Kompensacja temperaturowa wybranych akcelerometrów analogowych MEMS

• Autorzy: Sawicki A.

Identyfikatory

DOI

10.21008/j.1897-0737.2017.92.0009

Warianty tytułu

EN

The temperature compensation of selected analog MEMS accelerometers

• Konferencja: Computer Applications in Electrical Engineering (10-11.04.2017 ; Poznań, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Wpływ temperatury na pomiary akcelerometrów analogowych opisywany jest poprzez współczynniki takie jak V_offset due to temperature czy Sensitivity due to temperature. Producenci układów scalonych podają jednak jedynie typowe wartości tych parametrów, wraz z możliwymi maksymalnymi odchyleniami. Wartości współczynników różnią się między poszczególnymi egzemplarzami elementów i powinny być wyznaczone eksperymentalnie. W niniejszym artykule zaprezentowano wyniki badań wpływu temperatury na wskazania czterech wybranych akcelerometrów. Badania przeprowadzone zostały w komorze klimatycznej dla temperatur w zakresie 0 °C ÷ 40 °C. W pracy zaprezentowano sposób wyznaczania podstawowych parametrów Sensitivity oraz V_offset jak i współczynników temperaturowych.

EN

The influence of temperature on the measurements of analog accelerometers is described by coefficients such as V_offset due to temperature or Sensitivity due to temperature. However, producers of integrated circuits give only typical values of these parameters, along with maximum acceptable deviations. The values of coefficients differ in particular elements and should be assigned experimentally. The article presents the results of research on temperature effect on the measurements of four selected accelerometers. The measurements were obtained in a climatic chamber for temperature range from 0 ° C to 40 ° C. The study describes the methods of estimation of the basic parameters (Sensitivity, V_offset) and of temperature coefficients.

Słowa kluczowe

PL

akcelerometr; MEMS; kompensacja temperaturowa

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
• Rocznik: 2017
• Tom: No. 92
• Strony: 105--115
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Sawicki A.

• Politechnika Białostocka

Bibliografia

• [1] Bieda R., Grygiel R., Wyznaczanie orientacji obiektu w przestrzeni z wykorzystaniem naiwnego filtru Kalmana, Przegląd elektrotechniczny, 34–41, ISSN 0033–2097, nr 1/2014
• [2] Sengto A., Leauhatong T., Human Falling Detection Algorithm Using Back Propagation Neural Network, Biomedical Engineering International Conference (BMEiCON), 2012, ISBN: 978–1–4673–4892–8
• [3] IEEE Standard for Inertial Sensor Terminology, IEEE Std 528–2001
• [4] Kionix, Nota katalogowa „Accelerometer Errors” AN 012, 7/2015, (10.12.2016), http:/kionixfs.kionix.com/en/document/AN012%20Accelerometer%20Errors.pdf
• [5] NXP Semiconductors, Tuck, K., Nota katalogowa AN3447, Rev. 0 3/2007, (10.12.2016), www.nxp.com/files/sensors/doc/app_note/AN1636.pdf
• [6] STMicroelectronics, Nota katalogowa AN3182, Rev. 1 4/2010, (10.12.2016), www.st.com/resource/zh/application_note/cd00268887.pdf
• [7] Klusáček S., Havránek Z., Hasík S., Fialka J., Beneš P., Temperature and Sensitivity Analysis on MEMS Vibration Sensors with Different Principles of Operation, Proceedings of the 22nd International Congress on Sound and Vibration, 2015. ISBN: 978–88–88942–48–3
• [8] Analog Devices, Nota katalogowa ADXL335, Rev. B 11/01/2016, (10.12.2016), http://www.analog.com/media/en/technical–documentation/data–sheets/ADXL335.pdf
• [9] NXP Semiconductors, Nota katalogowa FXLN83xxQ, Rev, 2 7/2014, (10.12.2016), http://www.nxp.com/assets/documents/data/en/data–sheets/FXLN83xxQ.pdf
• [10] STMicroelectronics, Nota katalogowa LIS344ALH, Rev. 3 4/2008, (10.12.2016), http://www.st.com/resource/en/datasheet/lis344alh.pdf
• [11] Analog Devices, Nota katalogowa ADXL327, Rev.0 11/01/2016, (10.12.2016), http://www.analog.com/media/en/technical–documentation/data–sheets/ADXL327.pdf

Uwagi

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017).