łódź–Rytro, Teksty referatów, T. 1, Łódź, PŁódz., 1988, 215–219.
  • [13] BALIK F., RODANSKI B., Calculation of first-order symbolic sensitivities in sequential form via the transimpedance method, Proceedings of the Fifth International Workshop on Symbolic Methods and Applications in Circuit Design. SMACD '98, Kaiserslautern, October 8–9.1998, SMACD Committee, Institut für Techno- und Wirtschaftsmathematik, 1998, 169–172.
  • [14] BALIK F., Wybrane zagadnienia analizy wrażliwościowej układów elektronicznych, cz. II., rozdz. 2. w raporcie po red. A. Prałata, Wybrane problemy modelowania, projektowania i pomiarów analogowych układów elektronicznych małej i dużej mocy, Raport ITA PWr. Serii SPRAWOZDANIA I-28 SPR-068/99, Wrocław 1999.
  • [15] BALIK F., RODANSKI B., Calculation of First- and Second-Order Symbolic Sensitivities in Sequential Form via the Transimpedance Method, Proc. of the European Conference on Circuit Theory and Design ECCTD’99, Politecnico di Torino-Levrotto & Bella, 1999, Stresa, Italy, Vol. 1, 70–73.
  • [16] BALIK F., Application of Symbolic Sensitivities to Trimming Hierarchy Determination in Hybrid Circuits, International Spring Seminar on Electronics Technology, ISSE’99, Freital/Dresden, 1999, 321–324.
  • [17] F. BALIK, Wybrane zagadnienia analizy wrażliwościowej układów elektronicznych, cz. III. (Symboliczne wrażliwości wielkoprzyrostowe), rozdz. 2. w raporcie pod red. A. Prałata pt. Wybrane problemy modelowania, projektowania i pomiarów analogowych układów elektronicznych małej i dużej mocy, Raport ITA PWr. Serii SPRAWOZDANIA I-28 SPR-068/99, Wrocław 1999.
  • [18] BALIK F., RODANSKI B., R. ŻARKO R., Zastosowanie metody transimpedancyjnej i matematycznych procedur komputerowych do symbolicznej analizy układów elektronicznych, KOWBAN ’99, Polanica Zdrój, Oct. 28–30, 1999, 251–256.
  • [19] BALIK F., Calculation of Large-change Symbolic Sensitivities in Sequential Form via the Transimpedance Method, International Conference on Signals and Electronic Systems, Proc. of Intern. Conf. on Signals and Electronic Systems, ICSES ’2000, Ustroń, October 2000, 441–446.
  • [20] BALIK F., RODANSKI B., ŻARKO R., Symbolic Circuit Analysis In the Classroom, Proceedings of the 6th International Workshop on Symbolic Methods and Applications in Circuit Design. SMACD ’2000, Instituto Superior Tecnico, Lisbon, Portugal, 2000, 17–20.
  • [21] BALIK F., RODANSKI B., Obtaining Large-change Symbolic Sensitivities for Largescale Circuits, Proc. of the European Conference on Circuit Theory and Design, Literatura 197 ECCTD ’01, Helsinki University of Technology, August 28–31, 2001, Espoo, Finland, I-205–I-208.
  • [22] BALIK F., Calculation of multiparameter large – change symbolic sensitivities via the transimpedance method, Proc. Int. Conf. on Signals and Electronic Systems, ICSES ’2001, Łódź, Poland, 2001, 307–312.
  • [23] BALIK F., RODANSKI B., Calculation of large-change multiparameter symbolic sensitivities via the transimpedance method for large-scale circuits, 7th International Workshop on Symbolic Methods and Applications to Circuit Design (SMACD 2002), Sinaia, Romania, October 10–11, 2002 [Bucuresti, Arvin Press, 2002], 9–12.
  • [24] BALIK F., Obtaining first-order symbolic sensitivities of dominant poles via the transimpedance method. Proceedings of the International Workshop on Symbolic Analysis and Applications in Circuit Design. SMACD ’04 [Dokument elektroniczny], Wrocław, 23–24 September 2004. Sydney, Faculty of Engineering, University of Technology, cop. 2004. 121–125.
