PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Badanie sposobów montażu, zabezpieczenia i naprawy struktur 3D

Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
The study of assembly techniques, protection and rework of 3D structures
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono zagadnienia dotyczące sekwencyjnego nabudowywania wielowyprowadzeniowych struktur półprzewodnikowych z zastosowaniem technologii PoP i TMV PoP. Prace badawcze skupiały się na doborze odpowiednich materiałów lutowniczych, opracowaniu właściwych warunków nanoszenia pasty lutowniczej oraz doborze odpowiednich parametrów procesu lutowania. Podjęto również zagadnienie naprawy zmontowanych struktur przestrzennych. Prezentowane wybrane wyniki zrealizowanych prac badawczych wykazują, że zarówno odpowiedni dobór materiałów oraz metod prowadzenia procesu montażu, jak również zastosowanie nowoczesnych technik kontroli jakości, w tym analizy rentgenowskiej, są gwarancją wytwarzania nowoczesnych niezawodnych urządzeń elektronicznych.
EN
The article presents issues related to sequential building of multi–lead semiconductor structures according to PoP and TMV PoP technology. Research works was focused on the selection of suitable solder materials, the development of appropriate conditions for application of solder paste and selection of appropriate parameters of the soldering process. The problem of repair of assembled spatial structures was also discussed. Presented selected results of the researches shows that both the suitable selection of materials and methods of assembly process, as well as using of modern quality control techniques guarantee production of modern and reliable electronic devices.
Rocznik
Strony
29--38
Opis fizyczny
Bibliogr. 9 poz., il., rys., tab., wykr.
Twórcy
autor
  • Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa
autor
  • Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa
Bibliografia
  • [1] Yoshida A., Taniguchi J., Murata K., Kada M., Yamamoto Y., Takagi Y., Notomi T., Fujita A. 2006. ”A Study on Package Stacking Process for Package-on-Package (PoP)”. Electronic Components and Technology Conference, 1-4244-0152-6/06/$20.00 ©2006 IEEE, pp. 825–830.
  • [2] Gutierrez K. 2010. “PCB Assembly Guidelines for 0.5 mm Package-on-Package Applications Processor, Part II”, Application Report, SPRABA8 – June 2010.
  • [3] Solberg V. 2012. “Basic PCB Level Assembly Process Methodology for 3D Package-on-Package”, IPC APEX EXPO Proceedings.
  • [4] Sjoberg J., Geiger D. A. and Shangguan D. 2008, “Process Development and Reliability Evaluation for Inline Package-on-Package (PoP) Assembly”, Electronic Components and Technology Conference Proceedings, 978-1-4244-2231-9/08/$25.00 ©2008 IEEE, pp. 205–210.
  • [5] Rey Co, Katkar R., Prabhu A. S. and Zohni W., 2015. ”High-Volume-Manufacturing (HVM) of BVA Enabled Advanced Package-on-Package (PoP)”, ICEP-IAAC 2015 Proceedings, pp. 575–580.
  • [6] Lall P., Patel K., Narayan V. 2013. “Model for Prediction of Package-on-Package Warpage and the Effect of Process and Material Parameters”, Electronic Components & Technology Conference, 978-1-4799-0232-3/13/$31.00 ©2013 IEEE, pp. 608-622.
  • [7] Amkor – Through Mold Via Package.pdf.
  • [8] Borecki J., Serzysko T. 2016. „Innowacyjne techniki elektronicznego montażu powierzchniowego”, Elektronika 6/2016, Vol. 57, str. 134–141.
  • [9] IPC-A-610 rev. F – Acceptability of Electronic Assemblies. (2004 November).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-71689690-4a4a-44fe-81f5-88981ba6c35c
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.