Some aspects of fault diagnosis of linear analog circuits using sensitivity analysis

• Autorzy: Sidyk Piotr

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2019.10.44

Warianty tytułu

PL

Wybrane aspekty diagnostyki liniowych układów analogowych z wykorzystaniem analizy wraźliwościowej

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The article presents an overview of methods for formulating diagnostic equations in linear analog circuits. In the case of dynamic circuits, the creation of a diagnostic equation based on the description of systems in the time domain and frequency domain is discussed. A unified and systematized description of different classes of linear circuits leads to the general test equation and allows for the use of the general procedure for solving it. The proposed methodology allows locating and identifying single and multiple parametric faults. For illustraton of the method the diagnosis of a linear electronic circuit is discussed.

PL

W artykule przedstawiono przegląd metod formułowania równań diagnostycznych w liniowych układach analogowych. W przypadku obwodów dynamicznych omówiono tworzenie równania diagnostycznego na podstawie opisu układów w dziedzinie czasu i częstotliwości. Ujednolicony i usystematyzowany opis różnych klas obwodów liniowych prowadzi do ogólnego równania diagnostycznego oraz pozwala na zastosowanie ogólnej procedury jego rozwiązywania. Zaproponowana metodologia umożliwia lokalizację i identyfikację pojedynczych oraz wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych. Działanie metody zilustrowano na przykładowym układzie elektronicznym.

Słowa kluczowe

EN

fault diagnosis; sensitivity analysis; analog circuits

PL

diagnostyka uszkodzeń; układy analogowe; analiza wrażliwościowa

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2019
• Tom: R. 95, nr 10
• Strony: 204--207
• Opis fizyczny: Bibliogr. 18 poz., tab.

Twórcy

autor

Sidyk Piotr

• Łódź University of Technology, Stefanowskiego 18/22, 90-924 Łód´z, Poland

Bibliografia

• [1] Bilski P., Wojciechowski J.M.: Rough-sets-based reduction for analog systems diagnostics, IEEE Trans. Instrum. Meas., 60, pp. 880-890, 2011.
• [2] Czaja Z., Zielonko R.: Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces, IEEE Trans. Instrum. Meas., 52, pp. 97-102, 2003.
• [3] Fedi G., Giomi R., Luchetta A., Manetti S., Piccirilli M. C.: On the application of symbolic techniques to the multiple fault location in low testability analog circuits, IEEE Trans. Circ. Syst II., 45, pp. 1383-1388, 1998.
• [4] Fontana G., Luchetta A., Manetti S., Piccirilli M. C.: An unconditionally sound algorithm for testability analysis in linear time-invariant electrical networks, Int. J. Circ. Theor. Appl., 44, pp. 1308-1340, 2016.
• [5] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J.: Evolutionary method for test frequencies selection based on entropy index and ambiguity sets, Proc. Int. Conf. Signals Electronic Syst., pp. 511- 514, 2006.
• [6] Grzechca D., Rutkowski J.: Use of sensitivity matrix and fuzzy set theory to analog fault detection, Proc. Int. Conf. Signals Electronic Syst., pp. 349-355, 2001.
• [7] Grzechca D.: Construction of an expert system based on fuzzy logic for diagnosis of analog electronic circuits, Int. J. Electron. Telecomm., 61, pp. 77-82, 2015.
• [8] Hałgas S., Tadeusiewicz M.: Multiple soft fault diagnosis of analogue electronic circuits, Proc. Int. Conf. Signals Electronic Syst., pp. 533-536, 2008.
• [9] Li F., Woo P.-Y.: The invariance of node-voltage sensitivity sequence and its application in a unified fault detection dictionary method, IEEE Trans. Circ. Syst I., 46, pp. 1222-1226, 1999.
• [10] Sałat R., Osowski S.: Support Vector Machine for soft fault location in electrical circuits, J. Intelligent Fuzzy Systems, 22, pp. 21-31, 2011.
• [11] Sidyk P.: Ambiguity groups in linear dynamic analog circuit, Przegla˛d Elektrotechniczny - Konferencje, 2, str. 255- 258, 2007.
• [12] Slamani M., Kaminska B.: Analog circuit fault diagnosis based on sensitivity computation and functional testing, IEEE Design Test Comp., 9, pp. 30-39, 1992.
• [13] Starzyk J. A., Liu D.: Multiple fault diagnosis of analog circuits based on large change sensitivity analysis, Proc. Europ. Conf. Circuit Theor. Design, 1, pp. 241-244, 2001.
• [14] Tadeusiewicz M., Sidyk P., Hałgas S.: A method for multiple fault diagnosis in dynamic analogue circuits, Proc. 2007 Europ. Conf. Circuit Theor. Design, pp. 834-837, 2007.
• [15] Tadeusiewicz M., Hałgas S.: Multiple soft fault diagnosis of nonlinear DC circuits considering component tolerances, Metrology and Measurement Systems, 18, pp. 349-360, 2011.
• [16] Tadeusiewicz M., Hałgas S.: A method for multiple soft fault diagnosis of linear analog circuits, Measurement, 131, pp. 714- 722, 2019.
• [17] Worsman M., Wong M.: Non-linear analog circuit fault diagnosis with large change sensitivity, Int. J. Circ. Theor. Appl., 28. pp. 281-303, 2000.
• [18] Yu W., He Y.: Analog circuit fault diagnosis via sensitivity computation, J. Electron. Test., 31, pp. 119-122, 2015

Uwagi

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2019).