  • [25] BALIK F., Wybrane zagadnienia analizy wrażliwościowej układów elektronicznych, cz. III, Metoda upraszczania wyrażeń symbolicznych opisujących funkcję układową na podstawie wrażliwości wielkoprzyrostowych, rozdz.2. w raporcie po red. A. Prałata Wybrane problemy modelowania, projektowania i pomiarów analogowych układów elektronicznych małej i dużej mocy, A. Prałat, Editor. Raport ITA PWr, I-28 SPR-2003, Wrocław 2003.
  • [26] BALIK F., RODANSKI B., Simplification of Symbolic Network Functions using Large- -Change Sensitivities, Proc. of 8th International Workshop on Symbolic Methods and Applications to Circuit Design, SMACD’04, Wrocław, Poland, 2004, 83–86.
  • [27] BALIK F., RODANSKI B., Calculation of Symbolic Sensitivities for Large-Scale Circuits in the Sequence of Expressions Form via the Transimpedance Method, Analog Intergrated Circuits and Signal Processing, 40 (3), Kluwer Academic Publishers, Sept. 2004, 265–276.
  • [28] BALIK F., Algebraiczna metoda optymalnego zapisu immitancji układu elektronicznego, KOWBAN’2005, Polanica Zdrój, październik 28–30, 2005, 115–120.
  • [29] BALIK F., Algebraic method for transformation of electronic circuit function record in symbolic form, Proceedings of the IX International Workshop on Symbolic Methods and Applications to Circuit Design. SMACD ’06 [Dokument elektroniczny, Firenze, Italy, 12–13 October 2006, Ed. by Manetti], Firenze University Press, 2006. 2.
  • [30] BALIK F., Analiza częstotliwościowa układów elektronicznych metodą wrażliwości wielkoprzyrostowych. W, Komputerowe wspomaganie badań naukowych. [Materiały XIV Krajowej Konferencji KOWBAN ’2007, Szklarska Poręba, 24–26 października
  • 2007]. T. 14. Wrocław, Wyd. Wrocławskiego Towarzystwa Naukowego, 2007, 87–92. [31] BALIK F., A Method of AC Analysis of Electronic Circuits via Multiparameter Large- -Change Sensitivity and Its Acceleration, Proc. of Xth Intern. Workshop on Symbolic and Numerical Methods, Modeling and Applications to Circuit Design, SM2 ACD ’08, Erfurt, Germany, Inst. für Mikroelektr.- und Mechatronik-Systeme GmbH, Oct. 7–8, 2008, 30– 36.
  • [32] BALIK F., A method of AC analysis of electronic integrated circuits via multiparameter large-change sensitivity. W, 32nd International IMAPS-IEEE CPMT Poland Conference [Dokument elektroniczny], Warszawa–Pułtusk, 21–24 September 2008. Warszawa, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 23.
  • [33] BALIK F., Nowa metoda komputerowej analizy układów elektronicznych w dziedzinie częstotliwości wykorzystująca pojęcie wieloparametrycznych wrażliwości wielkoprzyrostowych. Przegląd Elektrotechniczny, 2008, R. 84, nr 6, 121–124.
  • [34] BALIK F., A semi-symbolic method of AC analysis of electronic integrated circuits via multiparameter large-change sensitivity. W, Electronic devices and systems, IMAPS CS International Conference 2009, proceedings, Brno, Czech Republic, September 2–3, 2009. Brno, Vysoke uceni technicke, 2009. XXXIII–XL (referat zaproszony).
  • [35] BALIK F., A semi-symbolic method of ac analysis and optimization of electronic integrated circuits via multiparameter large change sensitivity, Electroscope, 2009, Vol. 209, 225–234, available at, http,//147.228.94.30/index.php?option=com_content&view=article&id= 180,semi-symbolic-method-of-ac-analysis-and-optimization-of-electronic-integrated-circuits-catid =26,konference-eds-2009&itemid=42 or http,//147.228.94.30/images/pdf/rocnik2009/eds_2009/ balik.pdf (accessed 17 Dec. 2010).
  • [36] BALIK F., A semi-symbolic method of electronic circuit design by pole and zero distribution optimization using time-constans approximation, IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems, ICECS 2009 [Dokument elektroniczny], December 13– 16, 2009, Yasmine Hammamet, Tunisia [Piscataway, NJ], IEEE, cop. 2009, 848–851.
