Wpływ napięcia na wyniki precyzyjnych pomiarów dużych rezystancji

• Autorzy: Krawczyk K.

Warianty tytułu

EN

Influence of voltage on high value resistance precision measurements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy opisano hierarchiczny układ przekazywania jednostki rezystancji. Wymienione zostały czynniki wpływające na wyniki pomiarów dużych rezystancji oraz podane zostały przykładowe rozwiązania umożliwiające minimalizacje wpływu tych czynników. Szczegółowo opisano wpływ napięcia na wyniki pomiarów dużych rezystancji. Przedstawiono problematykę braku informacji o napięciu pomiarowym dla rezystorów wzorcowych oraz pokazano możliwe błędy z tego wynikające.

EN

In this paper hierarchic system for resistance unit transfer has been described. Factors influencing high resistance measurements have been recognized and possible solutions for minimization of their influence have been shown. Influence of measurement voltage on the resistance measurements have been described in details. Problems of lack of information about the measurement voltage for resistance standards have been presented together with errors that may result from it.

Słowa kluczowe

PL

napięciowy współczynnik rezystancji; pomiary rezystancji; wzorce rezystancji; wzorcowanie

EN

voltage coefficient of resistance; resistance measurements; resistance standards; calibration

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 88, nr 11b
• Strony: 196--198
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., wykr., wz.

Twórcy

autor

Krawczyk K.

• Politechnika Wrocławska, Instytut Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii

Bibliografia

• [1] Jeckelmann B., Jeanneret B., The quantum Hall effect as an electrical resistance standard, Measurement Science and Technology, vol. 14 (2003), 1229-1236
• [2] Lisowski M., Krawczyk K., Przekazywanie jednostki rezystancji od wzorca opartego na kwantowym efekcie Halla do wysokoomowych rezystorów wzorcowych, Pomiary Automatyka Kontrola, vol. 53 (2007), nr 9, 88-91
• [3] Lisowski M., Krawczyk K., Dudek E., Mosiądz M., System przekazywania jednostki rezystancji od wzorca pierwotnego QHR do wzorców 100 TΩ oparty na transferach Hamona, Pomiary Automatyka Kontrola, vol. 56 (2010), nr 11, 1290-1293
• [4] Dudek E., Mosiądz M., Orzepowski M., Wzorce wielkości elektrycznych oparte na zjawiskach kwantowych, Biuletyn Głównego Urzędu Miar, Nr 3(14), (2009), 3-16
• [5] Lisowski M., Krawczyk K., Analiza wpływu rezystancji izolacji na dokładność wysokoomowych transferów Hamona, Przegląd Elektrotechniczny, nr 2 (2009), 75-78
• [6] Krawczyk K., Wzorcowanie rezystorów wzorcowych o wysokich wartościach rezystancji za pośrednictwem transferów Hamona, Praca Doktorska, Wydział Elektryczny Pol. Wrocławskiej, Wrocław 2011
• [7] Elmquist R.E., Jarrett D.G., Jones G.R., Marlin E.K., Shields S.H., Dziuba R.F., NIST Measurement Service for DC Standard Resistors, National Institute of Standards and Technology, Technical Note 1458, (2003)
• [8] Domańska-Myśliwiec D., Mosiądz M., Snopek L., Od kwantowego efektu Halla do rezystora wzorcowego – system przekazywania jednostki miary, Pomiary Automatyka Kontrola nr 9 (2007), 78-81
• [9] Measurement International, 6000B Automated High Resistance Bridge Datasheet, www.mintl.com, 2012
• [10] Agilent, Agilent 3458A Multimeter Data Sheet, www.agilent.com, 2012