  • [37] BALIK F., A semi-symbolic method of electronic circuit design by pole and zero distribution optimization using time-constants approximation including inductors. W, XIth International Workshop on Symbolic and Numerical Methods, Modeling and Applications to Circuit Design, SM2ACD '2010 [Dokument elektroniczny], Gammarth, Tunisia, October 4–6, 2010, IEEE, cop. 2010, 6.
  • [38] BALIK F., SOMMER W., Environment for Automated Low-temperature Measurements of Electronic Circuits, Elektronika (Poland), Vol. 52, 2011, No. 3, 84–89.
  • [39] BALIK F., Effective optimization of integrated circuits with embedded passive modules by applying semisymbolic LCS AC analysis method, Microelectronics International, 2011, Vol. 28, Iss. 3, 36–42.
  • [40] BALIK F., DZIEDZIC A., ŚWIETLIK T., Quartz crystal unit modeling in cryogenic temperatures, Materials Science & Engineering B, Elsevier, Amsterdam, London, New York, Paris. Vol. 177, Issue 15, 2012, 1254–1260.
  • [41] BALIK F., DZIEDZIC A., Quartz circuit analysis enhanced at cryogenic temperatures by using novel quartz unit model, IMAPS 2012 (in press).
  • [42] BALIK F., CZOCH R., FRANCIK A., Dielectrically tuned X-band solid-state singlecavity power combiner and its optimization, Electron Technology, 1994, Vol. 27, No. 3/4, 127–141.
  • [43] BALIK F., FRANCIK A., Regułowy system ekspertowy dla potrzeb projektowania i optymalizacji generatorów wielodiodowych z sumowaniem mocy, Inżynieria wiedzy i systemy ekspertowe, [Wrocław, 13–15 czerwca 2000], T. 2, pod red. Zdzisława Bubnickiego i Adama Grzecha. Wrocław, Oficyna Wyd. PWr., 2000, 237–244.
  • [44] BALIK F., FRANCIK A., TROCHA D., An expert system for microwave multidiode generators design and optimization, Proceedings of the XXIInd National Conference on Circuit Theory and Electronic Networks, Warszawa–Stare Jabłonki, October 20–23, 1999, Vol. 2/2 [Warszawa, Instytut Podstaw Elektroniki PWarsz.], cop. 1999, 573–578.
  • [45] BELEGUNDU A.D., CHANDRUPATLA T.R.. Optimization Concepts and Applications in Engineering, Prentice Hall, New Jersey 1999.
  • [46] BELLERT S., WOŹNIACKI H., Analiza i synteza układów elektrycznych metodą liczb strukturalnych, WNT, Warszawa 1968.
  • [47] BIOLEK D., KOLKA Z., KALOUS J., BIOLKOVA V., Program for Multi-Domain Symbolic Analysis, XIth International Workshop on Symbolic and Numerical Methods, Modeling and Applications to Circuit Design (SM2ACD), Gammarth, Tunisia, 2010.
  • [48] BRAYTON R.K, SPENCE R., Sensitivity and Optimization, Elsevier Scientific Pub., New York 1980.
  • [49] BUTLER W.J., HAYKIN S.S., Multiparameter sensitivity problems in network theory, Proc. IEEE, Vol. 117, No. 12, 1970, 2228–2236.
  • [50] CALAHAN D. A., Projektowanie układów elektronicznych za pomocą maszyny cyfrowej. WNT, wyd. 1, Warszawa 1978.
  • [51] CASTRO-LOPEZ R., GUERRA O., ROCCA E., FERNANDEZ F.V., An integrated layout-synthesis approach for analog ICs, IEEE Trans. On Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Vol. 27, No. 7, 2008, 1179–1189.
  • [52] CHUA L.O., LIN PEN-MIN, Komputerowa Analiza Układów Elektronicznych, WNT, Warszawa 1981.
  • [53] CONSTANTINESCU F., NITESCU M., MARIN C.V., Computation of Approximate Pole/Zero Expressions, Analog Integrated Circuits and Signal Processing, Vol. 40, 2004, 255–264.
  • [54] CORMEN T.H., LEISERSON C.E., RIVEST R.L., Introduction to ALGORITHMS, MIT Press, Cambridge Massachusetts, London 1992.
  • [55] DAEMS W., GIELEN G., SANSEN W., Circuit Simplification for Symbolic Analysis of Analog Integrated Circuits, IEEE trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Vol. 21, No. 4, 2002, 395–407.
  • [56] DMYTRYSZYN R., Polynomial Reduction Method, Proc. of 37th Midwest Symposium on Circuits and Systems, Lafayette, USA, 1994, 1311–1314.
  • [57] DMYTRYSZYN R., KUBASZEK A., Generowanie wzorów w notacji polskiej do szybkiej analizy obwodów elektrycznych, Polsko-Ukraińska Szkoła-Seminarium „Aktualne problemy elektrotechniki teoretycznej, nauka i dydaktyka”, Ukraina, Aluszta, 3–6 września 2001, 28–31.
  • [58] DMYTRYSZYN R., KUBASZEK A., Multimethodical Approach and Generation of Sequence of Expressions for Acceleration of Repetitive Analysis of Analog Circuits, Analog Integrated Circuits & Signal Processing, 31(2), Kluwer Academic Publishers, 2002, 147–159.
  • [59] DMYTRYSZYN R., KUBASZEK A., Analiza obwodów liniowych z wykorzystaniem macierzy symboliczno-numerycznych, XXIII IC-SPETO, Międzynarodowa konferencja z podstaw elektrotechniki i teorii obwodów, Politechnika Śląska, Gliwice–Ustroń, 24–27 maja 2000, 361–364.
  • [60] DMYTRYSZYN R., KUBASZEK A., Generowanie wzorów w odwrotnej notacji polskiej do animacji wykresów transmitancji obwodów, XXVII IC-SPETO, Międzynarodowa konferencja z podstaw elektrotechniki i teorii obwodów, Politechnika Śląska, Gliwice–Ustroń 2003, 283–286.
  • [61] DMYTRYSZYN R., Virtual Laboratory for Education in the Area of Electrical Engineering, Przegląd Elektrotechniczny (Electrical Review), 4’2009, 71–73.
  • [62] ДМИТРИШИН Р.В. Виртуальная лаборатория для анализа и оптимизации активного фильтра, Синтез, анализ и диагностика электронных цепей, Международный сборник научных трудов, под ред. В.В. Филаретова, Ульяновск, УлГТУ, 2009, Вып. 7, 226–238.
  • [63] DZIEDZIC A., Electrical and structural investigations in reliability characterization of modern passives and passive integrated components, Microelectronics Reliability, 42, 2002, 709–719.
  • [64] ECHTENKAMP J.A. et al., Hierarchical sensitivity analysis for sequence of expression method, Proc. ECCTD, 1995, 75–78.
  • [65] ECHTENKAMP J.A., HASSOUN M., Implementation issues for symbolic sensitivity analysis, Proc. MWSCAS’96, 1997, 429–432.
  • [66] FILIPKOWSKI A., BUKOWSKI M., A new large change sensitivity invariants of linear networks and some relationships between sensitivities, IEEE Trans. CAS, Oct. 1980, Vol. CAS-27, No. 10, 978–980.
  • [67] FINDEISEN W., SZYMANOWSKI J., WIERZBICKI A., Metody obliczeniowe optymalizacji, WPW, Warszawa 1972.
  • [68] FERNANDEZ F.V., RODRIGUEZ-VAZQUEZ A., HUERTAS J.L., GIELEN G.E., Symbolic Analysis Techniques – Applications to Design, IEEE Press, New York 1998.
  • [69] FICHTENHOLZ G.M., Rachunek różniczkowy i całkowy, PWN, Warszawa 1964.
  • [70] FIDLER J.K., NIGHTINGALE C., Computer Aided Circuit Design, J. Wiley, New York 1978.
  • [71] FIDLER J.K., Calculation of network sensitivity and its application to network analysis, Proc. IEE., Vol. 118, No. 11, Nov. 1971.
  • [72] FIDLER J.K., NIGHTINGALE C., Differential-Incremental-Sensitivity Relationships, Electronics Letters, Vol. 8, No. 25, 1972, 626–627.
  • [73] FLACHSMEYER J., Kombinatorik, VEB Deutscher Verlag der Wissenschaften, Berlin 1969.
  • [74] GAUSHI M.S., Electronic Circuits, Devices, Models, Functions, Analysis, and Design, Van Nostrand Reinhold Co., New York, London, Toronto, Melbourne 1971.
  • [75] GEHER K., Teoria tolerancji i wrażliwości układów elektronicznych, WNT, Warszawa 1976.
  • [76] GIELEN G., WALSHARTS H., SANSEN W., Symbolic Analysis for Automated Design of Analog Integrated Circuits, Kluwer Acad., Boston, MA, 1991.
  • [77] GODDARD P.J., VILLALAZ P.A., SPENCE R., Method for the Efficient Computation of the Large-Change Sensitivity of Linear Nonreciprocal Networks, Electronics Letters, Vol. 7, No. 4, 112–113.
  • [78] GOLDE W., Układy elektroniczne, t. I i II, WNT, Warszawa 1969.
  • [79] GOLUB G.H., VAN LOAN F., Matrix Computations, The John Hopkins Univ. Press, Baltimore and London 1996.
  • [80] GRAY P.E., SEARLE C.L., Podstawy elektroniki, wyd. 2, PWN, Warszawa 1976.
  • [81] GROBELNY M., Zarys liniowej teorii układów elektronicznych, WKŁ, Warszawa 1976.
  • [82] GROBELNY M., BALIK F., BINKOWSKI J., HANZLIK T., KUKAWCZYŃSKI M., MUSIAŁOWSKI Z., STANCLIK J., WOLSZCZAK B., PRAŁAT A., Metody modelowania, projektowania i testowania układów elektronicznych z uwzględnieniem niektórych zjawisk granicznych, Raporty Inst. Telekomun. PWr., 1997, Ser. SPR nr 39.
  • [83] HALEY B., HURST P.J., Pole and Zero Estimation in Linear Circuits, IEEE Trans. on Circuits and Systems, 36(6), 1989, 838–845.
  • [84] HALEY B., The Generalized Eigenproblem, Pole-Zero Computation, Proceedings IEEE, Vol. 76, 1988, 103–120,
  • [85] HALFMANN T., HENNIG E., THOLE M., WICHMANN T., Analog Insydes – Release 2.0 Manual, Fraunhofer-Institut für Techno- und Wirtschaftsmathematik, Kaiserslautern, Germany.
  • [86] HAMILTON D.J., HOWARD W.G., Basic Integrated Circuit Engineering, McGrawHill, New York 1972.
  • [87] HASSOUN M.M., LIN P.M., A hierarchical network approach to symbolic analysis of large-scale networks, IEEE Trans. on Circuits and Systems. I, Fundamental Theory and Applic., Vol. 42, No. 4, April 1995, 201–2011.
  • [88] HENNIG E., Symbolic Approximation and Modelling Techniques for Analysis and Design of Analog Circuits, Dissertation, Shaker Verlag, Keiserslautern 2000.
  • [89] HIRANO K., UNAMI I., HASHIMOTO M., Sensitivity of Active Two-Ports, IEEE Trans. on Circuit Theory, 1969, 489–494.
  • [90] HO C.W., RUEHLI A.E., BRENNAN P.A., The Modified Nodal Approach to Network Analysis. IEEE Trans. CAS, Vol. CAS-22, No. 6, 1975, 504–509.
  • [91] HSU JER-JAW, SECHEN C., DC Small Signal Symbolic Analysis of Large Analog Integrated Circuits, Trans. on CAS, I, Fundamental Theory and Applications, Vol. 41, No. 12, Dec. 1994.
  • [92] LEUNG K.H., SPENCE R., Tracking sensitivity, an Efficient Algorithm for Linear Nonreciprocal Circuits, Electronics Letters, 10, 18, 1974, 377–378.
  • [93] LEUNG K.H., SPENCE R., Multiparameter Large-Change Sensitivity Analysis and Systematic Exploration, IEEE Trans. On Circuits and Systems, Vol. CAS-22, No. 10, 1975, 796–804.
  • [94] LIN P.M., Symbolic Network Analysis, Elsevier, Amsterdam 1991.
  • [95] LIU K., FRYE R., Full-circuit design optimization of an RF silicon integrated passive device, [in:] Proc. of IEEE Conf. on Electrical Performance of Electronic Packaging, 2006, Scottsdale, AZ, 23–26.
  • [96] LUCHETTA A., MANETTI S., RETTI A., SAPWIN – a Symbolic Simulator as a Support in Electrical Engineering Education, IEEE Trans. on Education, Vol. 44, No. 2, 2001, 9.
  • [97] NEBEL G., KLEINE U., PFEIDERED H., Symbolic Pole/Zero Calculation Using SANTAFE, IEEE J. Solid-State Circuits, Vol. 30. No. 7, 1995, 752–761.
  • [98] OGRODZKI J., Metody komputerowej analizy wrażliwości wielkoprzyrostowej, Rozprawy Elektrotechniczne, No. 3, 1980, 797–818.
  • [99] OGRODZKI J., Komputerowa analiza układów elektronicznych, PWN, Warszawa 1994.
  • [100] OSIOWSKI J., SZABATIN J., Podstawy teorii obwodów, t. II, wyd. 5, WNT, Warszawa 2005.
  • [101] OSIOWSKI J., Zarys rachunku operatorowego, WNT, Warszawa 1965.
  • [102] KUDREWICZ J., OSIOWSKI J., Wybrane zagadnienia teorii obwodów, WPW, Warszawa 1974.
  • [103] ORHANOVIC N., MATSUI N., FDTD – SPICE analysis of high-speed cells in silicon integrated circuits, [in:] Proc. of 52nd Electronic Components Technology Conference, IEEE ECTC, May 2002, 347–352.
  • [104] ORTEGA J.M., RHEINBOLDT W.C., Iterative Solution of Nonlinear Equations in Several Variables, Academic Press, New York, London, 1970.
  • [105] PASKO M., Анализ чувствительности узкополосного фильтра, содержащего операционный усилитель, Реферативный журнал, Радиотехника, 24А. Теоре- тическая радиотехника, No. 11, 1976.
  • [106] PASKO M., Выбор метода синтеза активных RC-фильтров, Реферативный журнал, Радиотехника, 24А. Теоретическая радиотехника, No. 9, 1977.
  • [107] PASKO M., Synteza wąskopasmowych filtrów RC z zerową czułością dobroci, Zeszyty Naukowe Pol. Śl., ELektryka, Nr 54, Gliwice 1976.
  • [108] PASKO M., Wykorzystanie czułości drugiego rzędu w syntezie aktywnych filtrów RC, Materiały III-SPETO, 1979.
  • [109] PASKO M., Wykorzystanie wrażliwości drugiego rzędu w syntezie aktywnych filtrów RC na przykładzie filtrów środkowoprzepustowych, Zeszyty Naukowe Pol. Śl., Elektryka, Nr 68, Gliwice 1980.
  • [110] PASKO M., ADRIKOWSKI T., Elementy liniowych obwodów elektrycznych i Elektronicznych. Synteza układów pasywnych, Wyd. Pol. Śl., Gliwice 2009.
  • [111] PEASE M. C., Methods of Matrix Algebra, Academic Press, New York and London 1965.
  • [112] PETERS D., BOLTE H., MARSCHNER C., NUSSEN O., LAUR R., Enhanced optimization algorithms for the development of microsystems, Analog Integrated Circuits and Signal Processing, Vol. 32, 47–54.
  • [113] PIERZCHALA M., RODANSKI B., Generation of sequential symbolic network functions for large-scale networks by circuit reduction to a two-port, IEEE Trans. on Circuits and Systems. I, Fundamental Theory and Applications, Vol. 48, No. 7, 2001, 906–909.
  • [114] POINTON A.J., HOWARD H.M., AC and DC Network Theory, Chapman & Hall, London, New York, Tokyo. 1991.
  • [115] POLAK E., Computational Methods in Optimization, A Unified Approach, Academic Press, New York 1971.
  • [116] PRESS W.H., TEUKOLSKY S.A., WETTERLING W.T., FLANNERY B.P., Numerical Recipes, 3rd Ed., Cambridge University Press, , Boston 2007.
  • [117] PUŁKA A., GOLLY Ł., A Heterogenous Approach to Symbolic Calculations Based on Structural Numbers, IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems, ICECS 2009 [Dokument elektroniczny], December 13–16, 2009, Yasmine Hammamet, Tunisia [Piscataway, NJ], IEEE, cop. 2009, 163–166.
  • [118] YU Q., SECHEN C., Efficient Approximation of Symbolic Network Functions Using Matroid Intersecion Algorithms, Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Vol. 16, No. 1, 1997.
  • [119] REINGOLD E.M., NIEVERGELD J., DEO N., Algorytmy kombinatoryczne, PWN, Warszawa 1985.
  • [120] RODANSKI B., HASSOUN M., Symbolic Analysis Methods, in The Circuits and Filters Handbook, 2nd ed., W.-K. Chen, Editor CRC Press, Boca Raton, 2003, 1263– 1282.
  • [121] RODRIGEZ-GARCIA J.D., GUERRA O., FERNANDEZ F.V., RODRIGUEZ-VAZQUEZ A., Symbolic Pole/Zero Extraction Through Dedicated SBG/SDG Techniques, Proc. SMACD’98, Kaiserslautern 43–47.
  • [122] SEDRA A.S., SMITH K. C., Microelectronic Circuits, Revised Ed., New York, Oxford Univ. Press, 2003.
  • [123] SHI G., HUAND B., SHI C.J.R., On Symbolic Model Order Reduction, IEEE trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Vol. 25, No. 7, 2006, 1257–1272.
  • [124] SIGORSKI W.P., Matricy i grafy w elektronikie (w j. ros.), Energia, Moskwa 1968.
  • [125] SIGORSKI W.P., Matematyczny aparat inżyniera (w j. ros.), Wyd. Technika, Kijów 1975.
  • [126] SIGORSKI W.P., PIETRENKO A.I., Podstawy teorii układów elektronicznych (w j. ros.), Wyd. Technika, Kijów 1967.
  • [127] SIGORSKI W.P., PIETRENKO A.I., Algorytmy analizy elektronicznych układów, (w j. ros.), Wyd. Sovietskoje Radio, Moskwa 1976.
  • [128] SUD D., Differential Sensitivity, After Large Change in Network Elements, Int. Journ. Circuit Theory and Applications, 3, 1975, 211–116.
  • [129] SOOD A., LIM C.K, HARIDASS A., NA N., SWAMINATHAN M., Modelling and mixed signal simulation of embedded passive components in high performance packages, [in:] Proc. Intern. Conf. on Multichip Modules and High Density Packaging, Boulder, Colorado, 1998, 506–511.
  • [130] STARZYK J.A., KONCZYKOWSKA A., Flowgraph analysis of large electronic networks, IEEE Trans. on Circuits and Systems, Vol. 33, No. 3, 1986, 302–315.
  • [131] STYBLINSKI M., Metody analizy i optymalizacji tolerancji parametrów układów elektronicznych, WNT, Warszawa 1981.
  • [132] WAMBACQ P., GIELEN G.G., SANSEN W., Symbolic Network Analysis Methods for Practical Analog Integrated Circuits, A Survey, IEEE Trans. Circuits and Systems – 11, Analog and Digital Signal Processing, Vol. 45, No. 10, October 1998, 1331–1341.
  • [133] WAI-KAI CHEN, The Circuits and Filters Handbook, CRC Press Inc., Boca Raton, USA, 1995.
  • [134] WOLFRAM S., The Mathematica Book, 4th edition, Vol. 4. Wolfram Media, Cambridge University Press, 1999.
  • [135] VLACH J., SINGHAL K., Computer Methods for Circuit Analysis and Design, 2nd ed., Van Norstand Reinhold, New York 1994.
  • [136] YANG H, RANJAN M., VERHAEGEN W., DING M., VEMURI R., GIELEN G., Symbolic Sensitivity Analysis using Element-Coefficient Diagrams, SMACD ’04, 75–78.
  • [137] ZIELIŃSKI R., Metody Monte Carlo, WNT, Warszawa 1970.
  • [138] SPICE, MicroSim PSpice A/D, Circuit Analysis User’s Guide with Schematics, Circuit Analysis Reference Manual, MicroSim Co., Irvine, California USA, 1995.
  • [139] MAPLE V., Quick Reference, Ed. Blachman N. and Mossinghoff M., Brooks/Cole, 1995.
  • [140] MATLAB – podręcznik użytkownika, Math Works, Natick, USA, 1991.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-71736c61-5275-4df5-b600-81010df3a217
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.